[發明專利]高精度測試模組

在審

• 申請號: 201410205280.X
• 申請日: 2014-05-15
• 公開（公告）號: CN103983816A
• 公開（公告）日: 2014-08-13
• 發明（設計）人: 盧國強
• 申請（專利權）人: 珠海市運泰利自動化設備有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073;G01R31/28
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義

技術領域

本發明涉及一種高精度測試模組。

背景技術

對于傳統的測試模組，探針的固定是通過探針與針板過盈配合而產生的摩擦力來實現的，因此對探針的強度有比較高的要求，所以無法做到更小的尺寸,也無法實現更高精度的測試(測試點間距小于0.8mm)。并且探針的對位精度都是放在針板上面，通過針板的精度和探針本身的強度來保證，無法保證小測試點(直徑0.3mm-0.4mm)的精確對位。

當然探針的固定也可以采用其他方式，比如公開號為102062791A的中國專利，其公開了一種探針座，包括有一座體、一絕緣上蓋、一絕緣下蓋、及多支探針。其中,多支探針分別容設于座體的多個貫通孔內,且絕緣上蓋、及絕緣下蓋分別組設于座體的上、下表面。而多支探針分別透過其徑向擴大的肩部,而卡止限位于絕緣上蓋的上穿孔與絕緣下蓋的下穿孔之間。對于上述探針，由于其設有肩部，必然探針的整體結構的尺寸會變大，同樣無法實現更高精度的測試(測試點間距小于0.8mm)，而且對位精度是依靠貫通孔的加工精度和探針肩部本身的強度來保證的，在實際操作過程中發現，要想同時保證貫通孔的加工精度和探針肩部本身的強度的難度是非常大的，因此無法保證小測試點（0.3mm-0.4mm）大數量探針（超過200Pcs）的精確對位。

采用傳統的探針固定方式，探針在安裝過程中受力較大，對探針本身的強度和作業人員的技能要求很高。特別是針對小尺寸的探針(直徑0.8mm以內)，在安裝過程中極易損壞探針，并且探針是過盈配合在針板中的，損壞的探針很難取出來。即使能夠取出損壞的探針，對針板上的探針安裝孔的精度也會有比較大損害。

常規的探針對位精度的是通過針板針孔的加工精度和探針本身的強度來實現的。載板只是起到放置被測產品和保護探針的作用。在結構設計上來看，存在基準不一致的問題。同樣也無法保證小測試點（直徑0.3mm-0.4mm）大數量探針（一塊針板探針數量超過200Pcs）的精確對位。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是克服現有技術的不足，提供一種能避免對探針強度的依賴，降低對操作人員工作技能的要求及能很好地保證具有小測試點（測試點直徑0.3mm-0.4mm）、小測試間距（測試點間距小于0.8mm）、大數量測試點（一塊針板探針數量超過200Pcs）的電子產品主板的測試的穩定性的高精度測試模組。

本發明所采用的技術方案是：本發明包括由上至下依次固定設置的上限位針板、探針頭部限位板、第一增強板、中部針板、第二增強板、探針尾部限位板及下限位板，所述探針頭部限位板、所述第一增強板、所述中部針板、所述第二增強板及所述探針尾部限位板上均設有多個與探針主體間隙配合的通孔Ⅰ，所述上限位針板上設有多個與探針頭間隙配合的通孔Ⅱ，所述下限位板上設有多個與探針尾間隙配合的通孔Ⅲ，所述通孔Ⅱ和所述通孔Ⅲ的孔徑均小于所述通孔Ⅰ的孔徑。

所述第一增強板和所述第二增強板均設為中空，形成空腔，工作時，探針穿過中空部分，所述第一增強板和所述第二增強板的外圍被所述中部針板和所述探針頭部限位板或所述探針尾部限位板緊壓。

所述通孔Ⅱ的下部同軸設有與所述探針主體間隙配合的所述通孔Ⅰ。

所述高精度測試模組還包括設置在所述上限位針板上方的載板，所述載板設置有多個與探針相適配的導針孔。

所述導針孔由上導向孔和下導向孔組成，所述上導向孔的孔徑小于所述下導向孔的孔徑，且所述上導向孔與所述下導向孔之間通過導向斜面過渡。

所述導針孔為錐形孔，所述導針孔的孔徑由上至下逐漸變大。

所述探針頭部限位板上設置有若干個導柱，所述載板上設有與所述導柱相適配的導柱孔，所述載板與所述導柱滑動配合。