[發明專利]一種晶閘管芯片門極測試工裝

有效

• 申請號: 201410230402.0
• 申請日: 2014-05-28
• 公開（公告）號: CN105137315B
• 公開（公告）日: 2018-04-13
• 發明（設計）人: 鄧湘鳳;賀堅;方凌;鄒培根;沈顯長;劉艷;楊謙成;嚴冰;劉曉珍
• 申請（專利權）人: 株洲南車時代電氣股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 湖南兆弘專利事務所(普通合伙)43008
• 代理人: 趙洪,周長清

技術領域

本發明主要涉及到晶閘管芯片領域，特指一種用來對晶閘管芯片進行門極測試的工裝。

背景技術

晶閘管芯片的門極參數I_GT、V_GT是晶閘管的重要參數。如圖1所示，為行業標準中用來測試門極觸發電流I_GT和觸發電壓V_GT的電路原理示意圖。從測試電路原理圖中可以看出，門極觸發電流I_GT、門極觸發電壓V_GT的測試需要在被測管芯的門陰極之間施加電信號，被測管芯陰陽極之間也需施加規定的斷態電壓。為了完成測試，需要有分別給予門極、陰極、陽極信號的接觸部件。因此，為了獲得晶閘管管芯的門極觸發電流I_GT和觸發電壓V_GT，目前行業中普遍采用工裝來完成門極觸發電流、電壓的測試。這類傳統的工裝包括升降臺、陰極頂針、門極頂針及陽極接觸銅塊。通過升降臺的上下動作來完成測試，門極信號、陰極信號通過導線輸出到被測管芯，管芯陽極面置于陽極接觸銅塊上，陽極信號由陽極接觸銅塊下方的導線給出。

但是，現有的工裝在使用過程中存在一些明顯的不足：

（1）頂針接觸不良：頂針容易老化，使用一段時間后，不能達到100%良好接觸管芯門極；

（2）對心不準 ：工裝中無定位點，測試門極對準管心完全是憑手感，準確率不高，效率低下；

（3）易刮傷管芯 ：測試時需要雙手同時操作測試，左手提頂針，右手取管芯，節奏的配合不當便會刮傷管芯表面。

發明內容

本發明要解決的技術問題就在于：針對現有技術存在的技術問題，本發明提供一種結構簡單緊湊、制作方便、操作簡便、可提高測試效率和測試效果的晶閘管芯片門極測試工裝。

為解決上述技術問題，本發明采用以下技術方案：

一種晶閘管芯片門極測試工裝，包括測試夾具，所述測試夾具包括底座、蝶形定位器、門極頂針、陰極頂針及陰極頂針移動組件，所述蝶形定位器位于底座的上方，所述蝶形定位器上開設有用來放置待測試芯片的芯片卡槽，所述陰極頂針和門極頂針均安裝于底座內且位于蝶形定位器的下方，所述門極頂針位于底座的中部且固定不動，所述芯片卡槽上設有與門極頂針配合的門極配合孔，所述陰極頂針安裝于陰極頂針移動組件上并可以在陰極頂針移動組件的驅動下沿著蝶形定位器的徑向方向運動，所述芯片卡槽上沿著徑向方向開設有供陰極頂針運動的陰極頂針移動槽。

作為本發明的進一步改進：所述芯片卡槽位于蝶形定位器的中間，呈圓形狀。

作為本發明的進一步改進：所述陰極頂針移動組件包括絲桿和移動部件，所述移動部件通過螺紋連接于絲桿上，所述陰極頂針安裝于移動部件上。

作為本發明的進一步改進：所述絲桿穿設于底座的側壁上，在所述絲桿遠離底座的一側上還設有調節旋鈕。

作為本發明的進一步改進：所述門極頂針通過安裝部件連接于絲桿上，所述安裝部件空套連接于絲桿上。

作為本發明的進一步改進：在芯片卡槽上設有限位部件，用來對放入芯片卡槽中的待測試芯片的放置位置進行限位。

作為本發明的進一步改進：所述蝶形定位器上設置一根以上的彈簧，所述彈簧的高度高于陰極頂針和門極頂針。

與現有技術相比，本發明的優點在于：本發明的晶閘管芯片門極測試工裝，結構簡單緊湊、制作方便、操作簡便，利用蝶形定位器可以確保待測試芯片的擺放位置，門極頂針設置在夾具內固定不動，保證了對準性和接觸效果；可移動式的陰極頂針則是其適用于各種規格的管芯，大大擴展了其適用性。

附圖說明

圖1是測試門極觸發電流和觸發電壓的電路原理示意圖。

圖2是本發明的結構原理示意圖。

圖例說明：

1、調節旋鈕；2、陰極頂針；3、底座；4、蝶形定位器；401、芯片卡槽；5、陰極頂針移動槽；6、門極頂針；7、絲桿；8、移動部件；9、側壁；10、測試夾具。

具體實施方式

以下將結合說明書附圖和具體實施例對本發明做進一步詳細說明。