[發(fā)明專利]基于并聯(lián)不對稱馬赫增德干涉儀的帶內(nèi)光信噪比監(jiān)測法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410240090.1 | 申請日: | 2014-05-30 |
| 公開(公告)號: | CN105227233B | 公開(公告)日: | 2017-11-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 邱吉芳;袁博;伍劍;李巖;洪小斌;郭宏翔;林金桐 | 申請(專利權(quán))人: | 北京郵電大學(xué) |
| 主分類號: | H04B10/077 | 分類號: | H04B10/077;H04B10/079 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11002 | 代理人: | 李迪 |
| 地址: | 100876 北京市海淀區(qū)西*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 并聯(lián) 不對稱 馬赫 干涉儀 帶內(nèi)光信噪 監(jiān)測 | ||
1.基于并聯(lián)不對稱馬赫增德干涉儀的帶內(nèi)光信噪比監(jiān)測法,所述方法分為如下步驟:
引入相應(yīng)待監(jiān)測的信號源;
信號與噪聲通過3dB耦合器形成噪聲信號;
將用作信道濾波器的光帶通濾波器插在光信噪比監(jiān)測方案之前;
將濾出的噪聲信號送入光信噪比監(jiān)測方案中計算光信噪比值;提出的光信噪比監(jiān)測方案是由一個1×3耦合器和三個1×2的3dB耦合器組成的兩個并聯(lián)的馬赫增德干涉儀;
兩并聯(lián)馬赫增德干涉儀延時臂分別設(shè)置不同延時值;所述延時值為:延時值一3ps,延時值二10ps;
調(diào)節(jié)兩個馬赫增德干涉儀共用臂的相位值,使輸出功率分別達到最大值和最小值,用終端的功率計記錄數(shù)據(jù);
通過計算得的可見度值和測得的噪聲歸一化自相關(guān)函數(shù)值計算出光信噪比;
將計算出的光信噪比與光信噪比參考值對照,并評估該監(jiān)測法的性能。
2.集成基于并聯(lián)不對稱馬赫增德干涉儀的帶內(nèi)光信噪比監(jiān)測法,所述方法分為如下步驟:
引入相應(yīng)待監(jiān)測的信號源;信號與噪聲通過3dB耦合器形成噪聲信號;
將用作信道濾波器的光帶通濾波器插在光信噪比監(jiān)測方案之前;
將濾出的噪聲信號送入光信噪比監(jiān)測方案中計算光信噪比值;提出的光信噪比監(jiān)測方案是由一個1×3耦合器和三個1×2的3dB耦合器組成的兩個并聯(lián)的馬赫增德干涉儀;
兩并聯(lián)馬赫增德干涉儀延時臂分別設(shè)置不同延時值;所述延時值為:延時值一3ps,延時值二10ps;
調(diào)節(jié)兩個馬赫增德干涉儀共用臂的相位值,使輸出功率分別達到最大值和最小值,用終端的功率計記錄數(shù)據(jù);
通過計算得的可見度值和測得的噪聲歸一化自相關(guān)函數(shù)值計算出光信噪比;
將計算出的光信噪比與光信噪比參考值對照,并評估該監(jiān)測法的性能;
集成所述基于并聯(lián)不對稱馬赫增德干涉儀的帶內(nèi)光信噪比監(jiān)測方案。
3.根據(jù)權(quán)利要求1~2項任一項所述的基于并聯(lián)不對稱馬赫增德干涉儀的帶內(nèi)光信噪比監(jiān)測法,其特征在于,兩并聯(lián)馬赫增德干涉儀的可見度值,通過功率計測得的最大值和最小值計算獲得。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于并聯(lián)不對稱馬赫增德干涉儀的帶內(nèi)光信噪比監(jiān)測法,其特征在于,兩并聯(lián)馬赫增德干涉儀分別相對于不同延時處的兩個噪聲自相關(guān)函數(shù)值,由帶入噪聲通過帶通濾波器得到的歸一化自相關(guān)函數(shù)譜獲得。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于并聯(lián)不對稱馬赫增德干涉儀的帶內(nèi)光信噪比監(jiān)測法,其特征在于,在仿真中,通過測量輸入的光信噪比計算光信噪比參考值。
6.一種證明兩并聯(lián)馬赫增德干涉儀制造半導(dǎo)體集成器件的可行性驗證的方法,所述方法分為如下步驟:
評估馬赫增德干涉儀中耦合器不平衡度對光信噪比監(jiān)測的影響;
研究馬赫增德干涉儀兩臂間在制作過程中產(chǎn)生的長度偏差對測量結(jié)果的影響;
若結(jié)果顯示設(shè)備的長度變化即延時誤差在一定范圍內(nèi)不影響光信噪比的測量結(jié)果則證明基于并聯(lián)不對稱馬赫增德干涉儀的帶內(nèi)光信噪比監(jiān)測法能用于制作成半導(dǎo)體集成器件;
若顯示設(shè)備的長度變化即延時誤差在一定范圍內(nèi)影響光信噪比的測量結(jié)果則證明基于并聯(lián)不對稱馬赫增德干涉儀的帶內(nèi)光信噪比監(jiān)測法不能用于制作成半導(dǎo)體集成器件。
7.一種應(yīng)用權(quán)利要求2所述集成基于并聯(lián)不對稱馬赫增德干涉儀的帶內(nèi)光信噪比監(jiān)測法制成的集成光信噪比監(jiān)測裝置,其特征在于,所述集成光信噪比監(jiān)測裝置包括:相位調(diào)制器(1)、1×3多模干涉耦合器(2)、1×2的3dB多模干涉耦合器a(3)、1×2的3dB多模干涉耦合器b(4)、1×2的3dB多模干涉耦合器c(5)和探測器a(6)及探測器b(7);所述1×3多模干涉耦合器(2)通過延時值3ps的硅延時線A與所述1×2的3dB多模干涉耦合器a(3)連接;所述1×3多模干涉耦合器(2)與所述相位調(diào)制器(1)連接;所述相位調(diào)制器(1)與所述1×2的3dB多模干涉耦合器b(4)連接;所述1×3多模干涉耦合器(2)通過延時值10ps的硅延時線B與所述1×2的3dB多模干涉耦合器c(5)連接;所述1×2的3dB多模干涉耦合器b(4)與所述1×2的3dB多模干涉耦合器a(3)和1×2的3dB多模干涉耦合器c(5)連接;所述1×2的3dB多模干涉耦合器a(3)與所述探測器a(6)連接;所述1×2的3dB多模干涉耦合器c(5)與所述探測器b(7)連接;所述探測器a(6)和探測器b(7)連接并接地。
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