[發(fā)明專利]一種基于圖像處理技術(shù)的太陽位置坐標(biāo)檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410230268.4
• 申請日: 2014-05-28
• 公開（公告）號: CN103994749A
• 公開（公告）日: 2014-08-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 龍興林
• 申請（專利權(quán)）人: 寧波金盾電子工業(yè)有限公司
• 主分類號: G01C1/00
• 分類號: G01C1/00;G05D3/12
• 代理公司: 寧波市天晟知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 33219
• 代理人: 張文忠

1.一種基于圖像處理技術(shù)的太陽位置坐標(biāo)檢測裝置，包括裝置外殼(1)，其特征是：所述的裝置外殼(1)的頂面中心軸向開有使太陽光線通過照射到裝置外殼(1)內(nèi)部的透光孔(12a)，所述的裝置外殼(1)中由上至下依次配裝有用于減弱太陽光線強(qiáng)度的減光片(2)和通過透光孔(12a)攝像獲取太陽圖像信息的攝像頭(3)以及信號處理板(4)，所述的信號處理板(4)將攝像頭(3)拍攝的太陽圖像信息經(jīng)內(nèi)部圖像處理后對外輸出太陽在圖像中的位置坐標(biāo)數(shù)據(jù)信號。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于圖像處理技術(shù)的太陽位置坐標(biāo)檢測裝置，其特征是：所述的裝置外殼(1)由柱桶狀的外殼主體(11)以及分別蓋配在外殼主體(11)上下兩端的上蓋(12)和下蓋(13)組成；所述的上蓋(12)開有透光孔(12a)，該上蓋(12)的內(nèi)表面與透光孔(12a)同軸擴(kuò)制有用于定位配裝減光片(2)的定位槽腔(12b)，所述的減光片(2)的面積大于透光孔(12a)的面積。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于圖像處理技術(shù)的太陽位置坐標(biāo)檢測裝置，其特征是：所述的攝像頭(3)固定配裝在外殼主體(11)中，所述的透光孔(12a)的位置恰好位于攝像頭(3)鏡頭(31)的正前方，所述的太陽光線通過透光孔(12a)、減光片(2)照射到所述攝像頭(3)的鏡頭(31)上。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于圖像處理技術(shù)的太陽位置坐標(biāo)檢測裝置，其特征是：所述的外殼主體(11)的周面上相對靠近下方開有一安裝窗口(11a)，該安裝窗口(11a)上固定安裝有能防止灰塵和雨水侵入的防水快接插件(5)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于圖像處理技術(shù)的太陽位置坐標(biāo)檢測裝置，其特征是：所述的防水快接插件(5)至少具有為信號處理板(4)提供電力所需的電源輸入接口和方便信號處理板(4)數(shù)據(jù)信號輸出的數(shù)據(jù)輸出接口，所述的攝像頭(3)經(jīng)信號處理板(4)引入電力。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種基于圖像處理技術(shù)的太陽位置坐標(biāo)檢測裝置，其特征是：所述的信號處理板(4)上至少包含有微處理器、接口電路、電源電路和信號輸入輸出電路；所述的微處理器負(fù)責(zé)圖像信息的運(yùn)算處理得出太陽在圖像中的位置坐標(biāo)數(shù)據(jù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種基于圖像處理技術(shù)的太陽位置坐標(biāo)檢測裝置，其特征是：所述的下蓋(13)的內(nèi)表面制有與外殼主體(11)內(nèi)周面相套定位配合的定位凸臺(131)，該下蓋(13)上環(huán)繞定位凸臺(131)等弧度通透制有方便外部安裝的裝配孔(132)，并且該下蓋(13)的底面制有至少一個(gè)定位缺槽(133)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種基于圖像處理技術(shù)的太陽位置坐標(biāo)檢測裝置，其特征是：所述的裝置外殼(1)中位于信號處理板(4)的下方設(shè)置有用于在裝置外殼(1)內(nèi)部溫度低時(shí)加熱保護(hù)內(nèi)部電子器件免受低溫影響的加熱器(6)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種基于圖像處理技術(shù)的太陽位置坐標(biāo)檢測裝置，其特征是：所述的下蓋(13)沿軸心軸向貫通定位凸臺(131)制有用于平衡裝置外殼(1)內(nèi)部與外部環(huán)境壓力的透氣孔(13a)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種基于圖像處理技術(shù)的太陽位置坐標(biāo)檢測裝置，其特征是：所述的透氣孔(13a)中固定安裝有固定水分子不可通過的密封紙(7)。