[發明專利]一種試樣拋光支架

在審

• 申請號: 201410203880.2
• 申請日: 2014-05-15
• 公開（公告）號: CN105092346A
• 公開（公告）日: 2015-11-25
• 發明（設計）人: 錢虎
• 申請（專利權）人: 錢虎
• 主分類號: G01N1/32
• 分類號: G01N1/32
• 代理公司: 貴陽中新專利商標事務所 52100
• 代理人: 吳無懼

技術領域

本發明涉及一種拋光試樣支架，屬于實驗室拋光領域。

背景技術

對金屬材料的性能分析，主要包括對金屬材料的力學性能以及其內部顯微組織的分析兩方面。而無論是實驗室還是企業，顯微組織分析離不開金相顯微鏡和掃描電鏡，制作這兩種電鏡的觀察試樣就必須用到拋光機，但現有實驗室或工廠檢測室一般都是采用人工拋光，需人一直拿著試樣在拋光機上拋光，費時費力。

發明內容

本發明的目的在于：提供一種試樣拋光支架，以解決現有實驗室或工廠檢測室一般都是采用人工拋光，需人一直拿著試樣在拋光機上拋光，費時費力的問題。

本發明的方案如下：一種試樣拋光支架，包括桌邊夾具、第一支桿、第二支桿、第三支桿和試樣夾頭，第一支桿固定在桌邊夾具上，第三支桿的兩端分別與第一支桿和第二支桿相鉸接，試樣夾頭固定在第二支桿上。

第一支桿焊接固定于桌邊夾具上。

試樣夾頭與第二支架之間通過第一萬向鉸相連。

所述桌邊夾具為桌邊夾。

本發明與現有技術相比，主要優點是通過調節拋光試樣支架，選擇適當角度使試樣在拋光機上進行拋光，代替人力拋光，節約的大量人力，且所述拋光試樣支架結構簡單，成本低，適宜大規模使用，同時，采用三個支桿依次鉸接的方式，可以更好地調節試樣夾頭的角度和位置，便于拋光。

附圖說明

圖1是本發明中試樣支架安裝在研磨機桌子上的結構示意圖。

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合附圖對本發明作進一步地詳細描述，

結合圖1，本發明實施例也提供一種試樣拋光支架，包括桌邊夾具1、第一支桿2、第二支桿3、第三支桿8和試樣夾頭4，第一支桿2固定在桌邊夾具1上，第三支桿8的兩端分別與第一支桿2和第二支桿3相鉸接，試樣夾頭4固定在第二支桿3上。

優選地，第一支桿2的一端焊接固定于桌邊夾具1的上端。

優選地，試樣夾頭4與第二支架3之間通過第一萬向鉸7相連，試樣11固定在試樣夾頭4的下端，調節支架使試樣11的拋光面貼緊在研磨機12的研磨布上。

桌邊夾具1優選為桌邊夾，用于將支架整體固定在桌子10上。