[發明專利]用于堿基序列檢測的多柵極石墨烯場效應管結構及制備方法無效
| 申請號: | 201410236223.8 | 申請日: | 2014-05-29 |
| 公開(公告)號: | CN103995035A | 公開(公告)日: | 2014-08-20 |
| 發明(設計)人: | 易紅;李鐵;袁志山;倪中華;陳云飛;劉磊;沙菁;章寅;馬建 | 申請(專利權)人: | 東南大學;中國科學院上海微系統與信息技術研究所 |
| 主分類號: | G01N27/414 | 分類號: | G01N27/414;H01L29/772;H01L21/335 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
| 地址: | 210096*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 堿基 序列 檢測 柵極 石墨 場效應 結構 制備 方法 | ||
1.用于堿基序列檢測的多柵極石墨烯場效應管結構,其特征在于,該結構包括從下至上依次設置的掩膜襯底(1)、半導體層(2)、氧化硅絕緣層(3)、電極層(4)和絕緣層(5),所述掩膜襯底(1)中部設置有釋放窗口(11),所述半導體層(2)中設置有位于釋放窗口(11)上方并與之連通的刻蝕槽(21),刻蝕槽(21)中分部一排半導體層納米盲孔(22),所述氧化硅絕緣層(3)上設有門電極窗口(31),氧化硅絕緣層(3)中設置有位于半導體層納米盲孔(22)上方并與之連通的氧化硅納米盲孔(32)和位于所述氧化硅納米盲孔(32)中央上方的氧化硅納米孔(33);所述電極層(4)包括金屬門電極(41)、石墨烯微米帶(42)、金屬漏電極(43)、金屬源電極(44)和石墨烯納米孔(45);石墨烯微米帶(42)位于氧化硅納米孔(33)上方,且石墨烯微米帶(42)連接設置在其兩端的金屬漏電極(43)和金屬源電極(44),石墨烯納米孔(45)位于氧化硅納米孔(33)上方并與氧化硅納米孔(33)連通,實現石墨烯納米孔(45)、氧化硅納米孔(35)、氧化硅納米盲孔(32)和半導體層納米盲孔(22)的連通;所述絕緣層(5)位于所述電極層(4)上方,并設置有所述門電極外接窗口(51)、漏電極窗口(52)和源電極窗口(53)且位于所述金屬門電極(41)、金屬漏電極(43)和金屬漏電極(44)上方;在所述石墨烯納米孔(45)上方設置有所述絕緣層納米孔(54),實現與所述石墨烯納米孔(45)相通。
2.根據權利要求1所述的堿基序列檢測的多柵極石墨烯場效應管結構,其特征在于,所述石墨烯微米帶(42)為單層石墨烯,從下至上依次連接的氧化硅絕緣層(3)、電極層(4)和絕緣層(5)形成夾心結構。
3.根據權利要求1所述的堿基序列檢測的多柵極石墨烯場效應管結構,其特征在于,所述的氧化硅納米孔(33)、石墨烯納米孔(45)和絕緣層納米孔(54)組成的一個連通的納米孔。
4.根據權利要求1所述的堿基序列檢測的多柵極石墨烯場效應管結構,其特征在于:所述掩膜襯底(1)的材料為氧化硅或氮化硅,所述半導體層(2)的材質為硅、鍺或鍺硅。
5.根據權利要求1所述的堿基序列檢測的多柵極石墨烯場效應管結構,其特征在于:所述石墨烯微米帶(42)的數量大于或等于2,且石墨烯微米帶的數量與半導體層納米盲孔(22)、氧化硅納米盲孔(32)、氧化硅納米孔(33)、石墨烯納米孔(45)以及絕緣層納米孔(54)數量相等。
6.根據權利要求1所述的堿基序列檢測的多柵極石墨烯場效應管結構,其特征在于:所述金屬門電極(41)位于門電極窗口(31)內。
7.根據權利要求1所述的堿基序列檢測的多柵極石墨烯場效應管結構,其特征在于:所述絕緣層(5)的材料為氧化鋁或者氧化鈦。
8.一種制備如權利要求1所述的堿基序列檢測的多柵極石墨烯場效應管的制備方法,其特征在于,該方法包括以下步驟:
1)在半導體層(2)的下側制作出掩膜襯底(1),半導體層(2)的上側制作出氧化硅絕緣層(3);
2)在所述掩膜襯底(1)的中央刻蝕制作釋放窗口(11);
3)利用所述釋放窗口(11)在所述半導體層(2.)上刻蝕出刻蝕槽(21);
4)在所述氧化硅絕緣層(3)上刻蝕門電極窗口(31)
5)在所述門電極窗口(31)內制作金屬門電極(41)
6)將單層石墨烯轉移到氧化硅絕緣層(3)的上表面,并通過圖形化處理,得到形狀規則的石墨烯微米帶(42),所述石墨烯微米帶(42)位于刻蝕槽(21)正上方中央;
7)在所述石墨烯微米帶(42)兩端分別制作一個金屬漏電極(43)和金屬源電極(44),所述的金屬漏電極(43)和金屬源電極(44)通過石墨烯微米帶(42)實現電相連;
8)制作覆蓋所述氧化硅絕緣層(3)、金屬門電極(41)、石墨烯微米帶(42)、金屬漏電極(43)和金屬源電極(44)上表面的絕緣層(5),刻蝕絕緣層(5)上位于金屬門電極(41)、金屬漏電極(43)、金屬源電極(44)上方的部位,得到用于與外界電相連的門電極外接窗口(51)、漏電極窗口(52)和源電極窗口(53);
9)在所述刻蝕槽(21)上方剩余的半導體層(2)上制作出所述半導體層納米盲孔(22),并在所述半導體層納米盲孔(22)中央制作所述氧化硅納米盲孔(32)。
10)在所述氧化硅納米盲孔(32)上方制作出氧化硅納米孔(33)、石墨烯納米孔(45)和絕緣層納米孔(54)組成一個連通的納米孔;金屬門電極(41)、石墨烯微米帶(42)、金屬漏電極(43)、金屬源電極(44)和石墨烯納米孔(45)構成了電極層(4)。
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