[發明專利]超聲波檢測方法和超聲波分析方法在審
| 申請號: | 201410207248.5 | 申請日: | 2014-05-16 |
| 公開(公告)號: | CN104165926A | 公開(公告)日: | 2014-11-26 |
| 發明(設計)人: | M.C.弗雷達;F.A.里德 | 申請(專利權)人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號: | G01N29/04 | 分類號: | G01N29/04 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 肖日松;譚祐祥 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 超聲波 檢測 方法 分析 | ||
1.?一種超聲波檢測方法,包括:
提供具有發射相控陣裝置和接收相控陣裝置的超聲波檢測系統;和
穿過回轉體從所述發射相控陣裝置到所述接收相控陣裝置發射和接收相控陣波,從而獲得關于所述回轉體的超聲波檢測信息。
2.?根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述回轉體選自由通過整體鍛造制成的物件構成的集合,諸如渦輪轉子、實心蒸汽轉子的軸、渦輪轉子輪下方的部分、和葉片附件。
3.?根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述發射相控陣裝置和所述接收相控陣裝置形成相控陣裝置的布置。
4.?根據權利要求3所述的方法,其特征在于,還包括相控陣裝置的多個布置。
5.?根據權利要求4所述的方法,其特征在于,相控陣裝置的各個布置從不同位置獲得所述超聲波檢測信息。
6.?根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述發射相控陣裝置相對于所述接收相控陣裝置定位,以生成穿過所述回轉體的預定體積的場。
7.?根據權利要求6所述的方法,其特征在于,所述發射和接收相控陣裝置的定位是自動的。
8.?根據權利要求1所述的方法,其特征在于,還包括分析之前檢測到的反射特征。
9.?根據權利要求1所述的方法,其特征在于,還包括檢測所述回轉體內的反射特征的存在。
10.?根據權利要求9所述的方法,其特征在于,所述反射特征包括從由空隙、瑕疵、疲勞材料、裂縫和腐蝕構成的集合中選擇的缺陷。
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