[發(fā)明專利]一種檢測方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410225977.3
• 申請日: 2014-05-26
• 公開（公告）號: CN104101614A
• 公開（公告）日: 2014-10-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 毛繼禹;龐華山;駱宏晨;張然
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956
• 代理公司: 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;黃燦

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示基板的檢測技術(shù)，特別是一種檢測方法及裝置。

背景技術(shù)

薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)作為手機、平板電腦、筆記本電腦、顯示器及電視機等產(chǎn)品的顯示元件，在現(xiàn)今的生活中已變得不可或缺。

為了保證顯示器的性能，在顯示器生產(chǎn)和銷售的過程中要進行各種各樣的測試，其中就包括對顯示面板的顯示性能(如閃爍、Mura等)的測試。

目前，TFT-LCD行業(yè)中彩膜基板制作的最后一道工序為人眼宏觀檢測，就是對所有涂膜工序完成后的彩膜基板進行全部的人眼宏觀檢測。

然而現(xiàn)有的人眼宏觀檢測需要耗費大量的人力物力，說明如下。

一個成熟的彩膜基板生產(chǎn)工廠，宏觀缺陷的不良率約為萬分之一，也就是說平均1萬張彩膜基板中僅有一張存在宏觀不良缺陷。人眼宏觀檢測檢測一張基板大約需要110秒，那么為了從1萬張彩膜基板檢出這一張存在宏觀不良缺陷的彩膜基板，需要耗費大約110萬秒，即超過300個小時的檢測時間。安排10個檢測人員進行檢測的話，也需要耗費超過30個小時。

而如果采用抽檢的方式，則幾乎沒有可能從1萬張彩膜基板檢查出這一張存在宏觀不良缺陷的彩膜基板。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例的目的在于提供一種檢測方法及裝置，降低品質(zhì)檢測的人力消耗。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施例提供了一種檢測方法，其中，包括：

通過第一圖像采集設(shè)備獲取所述待檢測基板的第一圖像；

根據(jù)所述第一圖像獲取所述待檢測基板的第一品質(zhì)控制參數(shù)的第一檢測值；

根據(jù)所述第一檢測值判斷所述待檢測基板是否符合預先設(shè)置的第一品質(zhì)控制策略，獲取第一判斷結(jié)果；

在所述第一判斷結(jié)果指示所述待檢測基板符合所述第一品質(zhì)控制策略時，確定所述待檢測基板歸類到不需要進行宏觀品質(zhì)檢測的基板。

上述的檢測方法，其中，還包括：

在所述第一判斷結(jié)果指示所述待檢測基板不符合所述第一品質(zhì)控制策略時，根據(jù)所述第一檢測值確定所述待檢測基板不滿足所述第一品質(zhì)控制策略的問題區(qū)域；

通過第二圖像采集設(shè)備獲取所述問題區(qū)域的第二圖像；

根據(jù)所述第二圖像獲取所述待檢測基板的第二品質(zhì)控制參數(shù)的第二檢測值；

根據(jù)所述第二檢測值判斷所述待檢測基板是否符合預先設(shè)置的第二品質(zhì)控制策略，獲取第二判斷結(jié)果；

在所述第二判斷結(jié)果指示所述待檢測基板符合所述第二品質(zhì)控制策略時，確定所述待檢測基板歸類到不需要進行宏觀品質(zhì)檢測的基板。

上述的檢測方法，其中，所述第二圖像中所述問題區(qū)域的采樣點數(shù)量大于所述第一圖像中所述問題區(qū)域的采樣點數(shù)量；或，所述第二圖像的顏色質(zhì)量高于第一圖像的顏色質(zhì)量。

上述的檢測方法，其中，所述第二圖像為彩色圖像，所述第二品質(zhì)控制參數(shù)的第二檢測值為問題區(qū)域的彩色圖像的第一平均色度值，根據(jù)所述第二檢測值判斷所述待檢測基板是否符合預先設(shè)置的第二品質(zhì)控制策略，獲取第二判斷結(jié)果具體包括：

獲取與所述問題區(qū)域相鄰的，具有相同形狀的對比區(qū)域的彩色圖像，并計算對比區(qū)域的彩色圖像的第二平均色度值；

當?shù)谝黄骄戎岛偷诙骄戎档谋戎党鲱A定的區(qū)間時，則得到果指示所述待檢測基板符合所述第二品質(zhì)控制策略的第二判斷結(jié)果。

上述的檢測方法，其中，所述第一品質(zhì)控制參數(shù)為與灰度相關(guān)的參數(shù)，所述根據(jù)所述第一圖像獲取所述待檢測基板的第一品質(zhì)控制參數(shù)的第一檢測值具體包括：

將所述第一圖像轉(zhuǎn)換為灰度圖像；

根據(jù)所述灰度圖像獲取所述第一品質(zhì)控制參數(shù)的第一檢測值。

上述的檢測方法，其中，所述待檢測基板的第一品質(zhì)控制參數(shù)的第一檢測值為所述待檢測基板的預定數(shù)量的采樣點的灰度檢測值序列，根據(jù)所述第一檢測值判斷所述待檢測基板是否符合預先設(shè)置的第一品質(zhì)控制策略，獲取第一判斷結(jié)果具體包括：

根據(jù)所述灰度檢測值序列和移動平均值計算得到所述灰度檢測值序列對應的移動平均值序列；

根據(jù)上下限值計算所述移動平均值序列對應的檢測序列；

將所述灰度檢測值序列中的處于檢測序列之外灰度檢測值所對應的檢測點判定為問題采樣點；

根據(jù)所述問題采樣點判決所述待檢測基板是否符合預先設(shè)置的第一品質(zhì)控制策略。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施例還提供了一種檢測裝置，其特征在于，包括：

第一獲取模塊，用于通過第一圖像采集設(shè)備獲取所述待檢測基板的第一圖像；

第二獲取模塊，用于根據(jù)所述第一圖像獲取所述待檢測基板的第一品質(zhì)控制參數(shù)的第一檢測值；