[發(fā)明專利]診斷掃描裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410253011.0
• 申請日: 2014-03-14
• 公開（公告）號: CN104545965B
• 公開（公告）日: 2018-03-27
• 發(fā)明（設計）人: J·R·史密斯阿尼克;C·威爾明;C·麥克法蘭;H-J·米勒;W·斯帕林
• 申請（專利權）人: SKF磁軸承公司;西門子公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所11105
• 代理人: 葛飛

1.一種掃描裝置，包括：

可圍繞旋轉軸旋轉的轉子，其具有中空內部并至少部分地包括磁可滲透材料，

第一凸緣和第二凸緣，其以間隔開的關系連接至所述轉子并從所述轉子徑向向外延伸，所述第一凸緣和第二凸緣中的每一凸緣至少部分地包括磁可滲透材料，

配置為生成可變磁場的第一軸向驅動器，所述第一軸向驅動器固定地置于所述第一凸緣附近但與其間隔開，并配置為在所述轉子的第一軸向方向上磁性地牽引所述第一凸緣，以及

配置為生成可變磁場的第二軸向驅動器，所述第二軸向驅動器固定地置于所述第二凸緣附近但與其間隔開，并配置為在與所述第一軸向方向相反的、所述轉子的第二軸向方向上磁性地牽引所述第二凸緣，

其中所述第一軸向驅動器和第二軸向驅動器均至少基本上置于所述第一凸緣和第二凸緣之間。

2.如權利要求1所述的掃描裝置，其特征在于，所述第一凸緣與所述轉子一體成形且其間無縫，而所述第二凸緣可拆卸地連接至所述轉子。

3.如權利要求1所述的掃描裝置，其特征在于：

所述第一凸緣和第二凸緣為環(huán)形形狀，

所述第一凸緣和第二凸緣至少基本彼此平行地延伸，以及

所述轉子、第一凸緣和第二凸緣一起構成了截面至少基本為U形的轉子組合體。

4.如權利要求3所述的掃描裝置，其特征在于，進一步包括：

固定外殼，其具有安裝凸緣，所述安裝凸緣從所述固定外殼徑向向內延伸至所述第一凸緣和第二凸緣之間的中空空間內，

其中所述第一軸向驅動器連接至最接近所述第一凸緣的、所述安裝凸緣的第一軸向側，以及

所述第二軸向驅動器連接至最接近所述第二凸緣的、所述安裝凸緣的第二軸向側，所述第二軸向側與所述第一軸向側相對。

5.如權利要求4所述的掃描裝置，其特征在于，所述裝置包括：

至少三個第一軸向驅動器，其連接至所述安裝凸緣的所述第一軸向側，并且圍繞所述安裝凸緣的周界彼此近似等距地隔開；以及

至少三個第二軸向驅動器，其連接至所述安裝凸緣的所述第二軸向側，并且圍繞所述安裝凸緣的周界彼此近似等距地隔開。

6.如權利要求4所述的掃描裝置，其特征在于，進一步包括：

至少一個托架，其連接至所述轉子和/或第一凸緣，并且從所述轉子和所述第一凸緣軸向向外延伸，

至少一個第一永磁體，其連接至所述安裝凸緣的所述第一軸向側，并且靠近所述第一凸緣但與之隔開，以及

至少一個第二永磁體，其連接至所述安裝凸緣的所述第二軸向側，并且靠近所述第二凸緣但與之隔開。

7.如權利要求6所述的掃描裝置，其特征在于，所述至少一個托架連接至輻射源或輻射檢測器。

8.如權利要求6所述的掃描裝置，其特征在于，所述至少一個第一永磁體和所述至少一個第二永磁體一起不在所述軸向方向上對所述轉子施加凈力，而是對所述轉子施加平衡或抵消傾斜力的凈轉矩或力矩，所述傾斜力是由所述托架和連接至所述托架并且軸向外置于所述轉子及第一凸緣的任意設備的重量造成的。

9.如權利要求8所述的掃描裝置，其特征在于，在所述固定外殼的垂直方向上，所述至少一個第一永磁體被設置得比所述至少一個第二永磁體高。

10.如權利要求9所述的掃描裝置，其特征在于，進一步包括至少一個鋼制槽形構件，其連接至所述第一永磁體和所述第二永磁體中的至少其中之一。

11.如權利要求4所述的掃描裝置，其特征在于，進一步包括：

至少一個第一緩沖墊，其連接至所述安裝凸緣的所述第一軸向側，以便靠近所述第一凸緣，以及

至少一個第二緩沖墊，其連接至所述安裝凸緣的所述第二軸向側，以便靠近所述第二凸緣。

12.如權利要求11所述的掃描裝置，其特征在于，所述至少一個第一緩沖墊和/或所述至少一個第二緩沖墊為滑動軸承或滑動軸瓦。

13.如權利要求12所述的掃描裝置，其特征在于，所述至少一個第一緩沖墊和/或所述至少一個第二緩沖墊包括耐磨石墨材料。

14.如權利要求11所述的掃描裝置，其特征在于，所述至少一個第一緩沖墊和/或所述至少一個第二緩沖墊具有外軸向面，所述外軸向面與所述安裝凸緣間隔得比連接至所述安裝凸緣的任意其它設備遠。