[發明專利]通過霍爾傳感器感測滑動的方法和使用該方法的感測系統

有效

• 申請號: 201410210358.7
• 申請日: 2014-05-19
• 公開（公告）號: CN104423572B
• 公開（公告）日: 2019-08-20
• 發明（設計）人: 樸承煥;陳炯男
• 申請（專利權）人: 美格納半導體有限公司
• 主分類號: G06F3/01
• 分類號: G06F3/01;H04M1/725
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 朱勝;李春暉

1.一種通過傳感器感測在第一方向上的移動的方法，包括：

布置離開第二霍爾元件在所述第一方向上移位的第一霍爾元件；

布置磁場源，所述磁場源配置成生成磁場；

在所述第一霍爾元件和所述第二霍爾元件中的每個處，測量所述磁場；

對在所述第一霍爾元件處測量的磁場的強度和在所述第二霍爾元件處測量的磁場的強度進行比較；以及

確定是否發生所述移動，

其中，布置所述第一霍爾元件和所述第二霍爾元件包括在第一本體上布置所述第一霍爾元件和所述第二霍爾元件，

其中，布置所述磁場源包括在第二本體上布置所述磁場源，

其中，確定是否發生所述移動包括確定所述第二本體是否相對于所述第一本體在所述第一方向上移動，以及

其中，所述第一本體包括包含傳感器芯片的終端。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，對磁場的強度進行比較包括測量在所述第一霍爾元件處測量的磁場強度和在所述第二霍爾元件處測量的磁場強度的相似度。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，測量所述相似度包括確定在所述第一霍爾元件處測量的磁場強度與在所述第二霍爾元件處測量的磁場強度的比例。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，對磁場強度進行比較還包括測量所述磁場強度的標準偏差。

5.根據權利要求4所述的方法，其中，確定是否發生所述移動包括：響應于測量到所述相似度滿足閾值和所述標準偏差滿足閾值，確定所述第二本體沒有改變位置。

6.根據權利要求4所述的方法，其中，確定是否發生所述移動還包括：響應于所述相似度未滿足閾值和所述標準偏差未滿足閾值中之一，確定所述第二本體改變位置。

7.根據權利要求3所述的方法，其中，所述相似度的閾值為從0.5到1.5的范圍。

8.根據權利要求4所述的方法，其中，所述標準偏差的閾值為從0到0.5的范圍。

9.根據權利要求1所述的方法，其中，所述第二本體包括包含磁體的翻蓋。

10.根據權利要求1所述的方法，還包括：

布置在所述第一方向上與第四霍爾元件移位的第三霍爾元件；以及

在所述第三霍爾元件和所述第四霍爾元件中的每個處，測量磁場強度。

11.一種感測裝置，包括：

兩個或更多個霍爾元件，配置成收集蓋上的磁場源所生成的磁場強度；

相似度測量單元，配置成測量所述磁場強度的相似度；

標準偏差測量單元，配置成測量所述磁場強度的標準偏差；

檢查單元，配置成檢查是否滿足所述相似度和所述標準偏差中之一；以及

確定單元，配置成基于所述檢查單元的檢查結果，確定是否發生所述蓋離開包括所述兩個或更多個霍爾元件的本體的表面的水平滑動。

12.根據權利要求11所述的感測裝置，其中，所述確定單元配置成響應于所述相似度和所述標準偏差滿足閾值，確定未發生所述蓋的滑動。

13.根據權利要求11所述的感測裝置，其中，所述確定單元配置成響應于所述相似度和所述標準偏差中之一未滿足閾值，確定發生了所述蓋的滑動。

14.根據權利要求11所述的感測裝置，其中，所述相似度的閾值為從0.5到1.5的范圍，以及其中，所述標準偏差的閾值為從0到0.5的范圍。