[發明專利]利用不同電子電離能量的電子電離

有效

• 申請號: 201410222159.8
• 申請日: 2014-05-23
• 公開（公告）號: CN104241075B
• 公開（公告）日: 2018-06-08
• 發明（設計）人: H.F.普雷斯特;M.王;J.T.科南
• 申請（專利權）人: 安捷倫科技有限公司
• 主分類號: H01J49/14
• 分類號: H01J49/14;H01J49/34
• 代理公司: 北京坤瑞律師事務所 11494
• 代理人: 封新琴

1.一種用于獲取質譜數據的方法，所述方法包括：

(a)以第一電子能量在電子電離(EI)源中產生電子束；

(b)將包含目的分析物的樣品引入EI源；

(c)以所述第一電子能量采用所述電子束照射樣品來從所述目的分析物中產生第一分析物離子；

(d)將所述第一分析物離子傳送到質量分析器中來產生與所述第一電子能量相關聯的第一質譜；

(e)將電子能量調節至與所述第一電子能量不同的第二電子能量；

(f)以所述第二電子能量采用所述電子束照射樣品來從所述目的分析物中產生第二分析物離子；以及

(g)將所述第二分析物離子傳送到質量分析器中來產生與所述第二電子能量相關聯的第二質譜，

特征在于，

從所述第一質譜和第二質譜中，確定所述第一電子能量和第二電子能量中的哪個是產生目標分析物離子的最高豐度、或產生目標分析物離子與其他碎片離子的最高比率、或產生目標分析物離子的最高豐度及目標分析物離子與其他碎片離子的最高比率這二者的目標電子能量，其中，所述目標分析物離子是已知具有所述目的分析物的特征的離子；并且調節所述電子束至所述目標電子能量、將額外的樣品引入所述EI源中、以及以所述目標電子能量電離所述額外的樣品。

2.根據權利要求1所述的方法，在以所述第二電子能量照射樣品之后，包括下列中的至少一個：

循環所述第一電子能量與第二電子能量之間的電子束一次或多次，每次重復照射樣品和將離子傳送到質量分析器中的步驟；

通過重復一次或多次調節電子能量、照射樣品以及將離子傳送到質量分析器中的步驟，基于一個或多個額外的電子能量，產生一個或多個額外的質譜；以及

通過重復一次或多次調節電子能量、照射樣品以及將離子傳送到質量分析器中的步驟，基于一個或多個額外的電子能量，產生一個或多個額外的質譜；并且通過將相關數據存儲在存儲器中來建立光譜庫，其中，所述相關數據使每個質譜與用于產生質譜的電子能量相關聯。

3.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中：

所述目的分析物是第一目的分析物；

引入樣品包括從色譜柱洗脫多個峰，包括含有所述第一目的分析物的第一峰，其中，在所述第一峰之后的每個峰包括不同于所述第一目的分析物的相應的目的分析物，且這些峰依次進入所述EI源；

對于每個峰來說，執行權利要求1的步驟(c)-(g)；

其中，對于每個峰來說，基于所述第一電子能量的第一質譜和基于所述第二電子能量的第二質譜被產生。

4.根據權利要求1和2中任一項所述的方法，包括基于由所述第一質譜所提供的光譜數據來選擇所述第二電子能量，其中，引入樣品包括從色譜柱洗脫含有所述目的分析物的峰，并且進行選擇所述第二電子能量的同時洗脫所述峰。

5.根據權利要求1和2中任一項所述的方法，其中，所述樣品已知包括或疑似包括至少第一目的分析物和第二目的分析物，并且還包括選擇所述第一電子能量以優先地產生已知具有所述第一目的分析物的特征的第一目標分析物離子，以及選擇所述第二電子能量以優先地產生已知具有所述第二目的分析物的特征的第二目標分析物離子。

6.根據權利要求1和2中任一項所述的方法，包括以下中的至少一個：

基于所述樣品的屬性，選擇所述第一電子能量和所述第二電子能量中的至少一個；

基于所述樣品的屬性，選擇所述第一電子能量和所述第二電子能量中的至少一個，其中，選擇包括操作控制器來訪問其中存儲有相關數據的存儲器，并且其中，所述相關數據將不同屬性與要在所述EI源中所利用的相應電子能量相關聯；以及

基于所述樣品的屬性，選擇所述第一電子能量和所述第二電子能量中的至少一個，其中，所述屬性選自由以下構成的組：已知或疑似包括在所述樣品中的目的分析物的類型；包括已知或疑似包括在所述樣品中的目的分析物的化合物的類別；所述樣品要被流入到EI源中所采用的基質；以及前述中的兩個或更多個。