[發(fā)明專利]一種高效N型晶體硅刻槽埋柵電池的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410217901.6 | 申請日: | 2014-05-22 |
| 公開(公告)號: | CN104009118A | 公開(公告)日: | 2014-08-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫海平;高艷濤;邢國強(qiáng) | 申請(專利權(quán))人: | 奧特斯維能源(太倉)有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0224 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 劉燕嬌 |
| 地址: | 215434 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高效 晶體 硅刻槽埋柵 電池 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及太陽能電池制造領(lǐng)域,具體是一種N型晶體硅太陽能電池正面低表面濃度的刻槽埋柵技術(shù)以及雙面電池技術(shù)。
背景技術(shù)
現(xiàn)代化太陽能電池工業(yè)化生產(chǎn)朝著高效低成本化方向發(fā)展,正面選擇性發(fā)射結(jié)加刻槽埋柵技術(shù)與雙面電池技術(shù)相結(jié)合作為高效低成本發(fā)展方向的代表,其優(yōu)勢在于:
(1)????刻槽埋柵這一技術(shù)具有金屬柵線遮光面積小,較高電流收集面積;
(2)選擇性發(fā)射結(jié)技術(shù)有效地降低了金屬柵線與硅基體材料的接觸電阻,并???????????提高了電池的受光區(qū)域(非金屬化區(qū)域)對短波段光的吸收;
(3)雙面電池不僅能夠利用正面入射的太陽光還能利用背面的散射光等,提高了電池的發(fā)電量。而且該種電池更適合建筑一體化,?以及垂直安裝等應(yīng)用;
(4)使用N型晶體硅做襯底,具有較高的少子壽命,可以減少光生載流子在太陽電池表面和體內(nèi)復(fù)合,因此特別適合制作高效的雙面電池。
本發(fā)明基于對刻槽埋柵技術(shù)、選擇性發(fā)射結(jié)技術(shù)、噴墨打印技術(shù)以及N型雙面電池技術(shù),提出了結(jié)合三種技術(shù)的高效晶體硅太陽能電池制作方法。
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明目的:為了解決現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明針對低成本可量產(chǎn)刻槽埋柵加選擇性發(fā)射結(jié)與雙面電池技術(shù)結(jié)合的晶硅太陽能電池制備方法的缺乏,提出了一種高效N型晶體硅刻槽埋柵電池的制備方法。
技術(shù)方案:本發(fā)明所述的一種N型晶體硅刻槽埋柵電池的制備方法,具體步驟包括:
(a):單晶硅兩面激光開槽
選擇電阻率為0.3???cm~2???cm的N型硅片,在激光的脈沖能量為0.05uJ~0.8uJ,頻率為50KHz~5000KHz的條件下,采用ns激光器在在襯底兩側(cè)按照電極圖形開槽,槽寬為5um~50um,深為5um~100um,線間距為0.5mm~1.5mm;
(b):制絨并對其清洗
用濃度為0.5%~2%的氫氧化鈉溶液在75℃~80℃時對N型單晶硅表面進(jìn)行化學(xué)腐蝕,制備出三角形的陷光結(jié)構(gòu)絨面,然后將濃度為10%~12%的鹽酸和濃度為8%~10%氫氟酸混合后對絨面進(jìn)行清洗,除去表面雜質(zhì);
(c):在N型硅襯底的前表面進(jìn)行硼擴(kuò)散
在溫度為600-1000℃的擴(kuò)散爐中,采用BBr3進(jìn)行硼擴(kuò)散,使N型晶體硅的擴(kuò)散面方阻為20-90ohm/sq,形成PN結(jié);或者先在N型晶體的刻槽面注入硼源,在離子束能量為15keV、離子注入量為15×7cm-2后,再在溫度為800℃~1000℃的退火爐中退火,退火后的N型晶體硅方阻為20-90ohm/sq,形成PN結(jié);
(d):選擇性發(fā)射極形成以及去背結(jié)、邊結(jié)以及硼硅玻璃
用噴頭在開槽部位噴上寬度為5μm~70μm掩膜,再在單面刻蝕的設(shè)備中,將濃度為8%~10%的氫氟酸和濃度為35%~40%的硝酸混合后,在常溫下刻蝕硅片的背面和側(cè)面,然后將濃度為7%~12%的氫氟酸和濃度為35%~40%的硝酸混合后,在溫度為2℃~10℃時對硅片的刻槽面進(jìn)行腐蝕,使得無掩膜區(qū)的方阻為70-150ohm/sq,然后去除掩膜和表面的硼硅玻璃,最后再烘干;
?(e):背面離子注入磷并退火
在N型硅襯底的背面離子注入磷并進(jìn)行退火處理,退火溫度為600℃-800℃,形成N+層,退火后的方阻范圍為20-80ohm/sq;
?(f)雙面鍍膜
在襯底的正面制備厚度為50nm~100nm的氧化鋁和氮化硅或氧化硅和氮化硅或氧化鋁、氧化硅和氮化硅復(fù)合膜,在背面鍍厚度為50nm~100nm的氮化硅膜或氧化硅和氮化硅復(fù)合膜,
?(g)?制備電池的電極
采用噴墨打印技術(shù)在電池的正面開槽處噴印厚度為1-100um,寬度為5-60um的銀鋁漿形成電池的正極,背面開槽處噴印厚度為1-100um,寬度為5-60um的杜邦17F漿料或杜邦18A漿料形成電池的負(fù)極,在溫度為400℃~800℃的燒結(jié)爐中進(jìn)行共燒即可。
步驟a中對單晶硅的正面和背面分別進(jìn)行開槽。
步驟c中對單晶硅的正面擴(kuò)散,形成PN結(jié),
步驟d中所述的掩膜的寬度大于或等于PN結(jié)一側(cè)凹槽的寬度。
步驟e中對單晶硅的背面制NN+高低結(jié)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





