[發明專利]測試過程中的芯片檢測方法及系統

在審

• 申請號: 201410193767.0
• 申請日: 2014-05-08
• 公開（公告）號: CN104007313A
• 公開（公告）日: 2014-08-27
• 發明（設計）人: 李國強;吳大畏;陳寄福
• 申請（專利權）人: 深圳市硅格半導體有限公司
• 主分類號: G01R23/10
• 分類號: G01R23/10;G01R31/28
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國;高麗晶

1.一種測試過程中的芯片檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

檢測裝置建立與芯片之間的連接；

檢測裝置在接收到檢測指令時，根據外部基準時間信號獲取振蕩器的時鐘頻率；

檢測裝置判斷所述振蕩器的時鐘頻率是否在預設頻率范圍內，若否，則調整所述時鐘頻率的頻率參數并將調整后的所述頻率參數存儲在芯片內。

2.如權利要求1所述的測試過程中的芯片檢測方法，其特征在于，所述檢測裝置在接收到檢測指令時，根據外部基準時間信號獲取振蕩器的時鐘頻率的步驟包括：

檢測裝置利用所述外部基準時間信號進行計時得到時間值；

檢測裝置接收芯片根據所述外部基準時間信號對振蕩器輸出的時鐘信號進行計數得到計數值；

檢測裝置根據所述時間值和所述計數值，獲取所述振蕩器的時鐘頻率。

3.如權利要求2所述的測試過程中的芯片檢測方法，其特征在于，所述芯片根據所述外部基準時間信號對振蕩器輸出的時鐘信號進行計數得到計數值，將所述計數值發送至檢測裝置的步驟包括：

芯片在檢測到所述外部基準時間信號發生第一次變化時，開始對振蕩器輸出的時鐘信號進行計數；

芯片在檢測到所述外部基準時間信號發生第二次變化時，停止對振蕩器輸出的時鐘信號進行計數，輸出所述計數值至檢測裝置。

4.如權利要求2或3所述的測試過程中的芯片檢測方法，其特征在于，所述檢測裝置發送外部基準時間信號至芯片，并利用外部基準時間信號進行計時得到時間值的步驟包括：

檢測裝置控制所述外部基準時間信號發生第一次變化，并開始計時；

檢測裝置控制所述外部基準時間信號發生第二次變化，并停止計時且得到所述時間值。

5.如權利要求1-3中任一項所述的測試過程中的芯片檢測方法，其特征在于，所述檢測裝置建立與芯片之間的連接的步驟之后包括：

檢測裝置獲取外部時鐘信號源發出的高精度的所述外部基準時間信號，并將所述外部基準時間信號提供給芯片。

6.一種測試過程中的芯片檢測系統，其特征在于，包括檢測裝置，所述檢測裝置用于：

建立與芯片之間的連接；

在接收到檢測指令時，根據外部基準時間信號獲取振蕩器的時鐘頻率；

判斷所述振蕩器的時鐘頻率是否在預設頻率范圍內，若否，則調整所述時鐘頻率的頻率參數并將調整后的所述頻率參數存儲在芯片內。

7.如權利要求6所述的測試過程中的芯片檢測系統，其特征在于，所述檢測裝置還用于：

利用所述外部基準時間信號進行計時得到時間值；

接收芯片根據所述外部基準時間信號對振蕩器輸出的時鐘信號進行計數得到計數值；

根據所述時間值和所述計數值，獲取所述振蕩器的時鐘頻率。

8.如權利要求7所述的測試過程中的芯片檢測系統，其特征在于，所述系統還包括芯片，所述芯片用于：

在檢測到所述外部基準時間信號發生第一次變化時，開始對振蕩器輸出的時鐘信號進行計數；

在檢測到所述外部基準時間信號發生第二次變化時，停止對振蕩器輸出的時鐘信號進行計數，輸出所述計數值至檢測裝置。

9.如權利要求7或8所述的測試過程中的芯片檢測系統，其特征在于，所述檢測裝置還用于：

控制所述外部基準時間信號發生第一次變化，并開始計時；

控制所述外部基準時間信號發生第二次變化，并停止計時且得到所述時間值。

10.如權利要求6-8中任一項所述的測試過程中的芯片檢測系統，其特征在于，所述檢測裝置還用于：

獲取外部基準時鐘信號源發出的高精度的所述外部時鐘信號，并將所述外部基準時鐘信號提供給芯片。