[發明專利]檢測系統的修復方法

在審

• 申請號: 201410242166.4
• 申請日: 2014-05-31
• 公開（公告）號: CN103984133A
• 公開（公告）日: 2014-08-13
• 發明（設計）人: 高冬子
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/00
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 刁文魁;唐秀萍

1.一種檢測系統的修復方法，所述檢測系統包括紅綠藍信號線、三條測試線及探針，所述信號線與相應的測試線電性連接在一起，所述測試線連接至相應的探針，以對相應的信號線進行檢測，其中所述信號線上包括有靜電擊傷位置，所述信號線包括依次連接的第一區域，第二區域和第三區域，所述靜電擊傷位置位于所述第二區域內；其特征在于，所述檢測系統的修復方法包括：

在所述信號線上設置隔斷點，對所述第一區域和所述第二區域、所述第二區域和所述第三區域進行隔斷；以及

利用修復線連接所述第一區域和所述第三區域。

2.根據權利要求1所述的檢測系統的修復方法，其特征在于，所述靜電擊傷位置位于信號線和與該信號線非電性連接的測試線的跨線區域內，所述第二區域包括所述跨線區域。

3.根據權利要求1所述的檢測系統的修復方法，其特征在于，所述對所述第一區域和所述第二區域、所述第二區域和所述第三區域進行隔斷的步驟，包括：

利用激光對所述第一區域和所述第二區域、所述第二區域和所述第三區域進行隔斷。

4.根據權利要求1所述的檢測系統的修復方法，其特征在于，所述利用修復線連接所述第一區域和所述第三區域的步驟，包括：

在信號線的第三區域兩側分別制造修復線，并利用所述修復線按原信號線的走線方向連接所述第一區域和所述第三區域。

5.一種檢測系統的修復方法，所述檢測系統包括掃描線，兩條測試線及探針，所述掃描線包括奇數線掃描線和偶數線掃描線，所述掃描線與相應的測試線連接在一起，所述測試線連接至相應的探針，以對相應的掃描線進行檢測，其中所述掃描線上包括有靜電擊傷位置，所述掃描線包括依次連接的第一區域，第二區域和第三區域，所述靜電擊傷位置位于所述第二區域內；其特征在于，所述檢測系統的修復方法包括：

在所述掃描線上設置隔斷點，對所述第一區域和所述第二區域、所述第二區域和所述第三區域進行隔斷；以及

利用修復線連接所述第一區域和所述第三區域。

6.根據權利要求5所述的檢測系統的修復方法，其特征在于，所述靜電擊傷位置位于掃描線和與該掃描線非電性連接的測試線的跨線區域內，所述第二區域包括所述跨線區域。

7.根據權利要求5所述的檢測系統的修復方法，其特征在于，所述對所述第一區域和所述第二區域、所述第二區域和所述第三區域進行隔斷的步驟，包括：

利用激光對所述第一區域和所述第二區域、所述第二區域和所述第三區域進行隔斷。

8.根據權利要求5所述的檢測系統的修復方法，其特征在于，所述利用修復線連接所述第一區域和所述第三區域的步驟，包括：

在掃描線的第三區域兩側分別制造修復線，并利用所述修復線按原掃描線的走線方向連接所述第一區域和所述第三區域。