[發明專利]高靈敏度原子光譜分析儀在審
| 申請號: | 201410232079.0 | 申請日: | 2014-05-29 |
| 公開(公告)號: | CN104020117A | 公開(公告)日: | 2014-09-03 |
| 發明(設計)人: | 儲冬紅;彭飛;郭睦庚 | 申請(專利權)人: | 成都中遠千葉科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31 |
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| 地址: | 610100 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 靈敏度 原子 光譜分析 | ||
技術領域
本發明涉及光譜分析領域,尤其涉及高靈敏度原子光譜分析儀。
背景技術
原子光譜分析技術的應用,主要是通過將處于基態和低激發態的原子或分子吸收具有連續分布的某些波長的光而躍遷到各激發態,形成了按波長排列的暗線或暗帶組成的光譜。吸收光譜是溫度很高的光源發出來的白光,通過溫度較低的蒸汽或氣體后產生的,讓高溫光源發出的白光,通過溫度較低的鈉的蒸汽就能生成鈉的吸收光譜。這個光譜背景是明亮的連續光譜。在鈉的標識譜線的位置上出現了暗線。每一種元素的吸收光譜里暗線的位置跟他們明線光譜的位置是互相重合的,每種元素所發射的光的頻率跟它所吸收的光頻率是相同的。但是現有的原子光譜分析技術,其光敏表面能在紫外區和可見區的量子效率和靈敏度較低,儀器信噪比不好,因此需要對現有技術加以改進。
發明內容
為了克服現有裝置的不足之處,本發明采用的技術方案如下:
高靈敏度原子光譜分析儀,其特征在于,主要包括:
1--高壓放電光束裝置,2--光譜匯集裝置,3--樣品汽化裝置,
4--進樣裝置,5--光束過濾裝置,6--譜線分離裝置,
7--光譜顯影裝置,8--譜線轉換裝置,9--譜線顯示與記錄裝置;
其中,
高壓放電光束裝置(1)含有高壓放電光束電極,該電極材料為氧化镅锿合金材料,
光譜匯集裝置(2)含有九棱錐型聚焦反射透鏡,該透鏡表面覆蓋有厚度為3.8um的八鉻酸鎂銨溴化锫鎶納米復合透光膜,
樣品汽化裝置(3)含有高溫汽化電極,該電極材料為氧化锝合金材料,
譜線分離裝置(6)含有九棱柱型光譜分離透鏡,該透鏡表面鍍有厚度為10um的譜線濾光膜,該濾光膜材料為十四磷酸釹鐿復合膜。
高壓放電光束裝置(1)主要用于高壓放電光束的產生,為原子光譜分析提供足夠的解離能量,光譜匯集裝置(2)主要用于放電光束路徑的調節與引導,避免光譜能量傳導耗散速度過快,樣品汽化裝置(3)主要用于樣品的初步處理,實現基態原子的汽化生成,進樣裝置(4)主要用于樣品的進樣導入,光束過濾裝置(5)主要用于光譜波段的篩選,避免外界干擾波段的影響,譜線分離裝置(6)主要用于特征分析波段的調節與控制,根據不同分析精度實現特定范圍內光譜的選擇濾過與屏蔽,光譜顯影裝置(7)主要用于譜線的定量分析與對比,結合標準譜線圖特征進行譜線的波段范圍分離,實現原子特征結構對比,提高分析靈敏度;譜線轉換裝置(8)主要用于譜線信號的轉換傳導,實現原子光譜分析結果的可視化,譜線顯示與記錄裝置(9)主要用于光譜分析結果的顯示與記錄,提高分析準確度。
本發明與現有技術相比具有的有益效果是:
(1)通過高壓放電光束裝置實現高壓放電光束的產生,為原子光譜分析提供足夠的解離能量;
(2)通過光譜匯集裝置進行放電光束路徑的調節與引導,避免光譜能量傳導耗散速度過快;
(3)通過光譜顯影裝置進行譜線的定量分析與對比,結合標準譜線圖特征進行譜線的波段范圍分離,實現原子特征結構對比,提高分析靈敏度。
附圖說明
圖1是高靈敏度原子光譜分析儀的示意圖
如圖1所示,本發明所述的高靈敏度原子光譜分析儀,主要包括:
1--高壓放電光束裝置,2--光譜匯集裝置,3--樣品汽化裝置,
4--進樣裝置,5--光束過濾裝置,6--譜線分離裝置,
7--光譜顯影裝置,8--譜線轉換裝置,9--譜線顯示與記錄裝置,
下面結合附圖對本發明的具體實施方式作進一步詳細的描述。
具體實施方式
首先,通過高壓放電光束裝置(1)進行高壓放電光束的產生,為原子光譜分析提供足夠的解離能量,借助于光譜匯集裝置(2)實現放電光束路徑的調節與引導,避免光譜能量傳導耗散速度過快,采用樣品汽化裝置(3)進行樣品的初步處理,實現基態原子的汽化生成,結合進樣裝置(4)實現樣品的進樣導入,通過光束過濾裝置(5)進行光譜波段的篩選,避免外界干擾波段的影響,借助于譜線分離裝置(6)用于特征分析波段的調節與控制,根據不同分析精度實現特定范圍內光譜的選擇濾過與屏蔽,采用光譜顯影裝置(7)進行譜線的定量分析與對比,結合標準譜線圖特征進行譜線的波段范圍分離,實現原子特征結構對比,提高分析靈敏度;通過譜線轉換裝置(8)進行譜線信號的轉換傳導,實現原子光譜分析結果的可視化,最后,借助于譜線顯示與記錄裝置(9)進行光譜分析結果的顯示與記錄,提高分析準確度。
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