[發明專利]一種測量磁性元件磁通量的方法及其裝置

在審

• 申請號: 201410222322.0
• 申請日: 2014-05-23
• 公開（公告）號: CN104020426A
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發明（設計）人: 黃可可;李正瑜;王西平
• 申請（專利權）人: 寧波興隆磁性技術有限公司
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12
• 代理公司: 寧波奧圣專利代理事務所(普通合伙) 33226
• 代理人: 方小惠

技術領域

本發明涉及一種磁通量測試技術，尤其是涉及一種測量磁性元件磁通量的方法及其裝置。

背景技術

隨著科學技術的發展，磁性元件的應用領域日益擴大。與此同時，磁性元件的質量要求也在不斷提高。為了保證磁性元件的質量，在磁性元件生產完成后，需要檢測其各個重要性能參數是否在合格范圍內。磁通量作為磁性元件重要性能指標之一，成為了磁性元件的必檢項目之一。

目前，一般采用亥姆霍茲線圈和磁通計來測量磁性元件磁通量，主要過程為：首先根據待測磁性元件的規格大小來選擇亥姆霍茨線圈的型號，亥姆霍茨線圈的磁場區域由其型號及磁性元件規格大小確定，然后將亥姆霍茲線圈和磁通計連接，將磁性元件放入亥姆霍茲線圈中，接著將磁通計清零，然后將待測磁性元件從亥姆霍茲線圈并遠離亥姆霍茲線圈至磁場區域外并靜止，讀取此時磁通計的輸出值即為待測磁性元件的磁通量值。上述測量磁通量的方法主要利用了亥姆霍茨線圈的原理，當磁性元件遠離亥姆霍茲線圈時，磁性元件切割亥姆霍茨線圈的磁力線產生感應電流，磁通計采集感應電流后得到磁性元件的磁通量值輸出。但是上述方法存在以下問題：一、磁通量值會受到磁性元件遠離亥姆霍茲線圈的距離的影響，測試人員手工移動磁性元件，無法保證待測磁性元件都處于相同的測試位置，由此導致測試得到的各磁性元件磁通量數據相差較多，數值的可重復性和準確性較差；二、磁性元件需要先放入磁通線圈內然后人工將磁性元件遠離亥姆霍茨線圈才能完成一個檢測過程，操作比較復雜，勞動強度較大，測試效率較低；三、體積較大的磁性元件測試范圍距離亥姆霍茲線圈比較遠，上述方法不具備可操作性，由此該方法只適用于體積相對較小的磁性元件的測試。

發明內容

本發明所要解決的技術問題之一是提供一種操作簡單，勞動強度低，測試效率較高，測試數據的可重復性和準確性較高，且不受限于磁性元件的體積大小的測量磁性元件磁通量的方法。

本發明解決上述技術問題所采用的技術方案為：一種測量磁性元件磁通量的方法，包括以下步驟：

①將亥姆霍茲線圈和磁通計連接，所述的亥姆霍茲線圈包括支撐座、同軸設置在所述的支撐座左右兩端的第一線圈和第二線圈；

②將待測磁性元件放入亥姆霍茲線圈中，待測磁性元件的充磁方向沿所述的亥姆霍茨線圈的軸向且待測磁性元件位于所述的第一線圈和所述的第二線圈正中間，待測磁性元件朝向所述的第一線圈的端面為第一端面，待測磁性元件朝向所述的第二線圈的端面為第二端面；

③將磁通計清零；

④采用翻轉機構將待測磁性元件翻轉180度后保持靜止，此時，待測磁性元件的第一端面朝向所述的第二線圈，待測磁性元件的第二端面朝向第一線圈；

⑤讀取磁通計的輸出值，該輸出值即為待測磁性元件的磁通量值。

所述的步驟④中的翻轉機構的一端設置有用于安裝固定磁性元件的定位臺，所述的定位臺位于所述的第一線圈和所述的第二線圈之間，測試時，將磁性元件裝入所述的定位臺中，磁性元件的充磁方向沿所述的亥姆霍茨線圈的軸向且磁性元件位于所述的第一線圈和所述的第二線圈正中間，磁性元件朝向所述的第一線圈的端面為第一端面，磁性元件朝向所述的第二線圈的端面為第二端面，磁通計清零后翻轉機構驅動磁性元件翻轉180度后靜止，讀取磁通計得到磁性元件磁通量，此時磁性元件的第一端面朝向所述的第二線圈，磁性元件的第二端面朝向所述的第一線圈。

所述的翻轉機構包括旋轉氣缸、夾緊氣缸、固定設置所述的旋轉氣缸的轉軸上的安裝板和固定設置在所述的夾緊氣缸的氣缸軸上的蓋板，所述的安裝板位于所述的第一線圈和所述的第二線圈之間，所述的安裝板的一側面設置從所述的安裝板的上端面向下延伸的安裝槽，所述的安裝槽的尺寸與磁性元件尺寸匹配，所述的夾緊氣缸的氣缸軸從所述的安裝板的下部穿過，所述的蓋板正對所述的安裝槽，當所述的夾緊氣缸的氣缸軸縮回時，所述的蓋板蓋在所述的安裝槽上，所述的蓋板與所述的安裝槽之間形成所述的定位臺。

所述的翻轉機構包括旋轉氣缸，所述的定位臺固定安裝在所述的旋轉氣缸的氣缸軸上，所述的定位臺上設置有上端開口的插槽，在檢測時，磁性元件插入所述的插槽內且被固定。