[發明專利]一種接口檢測電路、裝置及方法

無效

• 申請號: 201410210915.5
• 申請日: 2014-05-19
• 公開（公告）號: CN105092998A
• 公開（公告）日: 2015-11-25
• 發明（設計）人: 安云霖;李軍;程喬喬;徐旭偉
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種接口檢測電路，其特征在于，所述接口檢測電路包括：決策模塊、檢測模塊，其中：

所述決策模塊，與所述檢測模塊相連，用于向所述檢測模塊發送打開信號，所述打開信號用于打開所述檢測模塊；

所述檢測模塊，用于連接設備接口，檢測所述設備接口上的負載阻抗，并生成與所述負載阻抗對應的負載信號；

所述決策模塊，還用于當所述負載信號滿足預設狀態條件時，確定所述設備接口的接口狀態為已插入狀態，或，當所述負載信號不滿足所述預設狀態條件時，確定所述接口狀態為未插入狀態。

2.根據權利要求1所述的接口檢測電路，其特征在于，所述決策模塊還用于：

在確定所述接口狀態為所述已插入狀態后，向所述檢測模塊發送關閉信號，所述關閉信號用于關閉所述檢測模塊。

3.根據權利要求2所述的接口檢測電路，其特征在于，所述決策模塊還用于：

在向所述檢測模塊發送所述關閉信號后，間隔第一預設時間，向所述檢測模塊發送所述打開信號，并再次從所述檢測模塊獲取所述負載信號，根據所述負載信號確定所述接口狀態。

4.根據權利要求1所述的接口檢測電路，其特征在于，所述決策模塊還用于：

在確定所述接口狀態為所述未插入狀態后，間隔第二預設時間，向所述檢測模塊發送所述打開信號，并再次從所述檢測模塊獲取所述負載信號，根據所述負載信號確定所述接口狀態。

5.根據權利要求1至4任一所述的接口檢測電路，其特征在于，

所述決策模塊包括中央處理器CPU；

所述檢測模塊包括：第一晶體管、第二晶體管、第三晶體管、第一電阻、第二電阻、第三電阻及第四電阻，所述第一晶體管與所述第二晶體管為雙極型晶體管，所述第三晶體管為場效應晶體管；

所述CPU的第一接口與所述第一電阻的第一端、第二電阻的第一端相連，第二接口與所述第三晶體管的漏極相連；

所述第一晶體管的基極與所述第一電阻的第二端相連，集電極與所述第三晶體管的柵極、所述第三電阻的第一端相連，發射極與所述設備接口的第一端相連；

所述第二晶體管的基極與所述第二電阻的第二端相連，集電極與所述設備接口的第二端相連，發射極與第一電壓端相連；

所述第三電阻的第二端與第二電壓端相連；

所述第三晶體管的源極與所述第一電壓端相連，漏極還與所述第四電阻的第一端相連；

所述第四電阻的第二端與所述第二電壓端相連；

所述第一電壓端為低電平，所述第二電壓端為高電平；

所述決策模塊中的所述CPU向所述檢測模塊發送所述打開信號，所述打開信號包括將所述第一電阻的第一端電壓置為高電平的信號，使得所述第一電阻的第二端電壓、所述第二電阻的第二端電壓都為高電平，所述第一晶體管與所述第二晶體管導通；

所述檢測模塊根據所述設備接口的第一端與第二端的連接情況，獲取相應所述負載信號，所述負載信號為所述第三晶體管的漏極電壓；當所述設備接口的第一端與第二端已存在連接時，所述第一晶體管的集電極電壓為低電平，所述第三晶體管導通，所述第三晶體管的漏極電壓為低電平；或，當所述設備接口的第一端與第二端不存在連接時，所述第一晶體管的集電極電壓為低電平，所述第三晶體管截止，所述第三晶體管的漏極電壓為高電平；

當所述第三晶體管的漏極電壓為低電平時，所述決策模塊中的所述CPU確定所述接口狀態為已插入狀態，或，當所述第三晶體管的漏極電壓為高電平時，確定所述接口狀態為未插入狀態。

6.一種接口檢測裝置，其特征在于，所述接口檢測裝置包括設備接口、權利要求1至5任一所述的接口檢測電路。

7.一種接口檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

初始化階段：決策模塊向檢測模塊發送打開信號，所述打開信號用于打開所述檢測模塊；

檢測階段：所述檢測模塊檢測設備接口上的負載阻抗，并生成與所述負載阻抗對應的負載信號；

決策階段：當所述負載信號滿足預設狀態條件時，所述決策模塊確定所述設備接口的接口狀態為已插入狀態，或，當所述負載信號不滿足所述預設狀態條件時，所述決策模塊確定所述接口狀態為未插入狀態。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，在所述決策模塊確定所述設備接口的接口狀態為已插入狀態之后，所述方法還包括：

所述決策模塊向所述檢測模塊發送關閉信號，所述關閉信號用于關閉所述檢測模塊，停止檢測。