[發明專利]表層模型對地震數據影響的低頻與高頻成分的分解方法

有效

• 申請號: 201410207196.1
• 申請日: 2014-05-15
• 公開（公告）號: CN105093280B
• 公開（公告）日: 2018-04-06
• 發明（設計）人: 林伯香;袁聯生;徐穎;朱海波
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油物探技術研究院
• 主分類號: G01V1/28
• 分類號: G01V1/28;G01N1/30;G01N1/36
• 代理公司: 北京思創畢升專利事務所11218
• 代理人: 郭韞

技術領域

本發明屬于地震勘探資料數據處理領域，具體涉及一種表層模型對地震數據影響的低頻與高頻成分的分解方法。

背景技術

受現有速度建模技術的局限，起伏地表偏移還需要對地震數據應用靜校正方法，消除表層模型影響的高頻部分。表層模型影響的低頻部分仍保留在數據中，由速度建模和偏移解決。相應地，在對地震數據進行表層模型影響的高頻部分校正后，僅消除了表層模型橫向快速變化部分的影響，表層模型影響的低頻成分還在。表層模型影響的高頻成分包含高頻時間校正量與高程改變量2部分，對地震數據進行表層模型影響的高頻成分校正包含了對地震數據的靜校正時移和對炮點、接收點高程的改變。改變后的炮點和接收點高程所在位置常被稱為平滑基準面。

當前進行表層模型影響低頻與高頻成分的分解有2條路線。一是先計算平滑基準面再計算高頻時間校正量與高程改變量，即先對地表高程進行平滑得到一個平滑基準面，把地震數據校正到平滑基準面所需要的靜校正量歸入高頻成分，其余歸入低頻成分；二是先計算高頻時間校正量再計算平滑基準面與高程改變量，即先按一定的原則從靜校正量中分解出高頻時間校正量，再利用時間校正量的低頻成分反推出平滑基準面。這2條路線計算的時間校正量和高程改變量都不僅僅是對表層模型橫向快速變化部分的反映，包含了對表層模型低速帶低頻成分的剝離與填充。

發明內容

本發明的目的在于解決上述現有技術中存在的難題，提供一種表層模型對地震數據影響的低頻與高頻成分的分解方法，根據實際表層模型參數和給定的平滑范圍參數，計算表層模型的低頻成分，進而計算表層模型影響的高頻成分即高頻時間校正量和高程改變量。該高頻成分代表表層模型影響中橫向快速變化的部分，可用于在起伏地表偏移中對表層模型影響中橫向快速變化且偏移、建模技術無法正確處理部分的校正。對地震數據應用該高頻時間校正量和高程改變量后，不改變表層模型低頻成分對地震數據的影響。

本發明是通過以下技術方案實現的：

一種表層模型對地震數據影響的低頻與高頻成分的分解方法，包括：

(1)輸入表層模型數據、平滑范圍和工區替換速度參數v_R；

(2)計算表層模型低頻成分的頂界高程，即平滑基準面高程；

(3)計算表層模型低頻成分的底界高程；

(4)計算表層模型低頻成分的平均速度；

(5)計算表層模型影響的高頻成分，即時間校正量和高程改變量；

(6)重復步驟(2)到(5)完成所有測點的計算，然后輸出所述低頻成分的頂界高程、底界高程、平均速度、表層模型影響的高頻成分的時間校正量和高程改變量。

所述步驟(1)中，所述表層模型數據包括測點平面坐標、頂界高程、底界高程、平均速度；所述平滑范圍是計算表層模型低頻成分的平滑范圍；

實際表層模型由頂界高程、底界高程和平均速度3個參數描述，頂界高程即測點高程，平均速度是頂界與底界之間介質的平均速度；表層模型低頻成分同樣由頂界高程、底界高程和平均速度3個參數描述；

設平面位置x測點處實際表層模型的頂界高程、底界高程、平均速度分別為e_s(x)、e_b(x)、v(x)，要計算的表層模型低頻成分的頂界高程、底界高程、平均速度分別用E_s(x)、E_b(x)、V(x)表示；

給定的平滑范圍是一個二維窗口，當地震勘探是一條二維測線時平滑范圍退化為一維窗口，；

相對于待計算測點，平滑范圍包含待計算測點，并隨著待計算測點位置的變化平移。

所述步驟(2)是這樣實現的：

表層模型低頻成分的頂界高程E_s(x)是給定平滑范圍內實際表層模型靜校正量在給定平滑范圍內的加權平均值所對應的表層模型的頂界高程，即相對于x點的平滑范圍內測點實際表層模型頂界高程的加權平均值：

式中A(x)是落入相對于x點的平滑范圍內的測點的集合，w(η-x)是加權系數。

所述步驟(3)是這樣實現的：

表層模型低頻成分的底界高程E_b(x)是給定平滑范圍內實際表層模型靜校正量在給定平滑范圍內的加權平均值所對應的表層模型的底界高程，即相對于x點的平滑范圍內測點實際表層模型底界高程的加權平均值：

式中A(x)是落入相對于x點的平滑范圍內的測點的集合，w(η-x)是加權系數。

所述步驟(4)是這樣實現的：