[發明專利]一種無銅籽晶互連用碳化鉬摻雜釕基合金擴散阻擋層制備工藝有效
| 申請號: | 201410201533.6 | 申請日: | 2014-05-13 |
| 公開(公告)號: | CN103972162A | 公開(公告)日: | 2014-08-06 |
| 發明(設計)人: | 劉波;張彥坡;林黎蔚;廖小東 | 申請(專利權)人: | 四川大學 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L21/3205 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610065 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 籽晶 互連 碳化 摻雜 合金 擴散 阻擋 制備 工藝 | ||
1.一種無銅籽晶互連用碳化鉬摻雜釕基合金(RuMoC)阻擋層制備工藝,在常溫下實施,其特征在于包含以下步驟:
a、清洗襯底材料:
將單晶硅(Si)/摻碳氧化硅(SiOC:H, 200 nm)多層結構襯底材料依次放入丙酮、無水乙醇中分別進行20分鐘超聲波清洗,干燥后放入真空腔室內,然后抽真空度至2.0×10-4 Pa;
b、沉積前襯底預處理:
在步驟a的真空條件下,用偏壓反濺射清洗Si/SiOC:H襯底5分鐘,去除Si /SiOC:H襯底表面雜質,反濺功率為100-200 W,反濺偏壓為-500 V;反濺氣體為氬氣(Ar);工作真空度為1.0-3.0 Pa;
c、沉積RuMoC阻擋層薄膜:
采用反應磁控濺射技術,在經步驟b處理后的Si/SiOC:H基體上沉積厚度為5 nm的RuMoC薄膜;所用靶材為高純碳化鉬(MoC)靶和釕(Ru)靶;工作氣氛為Ar氣,Ar氣流量控制為35-40 標準立方厘米/分鐘(sccm)之間;工作真空度為0.45-0.60 Pa;磁控MoC靶和磁控Ru靶濺射功率分別控制為120-150 W和100-120 W范圍內;沉積偏壓為-100 V至-150 V之間;沉積時間為10-20秒;沉積完成后關閉各磁控靶,關閉氣體Ar,反應室基底真空度恢復為2.0×10-4 Pa;冷卻后出爐即獲得RuMoC阻擋層。
2.根據權利要求1所述的碳化鉬摻雜釕基合金(RuMoC)阻擋層制備工藝,其特征在于:所述磁控MoC靶和磁控Ru靶的純度均為99.95%。
3.根據權利要求1所述的碳化鉬摻雜釕基合金(RuMoC)阻擋層制備工藝,其特征在于:所述RuMoC合金層中Ru原子百分比控制在44-50 %范圍之間;Mo原子百分比控制在23-25 %范圍之間;C原子百分比控制在23-25 %范圍之間。
4.根據權利要求1所述的碳化鉬摻雜釕基合金(RuMoC)阻擋層制備工藝,其特征在于:采用磁控MoC靶和磁控Ru靶共濺射的工藝,上述兩個工作靶與真空腔中心軸線方向呈45?夾角。
5.根據權利要求1所述的碳化鉬摻雜釕基合金(RuMoC)阻擋層制備工藝,其特征在于:步驟c中,反應室本底真空為2.0×10-4 Pa;工作真空度為0.45-0.60 Pa;磁控MoC靶和磁控Ru靶濺射功率分別控制為120-150 W和100-120 W范圍內;沉積偏壓為-100至-150 V之間。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





