[發(fā)明專利]一種直流偏壓下的電容測試電路及測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410234210.7
• 申請日: 2014-05-29
• 公開（公告）號: CN104020357B
• 公開（公告）日: 2017-03-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王世山;王文濤;周峰
• 申請（專利權(quán)）人: 南京航空航天大學(xué)
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司32200
• 代理人: 朱小兵

1.?一種直流偏壓下的電容測試電路，其特征在于，包括：直流穩(wěn)壓電源、電感、切換開關(guān)、第一電容和第二電容、阻抗測試儀、雙向切換開關(guān)，其中所述直流穩(wěn)壓電源和電感串聯(lián)后通過切換開關(guān)與待測電容連接；所述第一電容的一端連接于待測電容的一端，第一電容的另一端連接雙向切換開關(guān)的輸入端子；所述雙向切換開關(guān)的一個輸出端子連接阻抗測試儀，雙向切換開關(guān)的另一個輸出端子和阻抗測試儀均連接第二電容的一端；所述第二電容的另一端連接待測電容；通過所述切換開關(guān)控制電路進(jìn)行充電或放電，再利用雙向切換開關(guān)切換阻抗測試儀的工作狀態(tài)，測得阻抗測試儀的阻抗后計算得到待測電容的阻抗。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述直流偏壓下的電容測試電路，其特征在于：還包括用于分流和限制阻抗測試儀上電壓的電阻，所述電阻的一端連接于第一電容的另一端，電阻的另一端連接于第二電容的一端。

3.?根據(jù)權(quán)利要求1所述直流偏壓下的電容測試電路，其特征在于：所述切換開關(guān)為雙刀單投開關(guān)。

4.?根據(jù)權(quán)利要求1所述直流偏壓下的電容測試電路，其特征在于：所述雙向切換開關(guān)為雙刀雙投開關(guān)。

5.?一種基于權(quán)利要求1至4任一項所述直流偏壓下的電容測試電路的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟（1）、將所述切換開關(guān)閉合，雙向切換開關(guān)連接第二電容的一端，利用直流穩(wěn)壓電源對電容充電至穩(wěn)定值；

步驟（2）、再將雙向切換開關(guān)連接至阻抗測試儀，切換至阻抗測試狀態(tài)；調(diào)節(jié)阻抗測試儀以獲得阻抗測試儀的阻抗，并結(jié)合所述第一電容和第二電容的阻抗計算得到待測電容的阻抗。

6.?根據(jù)權(quán)利要求5所述直流偏壓下的電容測試方法，其特征在于：所述步驟（2）中根據(jù)待測電容的自放電時間獲得待測電容的阻抗，具體為：

步驟（21）、當(dāng)待測電容的自放電時間大于設(shè)定值時，斷開切換開關(guān)，電路中的電容進(jìn)入自放電狀態(tài)；在電路中的電容自放電狀態(tài)下計算獲得待測電容的阻抗；

步驟（22）、當(dāng)待測電容的自放電時間小于設(shè)定值時，切換開關(guān)仍閉合，電路中電容的電壓為穩(wěn)定狀態(tài)；在電路中電容的電壓為穩(wěn)定狀態(tài)下計算獲得待測電容的阻抗。