[發明專利]激光參數測量中光導型探測器的光熱效應修正方法

有效

• 申請號: 201410216004.3
• 申請日: 2014-05-21
• 公開（公告）號: CN104048754A
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發明（設計）人: 張檢民;馮國斌;邵碧波;楊鵬翎;陳紹武;葉錫生
• 申請（專利權）人: 西北核技術研究所
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42;G01D3/028
• 代理公司: 西安文盛專利代理有限公司 61100
• 代理人: 李中群

1.激光參數測量中光導型探測器的光熱效應修正方法，其特征在于，包括以下步驟：

[1]測量光導型探測器暗電阻和響應率隨溫度的變化數據，進行曲線擬合分別得到暗電阻和響應率隨溫度變化的函數R_D(T)和R_V(T)；

[2]對激光作用前后及激光輻照過程中的探測器輸出信號在時間域進行離散采樣，第n次采樣所得的探測器輸出信號為V(n)，其中輻照持續期間的采樣點序號為1～N，N為正整數，輻照結束后第一個采樣點序號為N+1，輻照開始前一個采樣點序號為0；

[3]輻照結束后第一個采樣信號V(N+1)減去輻照前的信號V(0)得到出光結束后的熱殘留信號V_res；

[4]分別計算不同采樣時刻的基線漂移信號，其中第n次采樣(0<n<N+1)時的基線漂移量為

[5]分別計算不同采樣時刻光敏元的工作溫度，其中第n次采樣時刻的工作溫度計算步驟為：

[5.1]由公式R_D,n(T_n)=[V(0)+V_res,n]I_B，計算得到第n次采樣時刻的探測器暗電阻R_D,n(T_n)，式中I_B為檢測電路加載在探測器上的偏置電流；

[5.2]根據步驟[1]中暗電阻隨溫度變化函數R_D(T)和[5.1]中的R_D,n(T_n)，反演求解得到該采樣時刻的探測器工作溫度T_n；

[6]分別計算不同采樣時刻的電壓響應率，其中第n次采樣時刻的電壓響應率R_V(T_n)的計算步驟為：將探測器工作溫度T_n代入步驟[1]中響應率隨溫度變化函數R_V(T)中計算而得；

[7]分別計算不同時刻的待測激光功率，其中第n次采樣時刻的激光功率為P_n=[V(n)-V_res,n]R_V(T_n)。

2.根據權利要求1所述的激光參數測量中光導型探測器的光熱效應修正方法，其特征在于：所述步驟[1]中的R_D(T)和R_V(T)是采用溫度循環試驗獲取的擬合曲線參數。

3.根據權利要求1所述的激光參數測量中光導型探測器的光熱效應修正方法，其特征在于：所述的光導型探測器為碲鎘汞或銻化銦。

4.根據權利要求1所述的激光參數測量中光導型探測器的光熱效應修正方法，其特征在于：所述的光導型探測器的工作方式為恒流驅動。