[發明專利]一種微試樣夾持裝置的夾持方法

有效

• 申請號: 201410217895.4
• 申請日: 2014-05-21
• 公開（公告）號: CN105082003B
• 公開（公告）日: 2017-03-29
• 發明（設計）人: 董樑;惠虎;湯曉英;鐘誠;楊帆;王路逸;倪鵬;湯俊雄;王曉東;徐志岳;路亞慶
• 申請（專利權）人: 華東理工大學
• 主分類號: B25B11/00
• 分類號: B25B11/00;G01N1/32
• 代理公司: 上海三和萬國知識產權代理事務所(普通合伙)31230
• 代理人: 劉立平

1.一種微試樣夾持裝置，其特征在于：其包括：夾持部件(1)、調節部件(2)、吸附部件(3)和真空泵(4)；所述夾持部件(1)為上部敞口、下部開孔的內螺紋套筒，所述調節部件(2)為中間貫通的外螺紋套筒，所述夾持部件(1)與調節部件(2)通過螺接配合形成腔體，所述調節部件(2)內部設置臺階(15)；所述吸附部件(3)包括中空芯桿(5)，在所述中空芯桿(5)的底部套接有用于吸附微試樣的吸盤(6)，在所述中空芯桿(5)下部設置與所述臺階(15)配合并用于支撐調節部件(2)的凸臺(7)，所述凸臺(7)的外徑與夾持部件的內徑相適應，所述吸附部件(3)貫穿于所述腔體，通過氣管與真空泵(4)連接。

2.根據權利要求1所述的微試樣夾持裝置，其特征在于，所述中空芯桿(5)底部邊緣設置外凸緣(13)，所述吸盤(6)設置有與所述外凸緣配合套嵌的內凹槽。

3.根據權利要求1所述的微試樣夾持裝置，其特征在于，所述吸盤(6)為硅膠吸盤，所述硅膠吸盤上部為硅膠套接件(8)，所述硅膠吸盤下部為雙層吸盤(9)；所述夾持部件(1)的下部開孔孔徑小于硅膠套接件(8)的外徑而大于雙層吸盤(9)的口徑。

4.根據權利要求1所述的微試樣夾持裝置，其特征在于，所述夾持部件(1)內表面的下部設置有定位肩(10)。

5.根據權利要求1所述的微試樣夾持裝置，其特征在于，所述夾持部件(1)底部設置用于平衡試樣磨削時所產生的剪切力的沉孔(11)，所述沉孔(11)與中空芯桿的通孔和夾持部件的下部開孔同軸設置。

6.根據權利要求1所述的微試樣夾持裝置，其特征在于，所述調節部件(2)設置有與調節部件的外螺紋配合的鎖緊螺母(12)。

7.根據權利要求1所述的微試樣夾持裝置，其特征在于，所述調節部件(2)的外螺紋套筒的長度大于夾持部件的內螺紋套筒的內腔深度。

8.根據權利要求1所述的微試樣夾持裝置，其特征在于，所述中空芯桿(5)底部邊緣的外凸緣粗糙度小于3.2。

9.根據權利要求1所述的微試樣夾持裝置，其特征在于，所述夾持部件(1)的外圍的下部為外六角。

10.一種微試樣的夾持方法，其特征在于，所述方法應用權利要求1-9任一項所述的微試樣夾持裝置，包括如下步驟：將要研磨的試樣裝入夾持部件底部的沉孔內，打開真空泵，通過吸附部件的吸盤吸住該試樣，選擇砂紙，先粗磨再逐級研磨，磨削一段時間后旋轉裝置方向，完成粗磨后更換砂紙進行拋光。