[發明專利]磁共振測深信號檢測方法

有效

• 申請號: 201410252231.1
• 申請日: 2014-06-09
• 公開（公告）號: CN103995293B
• 公開（公告）日: 2017-02-15
• 發明（設計）人: 王國富;張法全;張海如;葉金才;龐成;韋秦明;王泰麟
• 申請（專利權）人: 桂林電子科技大學
• 主分類號: G01V3/14
• 分類號: G01V3/14
• 代理公司: 桂林市持衡專利商標事務所有限公司45107
• 代理人: 陳躍琳

1.一種磁共振測深信號檢測方法，其特征是，包括如下步驟：

步驟1：令磁共振測深儀發射機關斷時刻為0，每個磁共振測深儀接收機的采樣點相對于磁共振測深儀發射機關斷時間是恒定的，即N個采樣點的采樣時間為T＝(t₁,t₂,…,t_N)；則構建一元線性回歸方程，即

y_i,j＝β_0,i+β_it_j+ε_i???①

式中，y_i,j＝lg(s_i,j)，S_i,j為磁共振測深儀接收機接在每個采樣點采集到的實測數據，令Y_i＝(y_i,1,y_i,2,...,y_i,N)；β_0,i＝lg(E_0,i)，E_0,i為信號特征參數；為時間特征參數；ε_i為干擾量；t_j為采樣時間；

步驟2：根據所構建的一元線性回歸方程，計算β_0,i和β_i的最小二乘估計值，即

β0,i^=y‾i-β^it‾(y‾i=1nΣj=1nyi,j,t‾=1nΣj=1ntj)β^i=Σj=1ntjyi,j-nt‾y‾iΣj=1ntj2-nt‾2]]>???②

步驟3：根據所得β_i和β_0,i的最小二乘估計值，計算各導電層磁共振測深信號分量的兩個未知參數E_0,i和即和

步驟4：計算相關系數的估計值R_i；即

Ri=Σj=1ntjyi,j-nt‾y‾i(Σj=1ntj2-nt‾2)(Σj=1nyi,j2-ny‾i2)]]>???③

步驟5：如果相關系數的估計值R_i>θ，或者數據集Y_i和T中剩余點數n<(1-θ)N，則執行步驟6；如果相關系數的估計值R_i≤θ，則說明一元線性回歸方程的顯著性較低，從當前數據集Y_i中去除誤差較大的數據點，即用當前一元線性回歸方程作為模板，去除距離該模板較遠的數據點，之后返回步驟1；

步驟6：如果相關系數R_i>θ，則一元線性回歸方程的顯著性較好，從當前采樣數據中能提取出有效特征參數E_0,i和如果n<(1-θ)N，則當前采樣環境噪聲較強，采集到的磁共振測深信號無效，需要繼續采集下一周期數據。

2.根據權利要求1所述的一種磁共振測深信號檢測方法，其特征是，所述設定的閾值θ為0.9。