[發(fā)明專利]線性調(diào)頻多光束激光外差測量角度的裝置及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410206103.3 | 申請日: | 2014-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN103940405A | 公開(公告)日: | 2014-07-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李彥超;布因嘎日迪;楊九如;冉玲苓;楊瑞海;杜軍;丁群;王春暉;馬立峰;于偉波 | 申請(專利權(quán))人: | 黑龍江大學(xué) |
| 主分類號: | G01C1/00 | 分類號: | G01C1/00 |
| 代理公司: | 哈爾濱市松花江專利商標事務(wù)所 23109 | 代理人: | 張利明 |
| 地址: | 150080 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 線性 調(diào)頻 光束 激光 外差 測量 角度 裝置 方法 | ||
1.線性調(diào)頻多光束激光外差測量角度的裝置,其特征在于,它包括:線性調(diào)頻激光器(1)、平面標準鏡(4)、會聚透鏡(5)和光電探測器(6);
線性調(diào)頻激光器(1)輸出的線性調(diào)頻激光入射到平面標準鏡(4)上,且入射角θ0為銳角;
平面標準鏡(4)前表面的一面將該激光分束成一號反射光和折射光,平面標準鏡(4)前表面的一面將該一號反射光反射至?xí)弁哥R(5)上,平面標準鏡(4)前表面將該折射光折射至平面標準鏡(4)的后表面,該折射光經(jīng)該平面標準鏡(4)的后表面與前表面的另一面多次反射后獲得多束二號反射光,該多束二號反射光經(jīng)該平面標準鏡(4)的前表面透射之后,與一號反射光通過會聚透鏡(5)匯聚至光電探測器(6)的光敏面上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線性調(diào)頻多光束激光外差測量角度的裝置,其特征在于,它還包括:信號處理系統(tǒng)(7),信號處理系統(tǒng)(7)的電信號輸入端連接光電探測器(6)的電信號輸出端;
信號處理系統(tǒng)(7)中嵌入有軟件實現(xiàn)的模塊,所述模塊包括以下單元:
采集光電探測器(6)輸出的光電流I的采集單元;
對光電探測器(6)輸出的光電流I進行濾波,從而獲得中頻電流IIF的濾波單元;
利用中頻電流IIF獲得干涉信號的頻率fp的單元;
利用干涉信號的頻率fp獲得入射角θ0的單元。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線性調(diào)頻多光束激光外差測量角度的裝置,其特征在于,它還包括:濾波器(7-1)、放大器(7-2)、A/D轉(zhuǎn)換器(7-3)和DSP(7-4);
光電探測器(6)的電信號輸出端連接濾波器(7-1)的電信號輸入端,濾波器(7-1)的信號輸出端連接放大器(7-2)的信號輸入端,放大器(7-2)的放大信號輸出端連接A/D轉(zhuǎn)換器(7-3)的模擬信號輸入端,A/D轉(zhuǎn)換器(7-3)的數(shù)字信號輸出端連接DSP(7-4)的數(shù)字信號輸入端;
所述DSP(7-4)中嵌入有軟件實現(xiàn)的模塊,所述模塊包括以下單元:
采集A/D轉(zhuǎn)換器(7-3)輸出的中頻電流IIF的信號采集單元;
利用中頻電流IIF獲得干涉信號的頻率fp的單元;
利用干涉信號的頻率fp獲得入射角θ0的單元。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的線性調(diào)頻多光束激光外差測量角度的裝置,其特征在于,它還包括:第一反射鏡(2)和第二反射鏡(3);
線性調(diào)頻激光器(1)輸出的激光入射到第一反射鏡(2)上,第一反射鏡(2)將該激光反射至第二反射鏡(3)上,第二反射鏡(3)將該激光反射至平面標準鏡(4)上,且入射角θ0為銳角。
5.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的線性調(diào)頻多光束激光外差測量角度的裝置,其特征在于,所述干涉信號的頻率fp為:
其中,p為非負整數(shù),為調(diào)頻帶寬的變化率,T為調(diào)頻周期,△F為調(diào)頻帶寬,n為平面標準鏡(4)的折射率,d為平面標準鏡(4)的厚度,θ為平面標準鏡折射角,c為入射激光的光速,Kp表示中頻外差信號的頻率與折射角θ余弦之間的比例系數(shù)。
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G01C 測量距離、水準或者方位;勘測;導(dǎo)航;陀螺儀;攝影測量學(xué)或視頻測量學(xué)
G01C1-00 測量角度
G01C1-02 .經(jīng)緯儀
G01C1-08 .六分儀
G01C1-10 ..含有人為水平面的
G01C1-14 ..潛望式六分儀
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