[發(fā)明專利]小孔位置度的測量方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410225108.0
• 申請日: 2014-05-26
• 公開（公告）號: CN104006775A
• 公開（公告）日: 2014-08-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孫艷玲;張世林;雷云蓮;王德輝
• 申請（專利權(quán)）人: 哈爾濱東安發(fā)動機(jī)（集團(tuán)）有限公司
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00
• 代理公司: 中國航空專利中心 11008
• 代理人: 杜永保

1.一種小孔位置度的測量方法，其特征是，所述的方法包括以下步驟：

1)準(zhǔn)備：將待測量零件的小孔內(nèi)部及工作面清潔干凈；

2)安裝：將待測量零件固定安裝在投影坐標(biāo)儀的玻璃工作臺上，并保證小孔垂直于工作臺；

3)校驗測頭：啟動投影坐標(biāo)儀，用設(shè)備自帶的Φ14.999mm的環(huán)規(guī)，采用設(shè)備機(jī)械測頭進(jìn)行機(jī)械校驗，用10倍的光學(xué)測頭進(jìn)行光學(xué)校驗，機(jī)械校驗和光學(xué)校驗分別進(jìn)行兩次，并由設(shè)備自動進(jìn)行關(guān)聯(lián)；

4)建立坐標(biāo)系：通過機(jī)械測頭在零件的基準(zhǔn)面上采集4個測量點(diǎn)，然后由設(shè)備自動測量一遍，去除測力及測速引入的誤差后，將此平面調(diào)整為坐標(biāo)平面；同樣方式測量零件的另一基準(zhǔn)面并設(shè)置成坐標(biāo)方向，在零件上選取一點(diǎn)設(shè)定為坐標(biāo)原點(diǎn)；

5)測量：將10倍光學(xué)測頭移到小孔的上方，觀察測量視場，選擇設(shè)備上的“與圓相交”的方式進(jìn)行采點(diǎn)，采點(diǎn)順序為先兩邊后中間，然后通過設(shè)備上的扇形窗口或環(huán)形窗口的方式擬合成一個點(diǎn)，至少進(jìn)行三次采點(diǎn)和擬合，最終通過擬合的點(diǎn)生成一個圓，即小孔的位置；

6)評價：通過設(shè)備的位置度評價，得出小孔位置度；

7)最終判定。

2.如權(quán)利要求1所述的一種小孔位置度的測量方法，其特征是，所述的步驟2)中，可采用膠槍將玻璃膠加熱4-6分鐘，然后用玻璃膠將零件固定在投影坐標(biāo)儀的玻璃工作臺上，等玻璃膠凝固后，開始校驗測頭。

3.如權(quán)利要求1所述的一種小孔位置度的測量方法，其特征是，所述的步驟5)中，采點(diǎn)的數(shù)量最好為8個點(diǎn)。