[發明專利]一種激光構造深度量測及其驗證方法和設備

在審

• 申請號: 201410235746.0
• 申請日: 2014-05-29
• 公開（公告）號: CN104032658A
• 公開（公告）日: 2014-09-10
• 發明（設計）人: 竇光武;和松;荊根強;郭鴻博;苗娜;劉璐;周毅姝
• 申請（專利權）人: 交通運輸部公路科學研究所
• 主分類號: E01C23/01
• 分類號: E01C23/01;G01B11/22
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 鐘日紅;劉華聯

1.一種激光構造深度量測方法，其中，該方法包括：

采集獲得繞旋轉中心進行旋轉的構造深度測試件的實時轉速；

根據預設的激光測距采樣間隔、被測點與所述旋轉中心的距離以及所述實時轉速，計算獲得激光測距采樣實時頻率；

根據所述激光測距采樣實時頻率對所述構造深度測試件的被測表面進行高程采集，根據所述高程采集的采集位置以及與所述采集位置對應的高程信息獲得所述構造深度測試件的斷面高程數據序列；以及

采用構造深度計算模型對所述構造深度測試件的多個斷面高程數據序列進行計算，獲得構造深度測量值。

2.根據權利要求1所述的方法，其中：

所述構造深度測試件的被測表面分布有多個環狀的周期性紋理，所述周期性紋理的延伸方向與所述構造深度測試件的旋轉方向一致。

3.根據權利要求2所述的方法，其中：

調整所述構造深度測試件的被測表面上的被測點與所述旋轉中心的距離，對所述構造深度測試件的被測表面上的多個環狀的周期性紋理進行所述高程采集，獲得所述構造深度測試件的多個所述斷面高程數據序列。

4.一種激光構造深度量測驗證方法，其中，該方法包括：

采集獲得繞旋轉中心進行旋轉的構造深度測試件的實時轉速；

根據預設的激光測距采樣間隔、被測點與所述旋轉中心的距離以及所述實時轉速，計算獲得激光測距采樣實時頻率；

根據所述激光測距采樣實時頻率對所述構造深度測試件的被測表面進行高程采集，根據所述高程采集的采集位置以及與所述采集位置對應的高程信息獲得所述構造深度測試件的斷面高程數據序列；

采用構造深度計算模型對所述構造深度測試件的多個斷面高程數據序列進行計算，獲得構造深度測量值；以及

采用加工所述構造深度測試件的被測表面的設計值對所述構造深度測量值進行驗證并獲得驗證結果。

5.根據權利要求4所述的方法，其中：

所述構造深度測試件的被測表面分布有多個環狀的周期性紋理，所述周期性紋理的延伸方向與所述構造深度測試件的旋轉方向一致。

6.根據權利要求5所述的方法，其中：

調整所述構造深度測試件的被測表面上的被測點與所述旋轉中心的距離，對所述構造深度測試件的被測表面上的多個環狀的周期性紋理進行所述高程采集，獲得所述構造深度測試件的多個所述斷面高程數據序列。

7.一種激光構造深度量測設備，其中，該設備包括：

第一采集裝置，采集獲得繞旋轉中心進行旋轉的構造深度測試件的實時轉速；

第一計算裝置，根據預設的激光測距采樣間隔、被測點與所述旋轉中心的距離以及所述實時轉速，計算獲得激光測距采樣實時頻率；

第二采集裝置，根據所述激光測距采樣實時頻率對所述構造深度測試件的被測表面進行高程采集，根據所述高程采集的采集位置以及與所述采集位置對應的高程信息獲得所述構造深度測試件的斷面高程數據序列；以及

第二計算裝置，采用構造深度計算模型對所述構造深度測試件的多個斷面高程數據序列進行計算，獲得構造深度測量值。

8.根據權利要求7所述的設備，其中，所述第二采集裝置包括：

調整模塊，調整所述構造深度測試件的被測表面上的被測點與所述旋轉中心的距離；

采集模塊，根據所述激光測距采樣實時頻率對所述構造深度測試件的被測表面上的周期性紋理進行高程采集，獲得所述構造深度測試件的與所述周期性紋理對應的斷面高程數據序列；

其中，所述構造深度測試件的被測表面分布有多個環狀的所述周期性紋理，每個環狀的所述周期性紋理的延伸方向與所述構造深度測試件的旋轉方向一致；所述采集模塊通過對所述構造深度測試件的被測表面上的所述多個環狀的所述周期性紋理進行所述高程采集，獲得所述構造深度測試件的多個所述斷面高程數據序列。