[發(fā)明專利]一種可控自形成Cu3Ge/TiN雙層擴散阻擋層制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410254176.X | 申請日: | 2014-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN104022075A | 公開(公告)日: | 2014-09-03 |
| 發(fā)明(設計)人: | 劉波;張彥坡;林黎蔚 | 申請(專利權)人: | 四川大學 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610065 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 可控 形成 cu sub ge tin 雙層 擴散 阻擋 制備 方法 | ||
1.一種可控自形成Cu3Ge/TiN雙層擴散阻擋層,先通過在常溫下利用氣相物理沉積技術獲取Cu(Ge,Ti)合金,隨后對其在N2氣氛下控溫退火處理自反應合成Cu3Ge/TiN雙層擴散阻擋層,其特征在于包含以下步驟:
a、清洗襯底材料:
將襯底材料Si(111)基體依次放入丙酮、無水乙醇中分別進行30分鐘超聲波清洗,干燥后放入真空室內,抽真空度至4.5×10-4?Pa;
b、沉積前對襯底的處理:
保持真空室真空為4.5×10-4?Pa條件下,采用偏壓反濺射清洗10分鐘、預濺射清洗5分鐘,去除Si襯底和靶材表面雜質;反濺射功率為100-200?W;預濺射功率為100-200?W;反濺射偏壓和預濺射偏壓分別為-500?V、-150?V;反濺射和預濺射氣體均為Ar;工作真空度為1.0-3.0?Pa;
c、沉積Cu(Ge,Ti)合金層:
采用氣相物理共濺射技術,在步驟b得到的Si(111)基體上使用磁控Cu靶、磁控Ge靶和直流Ti靶共濺射沉積Cu(Ge,Ti)合金層,沉積時間30-40秒;磁控Cu靶濺射功率為120-150?W;磁控Ge靶的濺射功率為100-120?W;直流Ti靶濺射功率為80-100?W;偏壓為-100到-300?V之間;工作氣氛Ar,Ar流量為180?標準立方厘米/分鐘(sccm);工作真空度為0.40-0.50?Pa;沉積完成后關閉磁控Cu靶、磁控Ge靶和直流Ti靶,關閉氣體Ar,恢復反應室真空為4.5×10-4?Pa,冷卻后出爐樣品即為Cu(Ge,Ti)合金層;
d、控溫N2氣氛退火反應自形成Cu3Ge/TiN雙層阻擋層:
????采用真空退火爐退火處理,本底真空為4.5×10-3?Pa,隨后退火爐腔內通入N2氣,N2氣流量為260?標準立方厘米/分鐘(sccm),設置在300?℃和400?℃段各保溫10分鐘,升溫速率為5?℃/秒;退火處理后隨爐冷卻,即能獲得自形成Cu3Ge/TiN雙層擴散阻擋層。
2.根據權利要求1所述自形成阻擋層用Cu(Ge,Ti)合金制備工藝,其特征在于:所述磁控Cu靶、磁控Ge靶和直流Ti靶純度均為99.99%。
3.根據權利要求1所述自形成阻擋層用Cu(Ge,Ti)合金制備工藝,其特征在于:采用磁控Cu靶、磁控Ge靶和直流Ti靶共濺射沉積的方法,磁控Cu靶、磁控Ge靶與真空腔中心軸線方向呈45?夾角,直流Ti靶與真空腔中心軸線方向一致。
4.根據權利要求1所述自形成阻擋層Cu(Ge,Ti)合金制備工藝,其特征在于:沉積過程中通過調節(jié)各磁控靶及直流靶的功率來控制Cu(Ge,Ti)合金中各組元的成分,磁控Cu靶濺射功率為150?W,磁控Ge靶濺射功率為120?W,直流Ti靶濺射功率為80?W。
5.根據權利要求1所述對Cu?(Ge,Ti)合金控溫退火反應,自形成Cu3Ge/TiN雙層阻擋層工藝,其特征在于:步驟d中真空退火爐本底真空為4.5×10-3?Pa,隨后退火爐通入N2氣,?N2流量為260?標準立方厘米/分鐘(sccm),?設置在300?℃和400?℃段各保溫10分鐘,升溫速率為5?℃/秒;退火處理后隨爐自然冷卻,即能獲得自形成Cu3Ge/TiN雙層擴散阻擋層。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
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