[發(fā)明專利]一種具有氫氣敏感效應(yīng)的二硫化鉬/硅異質(zhì)薄膜器件及其制備方法和應(yīng)用在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410254110.0 | 申請日: | 2014-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN104049022A | 公開(公告)日: | 2014-09-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 郝蘭眾;劉云杰;高偉;于濂清 | 申請(專利權(quán))人: | 中國石油大學(xué)(華東) |
| 主分類號: | G01N27/414 | 分類號: | G01N27/414 |
| 代理公司: | 濟南舜源專利事務(wù)所有限公司 37205 | 代理人: | 邵朋程 |
| 地址: | 266555 山東省*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 具有 氫氣 敏感 效應(yīng) 二硫化鉬 硅異質(zhì) 薄膜 器件 及其 制備 方法 應(yīng)用 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于納米半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,涉及半導(dǎo)體薄膜制備和器件加工技術(shù),具體地說是涉及一種具有氫氣敏感效應(yīng)的二硫化鉬/硅異質(zhì)薄膜器件及其制備方法和應(yīng)用。
背景技術(shù)
作為一種還原性氣體和載氣,H2已被廣泛應(yīng)用于石化、電子、醫(yī)療、航空等領(lǐng)域。同時,H2作為新型高效清潔能源,也已引起了廣泛關(guān)注和大量研究。但氫氣分子很小,在生產(chǎn)、傳輸和使用過程中極易發(fā)生泄漏。當(dāng)空氣中H2含量達(dá)5%~75%時,在明火條件下即可發(fā)生劇烈爆炸。因此,對空氣和特定環(huán)境中的氫氣含量進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的原位測量,具有重大的應(yīng)用價值,同時也具有重要的學(xué)術(shù)意義。現(xiàn)有的研究表明,H2傳感器發(fā)展的關(guān)鍵在于氫敏材料的研究和制備,氫敏材料的敏感響應(yīng)性和重現(xiàn)性決定著H2傳感器的工作性能。近年來,國內(nèi)外對H2傳感器的研制主要集中于半導(dǎo)體型、熱電型、光學(xué)型、電化學(xué)型等H2傳感器。在各種類型的H2傳感器中,半導(dǎo)體型H2傳感器(包括金屬氧化物半導(dǎo)體型和半導(dǎo)體肖特基型)具有制備工藝簡單、響應(yīng)時間短、重復(fù)性好等諸多優(yōu)點,現(xiàn)已成為應(yīng)用最為廣泛的H2傳感器之一。但同時現(xiàn)有的半導(dǎo)體型H2傳感器仍然存在著一些不足之處制約著它的發(fā)展:金屬氧化物半導(dǎo)體型H2傳感器需要在有氧條件下工作,這大大限制了它的使用范圍;肖特基型H2傳感器則需要貴金屬(Pt、Pd等)載體,這導(dǎo)致其成本大幅增加。為此,各種新型半導(dǎo)體材料不斷被應(yīng)用于新型H2傳感器的研制,其中MoS2材料更值得關(guān)注。
MoS2,通常被稱為輝鉬,在自然界中含量豐富。據(jù)統(tǒng)計,全球鉬儲量約為1900萬噸,而我國的鉬礦資源也相當(dāng)豐富,總儲量約為800多萬噸,僅次于美國居世界第2位。MoS2是典型的層狀結(jié)構(gòu),每個單元均是S-Mo-S的“三明治”結(jié)構(gòu)。層與層之間以較弱的范德華力相結(jié)合,具有較大的空隙;層內(nèi)則以共價鍵緊密結(jié)合在一起,每個Mo原子被六個S原子包圍,呈三角棱柱狀,暴露出很多Mo-S棱面,可作為催化活性和氣體吸附中心。因此,MoS2材料在研制新型氣體傳感器領(lǐng)域存在廣闊的應(yīng)用前景。已報道的理論計算結(jié)果顯示:MoS2容易對H2產(chǎn)生吸附,并導(dǎo)致其電阻發(fā)生明顯變化。這一計算結(jié)果表明,MoS2可用于研制H2傳感器,但目前在國內(nèi)外并無相關(guān)試驗結(jié)果的報道。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種具有氫氣敏感效應(yīng)的二硫化鉬/硅異質(zhì)薄膜器件以及該二硫化鉬/硅異質(zhì)薄膜器件的制備方法和應(yīng)用。
本發(fā)明所采用的技術(shù)解決方案是:
一種具有氫氣敏感效應(yīng)的二硫化鉬/硅異質(zhì)薄膜器件,包括Si襯底與MoS2薄膜層,MoS2薄膜層設(shè)置在Si襯底表面。
優(yōu)選的,所述Si襯底為p型Si單晶襯底,電阻率為1~10Ωcm-1;所述MoS2薄膜層厚度為30~50nm。
優(yōu)選的,所述Si襯底表面還覆蓋有掩模片,掩模片位于MoS2薄膜層與Si襯底之間。
優(yōu)選的,所述Si襯底與MoS2薄膜層上壓制有金屬電極,金屬電極連接導(dǎo)線。
一種具有氫氣敏感效應(yīng)的二硫化鉬/硅異質(zhì)薄膜器件的制備方法,包括以下步驟:
(1)選取Si襯底,對其進(jìn)行清洗,然后采用化學(xué)腐蝕方法去除清洗后Si襯底表面氧化層;
(2)對去除表面氧化層的Si襯底進(jìn)行干燥,然后覆蓋掩模片;
(3)將覆蓋掩模片的Si襯底放入真空腔,在Ar氣環(huán)境下,采用直流磁控濺射技術(shù),利用電離出的離子轟擊MoS2靶材,在Si襯底表面沉積MoS2薄膜層,制得MoS2/Si異質(zhì)薄膜;
(4)分別在MoS2/Si異質(zhì)薄膜的MoS2薄膜和Si襯底上完成金屬電極的壓制,并引出導(dǎo)線,制得MoS2/Si異質(zhì)薄膜器件。
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