[發(fā)明專利]一種投影機(jī)使用壽命的檢測(cè)方法及其裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410267516.2
• 申請(qǐng)日: 2014-06-16
• 公開（公告）號(hào): CN104019962A
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 齊翔;金大偉;孫進(jìn)康;王少敏;何國遠(yuǎn);齊羽心;孔寧
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 南京融教科技有限公司
• 主分類號(hào): G01M11/00
• 分類號(hào): G01M11/00;G01M11/02
• 代理公司: 南京瑞弘專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32249
• 代理人: 楊曉玲

1.一種投影儀燈泡亮度檢測(cè)方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟1)，將CCD/CMOS攝像頭配置為視頻模式，關(guān)閉所有光學(xué)補(bǔ)償功能；

步驟2)，通過投影儀將特征圖像1投影到屏幕上后，所述攝像頭獲取特征圖像1的圖片信息，然后從所述特征圖像1的圖片信息中讀取圖像光強(qiáng)測(cè)量值xb；

步驟3)，通過投影儀將特征圖像2投影到屏幕上后，所述攝像頭獲取特征圖像2的圖片信息，然后從所述特征圖像2的圖片信息中讀取圖像光強(qiáng)測(cè)量值xa；

步驟4)，根據(jù)獲取的所述光強(qiáng)測(cè)量值xb和光強(qiáng)測(cè)量值xa，計(jì)算投影儀當(dāng)前燈泡亮度值yc，計(jì)算式如下：

yc=(Rf-Ra)·(Lb-La)·(xb-xa)(Rf-xa)·(Rb-Ra)*5%+yl*95%]]>

其中，預(yù)先將一已知光源光強(qiáng)的特征圖像發(fā)生器作為校準(zhǔn)信號(hào)投影到屏幕上，Rf為所述攝像頭檢測(cè)亮度達(dá)到度飽和值時(shí)通過照度儀測(cè)得的光強(qiáng)值，Ra為特征圖像發(fā)生器投影特征圖像2到屏幕上時(shí)通過攝像頭得到的光強(qiáng)測(cè)量值，La為特征圖像發(fā)生器投影特征圖像2到屏幕上時(shí)通過照度儀測(cè)得的屏幕光強(qiáng)值，Rb為特征圖像發(fā)生器投影特征圖像1到屏幕上時(shí)通過攝像頭得到的光強(qiáng)測(cè)量值，Lb為特征圖像發(fā)生器投影特征圖像1到屏幕上時(shí)通過照度儀測(cè)得的屏幕光強(qiáng)值，yl為該投影儀燈泡亮度值上一次測(cè)量值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種投影儀燈泡亮度檢測(cè)方法，其特征在于：所述特征圖像1為標(biāo)準(zhǔn)白屏圖像，所述特征圖像2為標(biāo)準(zhǔn)黑屏圖像。

3.一種基于權(quán)利要求1所述投影儀燈泡亮度檢測(cè)方法的投影儀使用壽命的檢測(cè)方法，其特征在于：包括如下具體步驟：

步驟1)，通過所述投影儀燈泡亮度檢測(cè)方法得到當(dāng)前投影儀燈泡亮度值yc；

步驟2)，讀取投影儀的燈泡使用時(shí)間tb、濾網(wǎng)使用時(shí)間ts以及投影儀溫度T；

步驟3)，投影儀溫度判定：若所述投影儀溫度T＞50℃，則跳轉(zhuǎn)到步驟(4)；若所述投影儀溫度T≤50℃，則跳轉(zhuǎn)到步驟(5)；

步驟4)，濾網(wǎng)使用時(shí)間判定：若所述濾網(wǎng)使用時(shí)間ts＞500h，則輸出清洗濾網(wǎng)信號(hào)；若所述濾網(wǎng)使用時(shí)間ts≤500h，則跳轉(zhuǎn)到步驟(5)；

步驟5)，投影儀燈泡亮度判定：若所述當(dāng)前投影儀燈泡亮度值yc＜150lux，則跳轉(zhuǎn)到步驟6)；若所述當(dāng)前投影儀燈泡亮度值yc≥150lux，則輸出投影儀正常使用信號(hào)；

步驟6)，投影儀的燈泡使用時(shí)間判定：若所述燈泡使用時(shí)間tb＜1000h，則輸出檢查投影幕布或清洗投影儀光路信號(hào)；若所述燈泡使用時(shí)間tb≥1500h，則輸出更換燈泡信號(hào)。

4.一種基于權(quán)利要求3所述投影儀使用壽命的檢測(cè)方法的檢測(cè)裝置，其特征在于：包括CCD/CMOS攝像頭、FIFO芯片以及MCU微控單元；所述攝像頭用于分別獲取投影儀投影到屏幕上的特征圖像1和特征圖像2的圖像信息，并傳輸至所述FIFO芯片；所述MCU微控單元連接FIFO芯片以及投影儀，用于讀取所述FIFO芯片中存儲(chǔ)的兩幅特征圖像信息、投影儀的燈泡使用時(shí)間tb、投影儀的濾網(wǎng)使用時(shí)間ts以及投影儀溫度T后根據(jù)所述投影儀使用壽命的檢測(cè)方法進(jìn)行運(yùn)算處理，輸出投影儀狀態(tài)信號(hào)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測(cè)裝置，其特征在于：還包括上位機(jī)以及用于連接所述上位機(jī)和MCU微控單元的數(shù)據(jù)串行接口和總線串行接口。