[發明專利]一種確定磁性區地質體產狀要素的方法

無效

• 申請號: 201410248036.1
• 申請日: 2014-06-06
• 公開（公告）號: CN104020506A
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發明（設計）人: 張淑增;戴若丁;于開波;倪凱軍
• 申請（專利權）人: 鞍鋼集團礦業公司
• 主分類號: G01V9/00
• 分類號: G01V9/00
• 代理公司: 鞍山貝爾專利代理有限公司 21223
• 代理人: 顏偉

技術領域

本發明屬于地質測量技術領域，尤其涉及一種確定磁性區地質體產狀要素的方法。

背景技術

地質工作者野外測量地質體構造的產狀要素，隨時隨地的進行。一般情況下都是使用地質羅盤，此法簡單易行，是地質工作者的一項基本技能。但在磁性區或測量磁性體時，比如測量含磁鐵礦物的地質體產狀要素時，由于受到磁場的干擾，磁針往往會被吸住或偏移，用地質羅盤測取的產狀數據嚴重失真，不能利用，在此情況下通常使用“日圭式簡易羅盤”。

“日圭式簡易羅盤”，利用日影方位的定時性原理設計，結構簡單，一般自行制作。使用“日圭式簡易羅盤”，必須獲得工作區內日影方位變化與時間關系的數據資料，同時還要受到諸多因素的限制，如：受測量地點經緯度的控制、日影方位數據每日變化，每半月需要更新重測一次日影方位與時間關系的數據資料，非常繁瑣麻煩，誤差較大；同時將受到測量點的位置、坡向、測量時間、日光強度和天氣的影響，符合使用條件的時間較短，而且野外操作比較困難，“日圭式簡易羅盤”測量時擺放的水平精度又直接影響測量數據的精度。因此使用此法測得的產狀數據精度低、工作效率低下。

發明內容

本發明的目的是提供一種確定磁性區地質體產狀要素的方法，用于測量地質體的面狀、線狀構造產狀要素。利用此法可避開磁性的干擾，克服了使用日圭式簡易羅盤所有的缺陷，提高測量產狀數據的精度和工作效率。

本發明的目的是通過下述方法來實現的：

本發明是一種利用GPS確定磁性區地質體產狀要素的方法,即確定磁性區地質體的走向、傾向、傾角，具體步驟如下：?

1）首先選定地質體產狀測點A，在A點處利用GPS移動定位系統測量A點坐標X1,Y1；

2）在產狀要素走向或傾向的延伸方向線上選定一標志點B,?測量B點坐標X2,Y2；

3)根據A、B兩點的坐標，畫一簡易地理坐標系，在該坐標系上，確定A、B兩點，連接A、B兩點作直線AB，再通過A、B兩點作分別平行于X、Y坐標線的兩直線交與O點，形成一直角三角形OAB，利用三角函數關系式求解α、β中任意一角,參照直線AB方向所在的象限，即可求出AB線的方位角，也就是A點的產狀要素走向或傾向。如果測量的是走向，則根據坐標的方向，確定出具體的傾向，走向與傾向的關系為加或減90°；

4）傾角可仍用地質羅盤測取。

本發明的優點是：有效地克服了日圭式簡易羅盤使用繁瑣，操作較難，受限條件多，精度和工作效率低等缺陷，同時又不受磁場的影響，并且不必調整磁偏角。此法具有易操作，數據精度和作業效率較高等特點。

附圖說明

圖1為本發明的簡易地理坐標系計算圖。

具體實施方式

下面結合附圖進一步說明本發明的具體實施方式。

如1圖所示，圖中示出了某礦體的地理坐標圖。

實施例

本發明是一種利用GPS確定磁性區地質體的產狀要素的方法,具體步驟如下：?

1）地質測量人員首先要選定礦體測點A，該測點的產狀應具有代表性。使用手持GPS移動定位系統（平面精度誤差≤0.5m），測定A點坐標X1,Y1；

2）在產狀要素走向或傾向的延伸方向線上，一般約10～50m選定一標志點B,?測量B點坐標X2,Y2；

3)在簡易地理坐標系上確定A、B兩點，連接A、B兩點作直線AB，再通過A、B兩點坐標位置作分別平行于X、Y坐標線的兩直線并交與O點，形成一直角三角形OAB，利用三角函數關系式求解α、β中任意一角,參照直線AB方向所在的象限，即可求出AB線的方位，也就是A點的產狀要素走向或傾向。

4）傾角可仍用地質羅盤測取。

把A、B兩點的坐標投影到圖紙，連接A、B兩點作直線AB，再通過A、B兩點坐標位置作分別平行于X、Y坐標線的兩直線并交與O點，形成一直角三角形OAB，可使用量角器測量出α、β角度，最終也可得出所測地質體的產狀要素走向或傾向，傾角可仍用地質羅盤測取。

本專利的實施例如下：

1、??????????????計算法

測點A（7150，9300），點B（7110,9330）。

tgβ=（X2-X1）/(Y2-Y1)=－40/30＝－1.3333

β＝－53.13°????（α+β=90°）

走向為270－（－53.13）=323.13°或143.13°，傾向為233.13°或53.13°。

用地質羅盤測出傾角為35°?????