[發明專利]一種密封件直徑參數測量裝置和測量方法

有效

• 申請號: 201410270613.7
• 申請日: 2014-06-17
• 公開（公告）號: CN104019756B
• 公開（公告）日: 2017-09-29
• 發明（設計）人: 雷志勇;高俊釵;王澤民;李翰山;李靜;雷鳴
• 申請（專利權）人: 西安工業大學
• 主分類號: G01B11/08
• 分類號: G01B11/08;G01B11/12;G01B11/24
• 代理公司: 北京商專永信知識產權代理事務所(普通合伙)11400
• 代理人: 葛強,鄔玥

1.一種密封件直徑參數測量裝置，其包括密封件直徑參數測量臺(1)、處理計算機(2)以及控制柜(3)，其中所述密封件直徑參數測量臺(1)安裝在控制柜(3)內部上側，密封件直徑參數測量臺(1)包括面陣相機(4)、供應轉接板(13)、光學投影屏(6)以及撥桿傳輸轉臺，其特征在于：面陣相機(4)位于密封件直徑參數測量臺(1)內部上側并由支架(5)支撐，其配置地用于采集密封件在光學投影屏上的成像，支架(5)固定在密封件直徑參數測量臺(1)的一側內壁上，該面陣相機(4)與處理計算機(2)相連接，供應轉接板(13)固定在密封件直徑參數測量臺(1)的另一側內壁上并且傾斜放置，光學投影屏(6)固定在密封件直徑參數測量臺(1)的側壁上并位于面陣相機(4)的正下方，撥桿傳輸轉臺位于供應轉接板(13)和光學投影屏(6)的下方,其中,撥桿傳輸轉臺包括第一基板架(8)、第二基板架(39)、撥桿(7)、內嵌玻璃板(38)、光電傳感器、轉軸(42)、固定圈(43)和電機(14)，其中轉軸(42)與電機(14)連接，第一基板架(8)、第二基板架(39)、固定圈(43)、撥桿(7)通過轉軸(42)連接在一起，第一基板架(8)為正方形且為環狀，第二基板架(39)為十字形，其內嵌在第一基板架(8)之中且其各端均與第一基板架(8)內環邊緣固定連接，第一基板架(8)的厚度大于第二基板架(39)的厚度，內嵌玻璃板(38)由三塊長方形玻璃板拼接而成并置于第二基板架(39)之上且內嵌卡在第一基板架(8)之內，固定圈(43)和撥桿(7)位于內嵌玻璃板(38)之上，每個撥桿(7)的一端與轉軸(42)連接，另一端與固定圈(43)相連接。

2.根據權利要求1所述的密封件直徑參數測量裝置，其特征在于：每個撥桿(7)包括直線段和折線段，其中折線段為V字型，密封件(20)置于撥桿(7)的V字型段的凹陷處，撥桿(7)在第一基板架(8)和第二基板架(39)上沿環形分布，相鄰撥桿(7)之間角度固定不變，此外，電機(14)由電機驅動控制器(11)控制轉速，這樣電機(14)能夠控制轉軸(42)帶動撥桿(7)旋轉，從而撥桿(7)能夠帶動并控制直徑不同的密封件(20)沿圓弧運動。

3.根據權利要求2所述的密封件直徑參數測量裝置，其特征在于：撥桿傳輸轉臺還包括光電傳感器，該光電傳感器固定在第一基板架(8)和第二基板架(39)的一側，并且位于撥桿(7)遠端在旋轉時形成的圓周軌跡上，該光電傳感器用于當撥桿(7)經過該光電傳感器時產生光電脈沖。

4.根據權利要求3所述的密封件直徑參數測量裝置，其特征在于：在第一基板架(8)內并由第二基板架(39)分割而成的區域分為密封件入口工位區域(19)、密封件測量工位區域(17)、不合格密封件剔除工位區域(22)以及合格密封件收集工位區域(21)，其中，內嵌玻璃板(38)中的兩塊玻璃板覆蓋密封件入口工位區域(19)和密封件測量工位區域(17)，內嵌玻璃板(38)中的另一塊玻璃板在不合格密封件剔除工位區域(22)和合格密封件收集工位區域(21)上往復運動，上述四個區域沿轉軸逆時針順序依次分布在第一基板架(8)環狀內的四個角落，上述順序對應密封件(20)在第一基板架(8)內的運動順序，其中在密封件測量工位區域(17)上可放置標定網格板，在不合格密封件剔除工位區域(22)的正下方設有不合格密封件收集箱(15)，在合格密封件收集工位區域(21)的正下方設有合格密封件收集箱(16)。

5.根據權利要求4所述的密封件直徑參數測量裝置，其特征在于：該密封件直徑參數測量臺(1)還包括往復運動電機(23)、往復運動電機控制器(12)以及連桿(24、25)，通過往復運動電機控制器(12)控制往復運動電機(23)，從而帶動連桿(24、25)移動內嵌玻璃板(38)。

6.根據權利要求5所述的密封件直徑參數測量裝置，其特征在于：密封件直徑參數測量臺(1)還包括激光平行光管(9)，其位于第一基板架(8)和第二基板架(39)的下方并且由光管支架(10)支撐，該光管支架(10)固定在密封件直徑參數測量臺(1)的側壁上，使得激光平行光管(9)與光學投影屏(6)相對，這樣，位于內嵌玻璃板(38)上密封件(20)的影像能通過激光平行光管(9)發射的平行光投影到光學投影屏(6)上，面陣相機(4)對在光學投影屏(6)上的影像進行成像。