[發(fā)明專利]一種鄰井距離掃描的解析方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410197249.6 | 申請(qǐng)日: | 2014-05-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105089643B | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-05-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉修善 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)石油化工股份有限公司;中國(guó)石油化工股份有限公司石油工程技術(shù)研究院 |
| 主分類號(hào): | E21B47/09 | 分類號(hào): | E21B47/09 |
| 代理公司: | 北京聿宏知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11372 | 代理人: | 吳大建;劉華聯(lián) |
| 地址: | 100728 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 參考點(diǎn) 最近距離 參考 掃描 軌跡數(shù)據(jù) 鄰井距離 小距離 井上 解析 相對(duì)位置關(guān)系 軌跡參數(shù) 結(jié)果圖表 掃描技術(shù) 輸出計(jì)算 指北方向 計(jì)算量 危險(xiǎn)點(diǎn) 防碰 井段 井深 遺漏 統(tǒng)一 | ||
1.一種鄰井距離掃描的解析方法,其特征在于,包括以下步驟:
S101、獲取參考井和比較井的軌跡數(shù)據(jù),其中所述參考井為新設(shè)計(jì)井,所述比較井為已鉆鄰井;
S102、統(tǒng)一所述參考井和所述比較井的指北方向及坐標(biāo)系,并歸算它們的軌跡數(shù)據(jù);
S103、根據(jù)實(shí)際需要確定所述參考井和所述比較井的計(jì)算范圍;
S104、按掃描間距計(jì)算所述參考井在所述計(jì)算范圍內(nèi)的參考點(diǎn)P的參數(shù);
S105、計(jì)算所述參考點(diǎn)P到所述比較井的任一井段的若干極小距離;
S106、選取所計(jì)算的若干極小距離中的最小值作為所述參考點(diǎn)到所述比較井的最近距離,同時(shí)在比較井上得到對(duì)應(yīng)于所述最近距離的比較點(diǎn)Q;
S107、根據(jù)所述參考點(diǎn)P和所述比較點(diǎn)Q的軌跡數(shù)據(jù)來(lái)計(jì)算所述最近距離的表征參數(shù);
S108、按所述參考點(diǎn)P的井深順序輸出計(jì)算結(jié)果圖表,為鄰井防碰提供依據(jù);
在所述步驟S105中,按照以下步驟來(lái)獲得所述任一井段的若干極小距離:
S201、比較井由若干個(gè)比較井段組成,根據(jù)軌道設(shè)計(jì)或測(cè)斜計(jì)算結(jié)果獲取任一比較井段AB兩端點(diǎn)的軌跡數(shù)據(jù);
S202、基于所述兩端點(diǎn)的軌跡數(shù)據(jù)計(jì)算該比較井段的彎曲角
cosε
其中,α為井斜角;φ為方位角;ε
S203、計(jì)算所述比較井段AB的軌跡特征參數(shù)
在空間圓弧軌跡模型中,若ε
其中,L為井深;R為曲率半徑;ω為初始工具面角;
S204、計(jì)算比較點(diǎn)的位置,
在比較井段AB上,用比較點(diǎn)井深L
若ε
ΔL
其中
若ε
其中
式中,ε
S205、計(jì)算比較點(diǎn)Q的軌跡參數(shù)
若ΔL
若0<ΔL
①若ε
②若ε
進(jìn)而,比較點(diǎn)Q的井深及坐標(biāo)為
S206、按下式計(jì)算參考點(diǎn)P與比較點(diǎn)Q之間的極小距離
其中
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鄰井距離掃描的解析方法,其特征在于,在所述步驟S107中,按照以下方式計(jì)算最近距離的表征參數(shù):
①如果用水平面作為參考面,則用掃描井斜角α
掃描井斜角α
②如果用法平面作為參考面,則以參考點(diǎn)P為原點(diǎn),建立P—xyz坐標(biāo)系;其中,x軸指向井眼高邊,y軸水平指向右側(cè),z軸指向井眼切線方向,則用高邊轉(zhuǎn)角θ
其中
式中,x
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