[發明專利]一種高分辨率掃描合成孔徑雷達自聚焦處理方法和裝置

在審

• 申請號: 201410271270.6
• 申請日: 2014-06-17
• 公開（公告）號: CN104049254A
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發明（設計）人: 李寧;王宇;鄧云凱;張志敏;龔小冬;劉亞波
• 申請（專利權）人: 中國科學院電子學研究所
• 主分類號: G01S13/90
• 分類號: G01S13/90;G01S7/02
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 張穎玲;王黎延

1.一種高分辨率掃描合成孔徑雷達自聚焦處理方法，其特征在于，所述方法包括：

對每個子測繪帶的ScanSAR數據進行子孔徑劃分；

分別對每個子孔徑進行相位誤差估計；

將獲得的每個子孔徑的相位誤差進行相位誤差拼接，獲得子測繪帶全孔徑相位誤差；

對每個子測繪帶的ScanSAR數據進行全孔徑相位誤差校正和方位向壓縮。

2.根據權利要求1所述方法，其特征在于，所述ScanSAR數據為距離向壓縮而方位向未壓縮的ScanSAR數據。

3.根據權利要求1所述方法，其特征在于，所述對每個子測繪帶的ScanSAR數據進行子孔徑劃分包括：

按照相鄰子孔徑間存在一個burst的數據重疊的方式對每個子測繪帶的ScanSAR數據進行子孔徑劃分。

4.根據權利要求1所述方法，其特征在于，所述分別對每個子孔徑進行相位誤差估計包括：

分別去除每個子孔徑中的空白數據部分，提取出每個子孔徑中的burst數據進行拼接；

對拼接后的數據利用PGA的處理方法進行子孔徑相位梯度估計；

對獲得的子孔徑相位梯度進行補零和積分處理，獲得與原子孔徑相同數據長度的相位誤差。

5.根據權利要求1所述方法，其特征在于，所述將獲得的每個子孔徑的相位誤差進行相位誤差拼接，獲得子測繪帶全孔徑相位誤差包括：

利用同一測繪帶的子孔徑重疊特性實現子孔徑相位誤差的拼接，獲得子測繪帶全孔徑相位誤差。

6.一種高分辨率掃描合成孔徑雷達自聚焦裝置，其特征在于，所述裝置包括子孔徑劃分模塊、相位誤差估計模塊、相位誤差拼接模塊、誤差校正壓縮模塊，其中，

所述子孔徑劃分模塊，用于對每個子測繪帶的ScanSAR數據進行子孔徑劃分；

所述相位誤差估計模塊，用于分別對每個子孔徑進行相位誤差估計；

所述相位誤差拼接模塊，用于將獲得的每個子孔徑的相位誤差進行相位誤差拼接，獲得子測繪帶全孔徑相位誤差；

所述誤差校正壓縮模塊，用于對每個子測繪帶的ScanSAR數據進行全孔徑相位誤差校正和方位向壓縮。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述子孔徑劃分模塊對每個子測繪帶的ScanSAR數據進行子孔徑劃分包括：

所述子孔徑劃分模塊按照相鄰子孔徑間存在一個burst的數據重疊的方式對每個子測繪帶的ScanSAR數據進行子孔徑劃分。

8.根據權利要求6所述裝置，其特征在于，所述相位誤差拼接模塊分別對每個子孔徑進行相位誤差估計包括：

所述相位誤差拼接模塊分別去除每個子孔徑中的空白數據部分，提取出每個子孔徑中的burst數據進行拼接；

對拼接后的數據利用PGA的處理方法進行子孔徑相位梯度估計；

對獲得的子孔徑相位梯度進行補零和積分處理，獲得與原子孔徑相同數據長度的相位誤差。

9.根據權利要求6所述裝置，其特征在于，所述相位誤差拼接模塊將獲得的每個子孔徑的相位誤差進行相位誤差拼接，獲得子測繪帶全孔徑相位誤差包括：

所述相位誤差拼接模塊利用同一測繪帶的子孔徑重疊特性實現子孔徑相位誤差的拼接，獲得子測繪帶全孔徑相位誤差。