[發明專利]多層X射線計算機斷層掃描系統的探測系統的反散射準直器

有效

• 申請號: 201410233577.7
• 申請日: 2014-05-29
• 公開（公告）號: CN104161535A
• 公開（公告）日: 2014-11-26
• 發明（設計）人: 應崢嶸
• 申請（專利權）人: 蘇州波影醫療技術有限公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 陶海鋒

1.一種用于多層X射線計算機斷層掃描系統的探測系統，所述X射線計算機斷層掃描系統包括至少一個X射線源，其特征在于，探測系統包括：

A.?用于探測X射線光子的多個X射線探測器模塊；其中每個所述探測器模塊被分為以元件行和元件列的矩陣形式組織的單個的探測元件，用以探測X射線光子，行方向為Z軸方向，列方向為X軸方向；所述單個的探測元件被溝槽分隔，所述溝槽為不探測射線的區域，且所述溝槽也由溝槽行和溝槽列構成矩陣形式；以及，

B.?一反散射準直器，包括多個設置在所述探測模塊上并對準X射線源的焦點的反散射板；其中部分或全部所述反散射板被設置在探測元件上方，設置在所述探測元件上方的反散射板阻擋散射的X射線光子以及部分來自所述X射線源的初級X射線光子，使其不能到達所述探測元件。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于：平行于Z軸布置的所述反散射板被設置在所述探測模塊的部分或全部列的上方，且不在所述探測模塊的任一溝槽列的上方。

3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于：平行于Z軸布置的所述反散射板不在任意兩個沿X軸相鄰的探測模塊之間。

4.根據權利要求1所述的系統，其特征在于：平行于Z軸布置的所述反散射板被設置在所述探測模塊的部分或全部元件列的上方且不在所述探測模塊的任何中間溝槽列的上方；并且，平行于Z軸布置的所述反散射板也設置在任意兩個沿X軸相鄰的探測模塊之間。

5.根據權利要求1所述的系統，其特征在于：平行于X軸布置的所述反散射板被設置在所述探測模塊的部分或全部行的上方，且不在所述探測模塊的任一溝槽行的上方。

6.根據權利要求5所述的系統，其特征在于：平行于X軸布置的所述反散射板不在任意兩個沿Z軸相鄰的探測模塊之間。

7.根據權利要求1所述的系統，其特征在于：平行于X軸布置的所述反散射板被設置在所述探測模塊的部分或全部元件行的上方且不在所述探測模塊的任何中間溝槽行的上方；并且，平行于X軸布置的所述反散射板也設置在任意兩個沿Z軸相鄰的探測模塊之間。

8.根據權利要求1所述的系統，其特征在于：每一所述探測器模塊中的所有探測元件具有相同的元件列寬度。

9.根據權利要求8所述的系統，其特征在于：平行于Z軸布置的每一所述反散射板設置在所述探測器模塊的每一元件列的中央上方；并且沒有反散射板被設置在沿X軸相鄰的兩個探測模塊之間。

10.根據權利要求1所述的系統，其特征在于：所述探測模塊的邊緣的元件列的寬度小于所述探測模塊的中間元件列的寬度。

11.根據權利要求10所述的系統，其特征在于：在所述探測模塊的每一中間元件列的上方設有一所述反散射板；在所述探測模塊的兩邊緣元件列的上方沒有反散射板；在沿X軸相鄰設置的兩個探測模塊之間設有一所述反散射板。

12.根據權利要求11所述的系統，其特征在于：所述反散射板的厚度的標稱值等于所述探測模塊的所述邊緣元件列的寬度與所述中間元件列的寬度的差值。

13.根據權利要求11所述的系統，其特征在于：從每一探測模塊的中央到兩側邊緣，所述反散射板的間距以不減少的方式設置。

14.一種用于生成對象的CT圖像的多層X射線計算機斷層掃描系統，其特征在于，包括：

A.?一可轉動的機架；

B.?一安裝于所述可轉動機架的X射線源，用于產生穿透所述對象的X射線束；以及

C.?安裝在所述可轉動的機架的相對于X射線源的另一側的一探測系統，用于接收對應于所述對象的所述X射線束，包括：

i.?用于探測X射線光子的多個X射線探測器模塊；其中每個所述探測器模塊被分為以元件行和元件列的矩陣形式組織的單個的探測元件，用以探測X射線光子，行方向為Z軸方向，列方向為X軸方向；所述單個的探測元件被溝槽分隔，所述溝槽為不探測射線的區域，且所述溝槽也由溝槽行和溝槽列構成矩陣形式；以及，

ii.?一反散射準直器，包括多個設置在所述探測模塊上并對準X射線源的焦點的反散射板；其中部分或全部所述反散射板被設置在探測元件上方，設置在所述探測元件上方的反散射板阻擋散射的X射線光子以及部分來自所述X射線源的初級X射線光子，使其不能到達所述探測元件。