[發明專利]一種基于容性負載自動調整技術的晶振精度控制方法

在審

• 申請號: 201410212250.1
• 申請日: 2014-05-19
• 公開（公告）號: CN104065374A
• 公開（公告）日: 2014-09-24
• 發明（設計）人: 劉濤
• 申請（專利權）人: 浪潮電子信息產業股份有限公司
• 主分類號: H03L1/02
• 分類號: H03L1/02
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司 37100
• 代理人: 姜明

1.一種基于容性負載自動調整技術的晶振精度控制方法，其特征在于包括以下步驟：

①以25攝氏度為參考基準，調整晶振的輸出端的負載電容值，使晶振的溫度漂移控制在+/-10ppm以內（即溫漂量程范圍為20ppm）；

②獲取-15至50攝氏度范圍內晶振精度漂移的溫度變化曲線，橫坐標為溫度，縱坐標為晶振精度漂移，在縱坐標上以20ppm為步長，劃定各個漂移區間，漂移區間A、漂移區間B、漂移區間C等；

③在晶振精度漂移的溫度變化曲線上，各個漂移區間的縱坐標方向中點，其對應的橫坐標即為溫度穩定極點，即該溫度值下，如果控制使能對應大小晶振的容性負載，可使該溫度精度漂移控制在+/-10ppm以內；

④根據各個漂移區間對應的溫度穩定極點，可測試出對應的晶振的容性負載的值；根據溫度穩定極點的不同，通過動態切換電容的組合，實現容值的自動匹配。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于以25攝氏度為參考基準，調整晶振輸出端的負載電容值，使晶振的溫度漂移控制在+/-10ppm以內，需要將晶振所在的服務器主板置于恒定25攝氏度溫度的測試環境中，采用頻率計實時讀取晶振頻率，連續三次均準確在+/-10ppm以內，則認為當前的容值準確，容值的調整方法為若晶振頻率偏低，則減小容值，若晶振頻率偏高，則增大容值。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于獲取-15至50攝氏度范圍內晶振精度漂移的溫度變化曲線，橫坐標為溫度，縱坐標為晶振精度漂移，從-15攝氏度至50攝氏度，溫度每變化1攝氏度，則記錄晶振當前溫度下對應的頻率值，并根據與標準頻率的偏差比對，換算為ppm值，將每個溫度點下對應的ppm值點采用曲線擬合進行連續化實現；在縱坐標上以20ppm為步長，劃定各個漂移區間。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于在晶振精度漂移的溫度變化曲線上，各個漂移區間的縱坐標方向中點，其對應的橫坐標即為溫度穩定極點，即該溫度值下，如果控制使能對應大小晶振的容性負載，可使該溫度精度漂移控制在+/-10ppm以內，溫度穩定極點離散分布在各個溫度區間上，每個溫度穩定極點均對應一個容性負載，實現容性負載跟隨溫度的自動更新即實現整個溫度區間的+/-10ppm溫漂控制。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于根據各個漂移區間對應的溫度穩定極點，可測試出對應的晶振的容性負載的值；根據溫度穩定極點的不同，通過動態切換電容的組合，實現容值的自動匹配，容值的動態切換需要實時檢測環境溫度的變化，根據電容的串并聯組合，采用模擬開關，在不同的漂移區間，按照ppm精度要求，搭配出對應需求的容性負載。