[發明專利]一種雙重調節裝置有效
| 申請號: | 201410244627.1 | 申請日: | 2014-06-04 |
| 公開(公告)號: | CN104091618A | 公開(公告)日: | 2014-10-08 |
| 發明(設計)人: | 柴方茂;樊延超;辛宏偉;徐宏;李志來 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | G12B5/00 | 分類號: | G12B5/00 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人: | 王丹陽 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 雙重 調節 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及空間光學遙感器裝調檢測技術領域,具體涉及一種雙重調節裝置。
背景技術
空間光學遙感器領域中,地面檢測是其整個研制周期中的重要環節,通常地面檢測都需要對檢測設備進行角度如俯仰、扭擺等方向的微轉動以及沿坐標軸方向的微調。一般的調整手段都是采用一對一調整,即一套設備的調節機構是固定的,沒有通用性,結構也很繁瑣。隨著空間光學遙感器突飛猛進的發展,要求地面檢測設備迎合這種趨勢,但調整機構的專一性會使研制成本和研制周期成倍增長,這種方式必然影響空間光學遙感器的長久發展。因此,迫切需要研制出一種通用性極強的調整裝置。
發明內容
為了解決現有調整機構存在的通用性不強、結構繁瑣、成本高的問題,本發明提供一種雙重調節裝置,用于空間光學遙感器裝調裝置和檢測裝置角度和位移粗、精調節,以滿足檢測需要。
本發明為解決技術問題所采用的技術方案如下:
本發明的一種雙重調節裝置,包括:
安裝在地面檢測設備的檢測裝調平臺上的安裝基座;
旋入安裝基座中心通孔中的粗調螺柱,用于大范圍粗略調節;
旋入粗調螺柱中心通孔中的精調螺柱,用于小范圍精細調整;
安裝在地面檢測設備的檢測裝調活動架上的均載圓盤,所述均載圓盤套裝在精調螺柱端部;
兩端分別固定在安裝基座和均載圓盤上的圓柱螺旋拉伸彈簧;
套裝在精調螺柱端部且其兩端分別固定在粗調螺柱和均載圓盤上的圓柱螺旋壓縮彈簧,用于對均載圓盤進行限位作用。
所述精調螺柱端部的球頭安裝在均載圓盤的球窩中。
所述圓柱螺旋拉伸彈簧為三個,三個圓柱螺旋拉伸彈簧以120°等角度分布在安裝基座和均載圓盤之間。
所述精調螺柱為細牙螺紋,所述粗調螺柱為粗牙螺紋。
進行粗調操作時,采用三個螺釘將精調螺柱和粗調螺柱連接為一體,順時針或逆時針旋轉精調螺柱,使粗調螺柱與安裝基座發生相對運動,對地面檢測設備進行粗調。
進行精調操作時,采用三個螺釘將粗調螺柱和安裝基座連接為一體,順時針或逆時針旋轉精調螺柱,使精調螺柱與粗調螺柱發生相對運動,對地面檢測設備進行精調。
本發明的有益效果是:本發明的一種雙重調節裝置具有結構簡單、節省空間、操作容易、通用性極強和加工成本低等特點。設計粗調工作方式,為地面檢測的調整節省時間;設計精調工作方式,能夠很好的適應地面檢測對精度的需求;通過圓柱螺旋壓縮彈簧、圓柱螺旋拉伸彈簧的使用,使地面檢測設備調整過程中運動穩定;均載圓盤的使用,使地面檢測設備受力均勻,不會產生局部應力過大。本發明可以應用于空間光學遙感器地面檢測裝置調節及檢測等領域。
附圖說明
圖1為本發明的一種雙重調節裝置的剖視圖。
圖2為圖1所示的雙重調節裝置的俯視圖。
圖3為圖1所示的雙重調節裝置的左視圖。
圖4為圖1所示的雙重調節裝置的右視圖。
圖5為本發明的一種雙重調節裝置粗調剖視圖。
圖6為本發明的一種雙重調節裝置精調剖視圖。
圖中:1、精調螺柱,2、粗調螺柱,3、安裝基座,4、均載圓盤,5、圓柱螺旋拉伸彈簧,6、圓柱螺旋壓縮彈簧。
具體實施方式
以下結合附圖對本發明作進一步詳細說明。
如圖1至圖4所示,本發明的一種雙重調節裝置,包括用于小范圍、精細調整的精調螺柱1,用于大范圍、快速、粗略調節的粗調螺柱2,安裝基座3,均載圓盤4,三個圓柱螺旋拉伸彈簧5和一個圓柱螺旋壓縮彈簧6,安裝基座3安裝在地面檢測設備的檢測裝調平臺上,粗調螺柱2為粗牙螺紋,粗調螺柱2旋入安裝基座3的中心通孔中,精調螺柱1為細牙螺紋,精調螺柱1旋入粗調螺柱2的中心通孔中,均載圓盤4安裝在地面檢測設備的檢測裝調活動架上,均載圓盤4套裝在精調螺柱1端部,精調螺柱1端部的球頭安裝在均載圓盤4的球窩中,三個圓柱螺旋拉伸彈簧5以120°等角度分布在安裝基座3和均載圓盤4之間,圓柱螺旋拉伸彈簧5兩端分別固定在安裝基座3和均載圓盤4上,圓柱螺旋壓縮彈簧6套裝在精調螺柱1端部,圓柱螺旋壓縮彈簧6兩端分別固定在粗調螺柱2和均載圓盤4上,圓柱螺旋壓縮彈簧6用于對均載圓盤4進行限位作用。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院長春光學精密機械與物理研究所,未經中國科學院長春光學精密機械與物理研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410244627.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





