[發明專利]體積電阻與方塊電阻轉換校準裝置及其校準方法

有效

• 申請號: 201410217300.5
• 申請日: 2014-05-21
• 公開（公告）號: CN103954927A
• 公開（公告）日: 2014-07-30
• 發明（設計）人: 周學峰;閆萍
• 申請（專利權）人: 常州天合光能有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 常州市科誼專利代理事務所 32225
• 代理人: 孫彬

技術領域

本發明涉及一種體積電阻與方塊電阻轉換校準裝置及其校準方法，屬于太陽能晶體硅電池擴散后方塊電阻的測量領域。

背景技術

目前，現有國內沒有專門對校準模組的校準裝置也有沒有專門的校準方法，需要送到國外原廠做專門校準。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是克服現有技術的缺陷，提供一種體積電阻與方塊電阻轉換校準裝置，它能夠實現對校準模組的校準，從而保證太陽能晶體硅電池擴散后方塊電阻測量的準確性和溯源性。

為了解決上述技術問題，本發明的技術方案是：一種體積電阻與方塊電阻轉換校準裝置，它包括電流源、電壓采集設備、RS232輸出接口和用來插接待測校準模組的RS232輸入接口，RS232輸出接口的第一1號針腳、第一2號針腳、第一3號針腳和第一4號針腳和RS232輸入接口的第二1號針腳、第二2號針腳、第二3號針腳和第二4號針腳分別通過接線回路對應連接；所述的電流源的一極連接在第一1號針腳和第二1號針腳的接線回路中，其另一極連接在第一4號針腳和第二4號針腳的接線回路中；所述的電壓采集設備的一極連接在第一2號針腳第二2號針腳的接線回路中；其另一極連接在第一3號針腳和第二3號針腳的接線回路中。

進一步為了避免外部環境對輸入電流和輸出電壓的影響，所述的電流源的兩極分別與相應的接線回路的連接中設置有防干擾磁性線圈，所述的電壓采集設備的兩極分別與相應的接線回路的連接中也設置有防干擾磁性線圈。

本發明還提供了一種體積電阻與方塊電阻轉換校準裝置的校準方法，該方法的步驟如下：

a)將待測校準模組插入RS232輸入接口中；

b)通過電流源向第一1號針腳和第二1號針腳的接線回路以及第一4號針腳和第二4號針腳的接線回路中輸入電流I；其中，電流的單位為mA；

c)采用電壓采集設備采集第一2號針腳和第二2號針腳的接線回路以及第一3號針腳和第二3號針腳的接線回路中之間的輸出電壓V；其中，電壓的單位為mV；

d)計算待測校準模組的體積電阻R及方塊電阻R_S，其計算公式如下：R＝V/I；R_S＝k*R，其中，k＝π/ln2。

采用了上述技術方案后，本發明能夠準確地測出其體積電阻R，從而得知其方塊電阻RS，從而能夠實現對校準模組的校準，從而保證太陽能晶體硅電池擴散后方塊電阻測量的準確性和溯源性。

附圖說明

圖1為本發明的體積電阻與方塊電阻轉換校準裝置的結構示意圖；

圖2為直線四探針的測量原理圖。

具體實施方式

為了使本發明的內容更容易被清楚地理解，下面根據具體實施例并結合附圖，對本發明作進一步詳細的說明。

如圖1所示，一種體積電阻與方塊電阻轉換校準裝置，它包括電流源1、電壓采集設備2、RS232輸出接口3和用來插接待測校準模組的RS232輸入接口4，RS232輸出接口3的第一1號針腳、第一2號針腳、第一3號針腳和第一4號針腳和RS232輸入接口4的第二1號針腳、第二2號針腳、第二3號針腳和第二4號針腳分別通過接線回路對應連接；電流源1的一極連接在第一1號針腳和第二1號針腳的接線回路中，其另一極連接在第一4號針腳和第二4號針腳的接線回路中；電壓采集設備2的一極連接在第一2號針腳第二2號針腳的接線回路中；其另一極連接在第一3號針腳和第二3號針腳的接線回路中。電流源1采用Source?Meter數字源表，電壓采集設備2采用Reference?MultimeTer，本發明的校準模組為280SI-MIC校準模組，它是用：低阻值的模塊用的是金屬電阻，高阻值的模塊用的是碳膜和金屬氧化膜材料做成的(精密度＜0.1％)，測量接口統一采用RS232-IOIOI。RS232輸出接口3和RS232輸入接口4是采用數字萬用表的塑料殼作為機體，將一對RS232-IO測試轉接口用緊固螺絲固定，電流/電壓測試通道的額定范圍為1A/20V。

電流源1的兩極分別與相應的接線回路的連接中設置有防干擾磁性線圈5，所述的電壓采集設備2的兩極分別與相應的接線回路的連接中也設置有防干擾磁性線圈5。

一種體積電阻與方塊電阻轉換校準裝置的校準方法，該方法的步驟如下：

a)將待測校準模組插入RS232輸入接口4中；

b)通過電流源1向第一1號針腳和第二1號針腳的接線回路以及第一4號針腳和第二4號針腳的接線回路中輸入電流I；其中，電流的單位為mA；