[發明專利]樣品分子特性譜線分析儀在審
| 申請號： | 201410232279.6 | 申請日： | 2014-05-29 |
| 公開（公告）號： | CN104020111A | 公開（公告）日： | 2014-09-03 |
| 發明（設計）人： | 儲冬紅;彭飛;郭睦庚 | 申請（專利權）人： | 成都中遠千葉科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/25 | 分類號： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 610100 四川省成*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 樣品 分子 特性 分析 | ||
【權利要求書】：
1.樣品分子特性譜線分析儀，其特征在于，主要包括：
1--進樣裝置，2--樣品導入裝置，3--樣品預處理裝置，?4--樣品微粒化裝置，5--流體控制裝置，6--樣品熱處理裝置，?7--特征譜線分析裝置，8--信號放大裝置，9--信號顯示與記錄裝置，
其中，
樣品導入裝置（2）含有樣品導流管，該導流管材料為偏鉻酸氧化釤鎘合金，
樣品微粒化裝置（4）含有顆粒降解電極，該電極材料為氧化鈮钷合金，
流體控制裝置（5）含有流體離子篩選板，該篩選板材料為六硅烷溴化鐠鐒納米復合材料，
特征譜線分析裝置（7）含有九棱柱型偏振特征譜線分析透鏡，該透鏡表面鍍有厚度為30um的偏硅酸氟化??鏷納米復合透光膜。
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