[發明專利]樣品原子電離譜線分析儀

在審

• 申請號: 201410232366.1
• 申請日: 2014-05-29
• 公開（公告）號: CN104020142A
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發明（設計）人: 彭飛;儲冬紅
• 申請（專利權）人: 成都中遠千葉科技有限公司
• 主分類號: G01N21/63
• 分類號: G01N21/63
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.樣品原子電離譜線分析儀，其特征在于，主要包括：

1--遠波段光束裝置，2--光譜隔離裝置，3--近波段光束裝置，?4--光束聚集反射裝置，5--光束波段熱分析裝置，6--進樣裝置，?7--信號轉換裝置，8--信號放大裝置，9--信號諧波裝置，?10--信號顯示記錄裝置，

其中，

遠波段光束裝置（1）含有寬頻段光譜發射電極，電極材料為八鉻酸氧化鋦镎合金，

光譜隔離裝置（2）含有七棱錐型光束分離透鏡，該透鏡表面覆蓋有三層厚度為1.89um的五溴酸氧化钷鈇納米復合濾光膜，

近波段光束裝置（3）含有窄波段能譜發射電極，該電極材料為六鈷酸五氧鐨釕合金，

光束聚集反射裝置（4）含有十一棱偏光諧波透鏡，雙凹聚焦透鏡，八狹縫衍射透光板，其中，十一棱偏光諧波透鏡表面鍍有五銻酸八氟錸鍺濾光膜，八狹縫衍射透光板的八個狹縫排列方式為正八邊形排列，上述三種器件的排列方式為：沿著光束主軸的傳播方向，雙凹聚焦透鏡位于前端，十一棱偏光諧波透鏡居于中間，八狹縫衍射透光板具有后端。