[發明專利]一種光纖延遲量的溫度特性的測量裝置及測量方法

在審

• 申請號: 201410267564.1
• 申請日: 2014-06-16
• 公開（公告）號: CN104198158A
• 公開（公告）日: 2014-12-10
• 發明（設計）人: 肖春;龔心弦;王銳
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第二十三研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236
• 代理人: 胡晶

1.一種光纖延遲量的溫度特性的測量裝置，包括光源、1×2分路器、待測光纖、參考光纖、溫度箱、光電轉換器以及示波器；所述待測光纖置于溫度箱內，其兩端伸出，所述光源與1×2分路器輸入端相連，所述1×2分路器輸出纖分別與待測光纖和參考光纖相連，所述待測光纖和參考光纖的另一端分別與兩個光電轉換器相連，所述兩個光電轉換器的電信號輸出至示波器上，所述1×2分路器為等額分配。

2.根據權利要求1所述的光纖延遲量的溫度特性的測量裝置，其特征在于：所述示波器為數字示波器。

3.根據權利要求1所述的光纖延遲量的溫度特性的測量裝置，其特征在于：所述示波器為自帶測量功能從波形上獲取光纖延遲量。

4.根據權利要求1所述的光纖延遲量的溫度特性的測量裝置，其特征在于：所述參考光纖置于室溫環境中。

5.根據權利要求1所述的光纖延遲量的溫度特性的測量裝置，其特征在于：所述溫度箱的設定溫度范圍為待測光纖的工作溫度范圍-55℃～85℃。

6.根據權利要求1所述的光纖延遲量的溫度特性的測量裝置，其特征在于：所述待測光纖與參考光纖波導結構與長度大致相等。

7.一種光纖延遲量的溫度特性的測量方法，該測量方法包含下述步驟：

(1)提供如權利要求1～6中任一項所述的光纖延遲量的溫度特性的測量裝置；

(2)將待測光纖放入溫度箱內，且待測光纖兩端伸出溫度箱，待測光纖兩端分別與一1×2分路器及光電轉換器連接，將參考光纖置于室溫環境中，所述參考光纖兩端分別與1×2分路器的另一端及另一光電轉換器連接；所述待測光纖與參考光纖波導結構與長度大致相等，所述溫度箱的設定溫度范圍為待測光纖的工作溫度范圍；

(3)開啟溫度箱并設定所需溫度T₁，待溫度箱的溫度達到T₁時將光源、光電轉換器與示波器開啟并采集延遲數據，設定光源的輸出波長、輸出功率，調節示波器的顯示精度以最大程度保證延遲量讀數的精度；觀察待測光纖的延遲量數值，當該數值穩定后測得待測光纖延遲量測量值，記為j₁，參考光纖延遲量測量值，記為k₁，計算出溫度T₁時待測光纖與參考光纖的延遲量差值的延遲量差t₁，t₁＝j₁-k₁；(3)將待測光纖的溫度箱的溫度設置為T₂，待測光纖新的延遲量穩定后，測得待測光纖延遲量測量值，記為j₂，參考光纖延遲量測量值，記為k₂，計算出溫度T₂時待測光纖與參考光纖的延遲量差值的延遲量差t₂，t₂＝j₂－k₂；

(4)計算延遲變化量＝(t₂－t₁)/(L×ΔT)，L為待測光纖長度，ΔT為溫度變化值T₁－T₂。

8.根據權利要求7所述的光纖延遲量的溫度特性的測量方法，其特征在于：所述待測光纖延遲量變化量表征的是利用上述方法得出的對應溫度區間的平均值。