[發(fā)明專利]亞波長光柵波導(dǎo)結(jié)構(gòu)真彩元件及其制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410196066.2 | 申請日: | 2014-05-09 |
| 公開(公告)號: | CN105093405B | 公開(公告)日: | 2018-08-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 孫天玉;張寶順 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所 |
| 主分類號: | G02B6/122 | 分類號: | G02B6/122;G02B6/124;G02B6/136;G03F7/00 |
| 代理公司: | 深圳市科進知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 宋鷹武;沈祖鋒 |
| 地址: | 215123 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 波長 光柵 波導(dǎo) 結(jié)構(gòu) 元件 及其 制作方法 | ||
1.一種亞波長光柵波導(dǎo)結(jié)構(gòu)真彩元件的制作方法,其特征在于,包括以下步驟:
選定光柵層、薄膜層、襯底層的材料,并采用衍射算法優(yōu)化出各層的結(jié)構(gòu)參數(shù),所述各層的結(jié)構(gòu)參數(shù)對應(yīng)使真彩元件損耗三基色的互補色而顯色;
在襯底層上通過物理沉積或化學(xué)沉積的方法按照所述結(jié)構(gòu)參數(shù)依次生長薄膜層和光柵層;
在光柵層表面涂布光刻膠;
采用激光干涉曝光或掩模板曝光在光刻膠表面形成光柵圖案;
采用光刻膠形成的光柵圖案作為掩模,刻蝕光柵層形成光柵結(jié)構(gòu),以得到真彩元件;
所述真彩元件的結(jié)構(gòu)參數(shù)采用目標函數(shù)進行優(yōu)化,目標函數(shù)為:色純度、亮度、結(jié)構(gòu)最簡單;
所述光柵層和所述薄膜層構(gòu)成光柵波導(dǎo)層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的亞波長光柵波導(dǎo)結(jié)構(gòu)真彩元件的制作方法,其特征在于,所述衍射算法為嚴格耦合波法或傅立葉模式法。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的亞波長光柵波導(dǎo)結(jié)構(gòu)真彩元件的制作方法,其特征在于:所述襯底層為熔石英,所述薄膜層和光柵層采用多晶硅;所述熔石英的折射率為1.46,所述多晶硅的折射率為3.44,所述薄膜層的厚度為15納米,所述光柵層的周期為315納米,厚度為110納米,占寬比為0.55。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的亞波長光柵波導(dǎo)結(jié)構(gòu)真彩元件的制作方法,其特征在于,所述真彩元件的結(jié)構(gòu)參數(shù)采用目標函數(shù)進行優(yōu)化,以真彩元件的色純度作為目標函數(shù),則目標函數(shù)表示為:
其中,Aλ是太陽光譜的能量分布函數(shù),Xλ、Yλ、Zλ是太陽光的三刺激函數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的亞波長光柵波導(dǎo)結(jié)構(gòu)真彩元件的制作方法,其特征在于,所述光柵波導(dǎo)層的結(jié)構(gòu)參數(shù)采用目標函數(shù)進行優(yōu)化,以真彩元件的亮度最大作為目標函數(shù),則目標函數(shù)表示為:其中,Aλ是太陽光譜的能量分布函數(shù),Xλ、Yλ、Zλ分別是太陽光的三刺激函數(shù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述亞波長光柵波導(dǎo)結(jié)構(gòu)真彩元件的制作方法,其特征在于,所述光柵波導(dǎo)層的結(jié)構(gòu)參數(shù)采用目標函數(shù)進行優(yōu)化,以真彩元件的結(jié)構(gòu)最簡單作為目標函數(shù),則目標函數(shù)表示為:H2=0。
7.一種亞波長光柵波導(dǎo)結(jié)構(gòu)真彩元件,其特征在于,包括如權(quán)利要求1-6中任一項所述的真彩元件。
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