[發(fā)明專利]手持式屏蔽效能檢測(cè)儀在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410270861.1 | 申請(qǐng)日: | 2014-06-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104101800A | 公開(公告)日: | 2014-10-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李立嘉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京大澤科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京高文律師事務(wù)所 11359 | 代理人: | 徐江華 |
| 地址: | 100027 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 手持 屏蔽 效能 檢測(cè) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種對(duì)屏蔽體進(jìn)行屏蔽效果檢測(cè)的儀器,尤其是涉及一種手持式屏蔽效能檢測(cè)儀。
背景技術(shù)
自上世紀(jì)九十年代海灣戰(zhàn)爭(zhēng)以來,各國(guó)普遍對(duì)信息安全、信息化戰(zhàn)爭(zhēng)需求都予以高度重視。我國(guó)各有關(guān)方面也一直在密切關(guān)注,幾十年來全國(guó)各機(jī)要系統(tǒng),涉密單位配備了大量屏蔽室,各野戰(zhàn)部隊(duì)配備了大量的電磁屏蔽方艙,這些設(shè)施對(duì)保障我國(guó)的信息安全,打好信息化局部戰(zhàn)爭(zhēng)發(fā)揮了重要作用。
但是隨著時(shí)間的推移,各類屏蔽室屏蔽性能開始下降,現(xiàn)有的檢測(cè)制度不能保證其屏蔽性能始終處于安全范圍,用戶需要有一套自檢設(shè)備和規(guī)程來時(shí)時(shí)保障屏蔽室的屏蔽性能一直處于安全范圍。各野戰(zhàn)部隊(duì)使用的通訊指揮屏蔽方艙由于使用條件惡劣,屏蔽效能指標(biāo)下降問題更加嚴(yán)重,據(jù)有關(guān)單位2010年9月對(duì)1986年—2008年產(chǎn)十四種車型總計(jì)31輛方艙進(jìn)行屏效測(cè)試(結(jié)果附后),屏效指標(biāo)全部不合格,性能指標(biāo)下降一半以上(含一半的)占80%以上。
由于沒有統(tǒng)一規(guī)范的檢測(cè)保障設(shè)備、檢測(cè)保障方法、檢測(cè)保障制度,使用者對(duì)這項(xiàng)看不見、摸不著的性能指標(biāo)無法確認(rèn)、無法保障,甚至很多使用者根本就不知道它使用的屏蔽方艙的屏蔽性能應(yīng)該是多少?現(xiàn)在是多少?屏蔽指標(biāo)降到多少就不能滿足作戰(zhàn)通訊指揮的要求了。這幾個(gè)不知道比實(shí)際產(chǎn)品的性能下降更危險(xiǎn)、更可怕,也急需要一套能自檢的低價(jià)便攜的屏效檢測(cè)設(shè)備。幾年來,多家單位都在尋找解決方案,但至今尚無結(jié)果,需求十分迫切。
要解決這個(gè)問題,設(shè)備必須同時(shí)滿足如下幾個(gè)條件:操作簡(jiǎn)單,非專業(yè)人員可完成屏效檢測(cè);測(cè)量結(jié)果可靠,能滿足實(shí)際測(cè)量需求,重復(fù)性好;實(shí)現(xiàn)測(cè)量結(jié)果既“定量”又“定點(diǎn)”,以方便找出問題、解決問題;體積小、重量輕、易攜帶、適應(yīng)性強(qiáng);價(jià)格低、易推廣。
現(xiàn)有屏效檢測(cè)產(chǎn)品體積較大、價(jià)格較貴、操作復(fù)雜是專為各類屏蔽體屏效驗(yàn)收,定量檢測(cè)的專用產(chǎn)品,可以“定量”但不能“定點(diǎn)”不能解決上述問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種手持式屏蔽效能檢測(cè)儀,解決了屏蔽室和屏蔽方艙日常屏效檢測(cè)性能維護(hù)的問題,其技術(shù)方案如下所述:
一種手持式屏蔽效能檢測(cè)儀,包括發(fā)出脈沖信號(hào)的發(fā)射機(jī)、接收脈沖信號(hào)的接收機(jī)和射頻天線裝置,所述射頻天線裝置分別安裝在發(fā)射機(jī)和接收機(jī)上;
所述發(fā)射機(jī)包括發(fā)射微處理器,與發(fā)射微處理器相連接的發(fā)射開關(guān)、顯示裝置、射頻信號(hào)發(fā)射芯片;所述接收機(jī)包括接收微處理器,與接收微處理器相連接的射頻信號(hào)接收芯片、顯示裝置、接收開關(guān);
所述射頻信號(hào)發(fā)射芯片和射頻信號(hào)接收芯片采用CC1101芯片。
所述發(fā)射微處理器和接收微處理器采用MCU芯片。
所述射頻信號(hào)發(fā)射芯片還包括AD9851芯片,所述AD9851芯片和CC1101芯片都與基準(zhǔn)頻率源相連接。
所述射頻天線裝置為磁場(chǎng)天線或者電場(chǎng)天線,包括LC諧振電路。所述發(fā)射機(jī)發(fā)出的脈沖信號(hào)頻率為14kHz、434MHz、915MHz和150kHz。
所述射頻信號(hào)接收芯片還包括與CC1101芯片相連接的對(duì)數(shù)放大器AD8310芯片。
所述發(fā)射機(jī)在射頻天線裝置和CC1101芯片之間還包括放大器和衰減器。
所述顯示裝置采用LCD顯示屏。
所述發(fā)射機(jī)和接收機(jī)都設(shè)置有內(nèi)置電源,所述內(nèi)置電源采用充電電池。
所述發(fā)射開關(guān)和接收開關(guān)用于控制脈沖信號(hào)的頻率選擇。
所述手持式屏蔽效能檢測(cè)儀是國(guó)內(nèi)首套小型化、數(shù)字化屏效檢測(cè)設(shè)備,首次采用全數(shù)字化方案解決發(fā)射、接收、屏效測(cè)量,解決了屏效測(cè)量中既“定量”又“定點(diǎn)”的測(cè)量要求,為屏蔽室和屏蔽方艙的使用者在日常屏效測(cè)量中發(fā)現(xiàn)問題、解決問題提供有力武器,并且解決了磁場(chǎng)收、發(fā)天線的小型化和互換問題、180°翻轉(zhuǎn)問題,引入測(cè)量誤差小于±1dB。
所述手持式屏蔽效能檢測(cè)儀主要用于各涉密單位的屏蔽室屏蔽效能的日常性能檢測(cè)和性能維護(hù)。尤其是對(duì)各野戰(zhàn)部隊(duì)屏蔽方艙屏蔽效能的日常性能檢測(cè)和性能維護(hù),是為屏蔽室或屏蔽方艙的使用者隨時(shí)掌握其屏蔽性能指標(biāo)而量身訂制的專用產(chǎn)品,特別適合那些需要時(shí)時(shí)掌握自己使用的屏蔽室或屏蔽方艙的屏蔽性能指標(biāo)的部門和單位使用,如全軍涉密系統(tǒng)、國(guó)保密系統(tǒng)、中辦涉密系統(tǒng)、武警涉密系統(tǒng)、各大集團(tuán)軍的通信指揮系統(tǒng)、海軍、空軍、二炮等部隊(duì)的通信指揮系統(tǒng)等。凡具有涉密屏蔽室和通信指揮方艙的單位都需要一套完整的自我檢測(cè)制度、方法和手段,都需要配備該設(shè)備。而對(duì)涉密單位的信息安全保障、對(duì)部隊(duì)打勝?gòu)?fù)雜電磁環(huán)境下的局部戰(zhàn)爭(zhēng)而言,將具有極高的政治意義、軍事意義和巨大的社會(huì)效益。
附圖說明
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 通過子系統(tǒng)效能基準(zhǔn)發(fā)生器進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試的方法
- 電子裝置、效能分類系統(tǒng)與方法、電壓自動(dòng)校正系統(tǒng)
- 一種用于評(píng)估防護(hù)工程綜合防護(hù)效能的數(shù)學(xué)計(jì)算模型
- 一種磁場(chǎng)屏蔽效能預(yù)測(cè)方法及系統(tǒng)
- 裝備系統(tǒng)的作戰(zhàn)效能評(píng)估方法、裝置和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種效能評(píng)估方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種基于PCM-TOPSIS法的導(dǎo)彈系統(tǒng)效能評(píng)估方法
- 公共資源交易效能評(píng)估方法、裝置、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 基于多維度模型的算法效能評(píng)估方法
- 效能數(shù)據(jù)的處理方法、裝置及電子設(shè)備
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





