[發(fā)明專利]AlGaN-GaN異質(zhì)結(jié)歐姆接觸制作方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410193498.8 | 申請(qǐng)日: | 2014-05-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103972069A | 公開(公告)日: | 2014-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王沖;鐘仁駿;陳沖;何云龍;鄭雪峰;馬曉華;郝躍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安電子科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L21/28 | 分類號(hào): | H01L21/28 |
| 代理公司: | 陜西電子工業(yè)專利中心 61205 | 代理人: | 王品華;朱紅星 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | algan gan 異質(zhì)結(jié) 歐姆 接觸 制作方法 | ||
1.一種AlGaN-GaN異質(zhì)結(jié)上歐姆接觸制作方法,包括如下步驟:
(1)對(duì)AlGaN/GaN材料進(jìn)行清洗;
(2)在清洗后的AlGaN/GaN材料表面的源、漏歐姆電極區(qū)進(jìn)行光刻,制作帶有很多通孔的光刻膠掩膜,這些通孔的面積之和為歐姆接觸電極總面積的15%~45%;通孔中露出AlGaN材料;
(3)利用干法刻蝕對(duì)光刻膠掩膜通孔中露出的AlGaN材料進(jìn)行刻蝕,得到源、漏歐姆電極區(qū)挖有很多孔的AlGaN材料,挖孔深度為5~15nm;刻蝕完成后去除光刻膠掩膜;
(4)在挖孔的整個(gè)源、漏歐姆電極區(qū)域的AlGaN材料之上,淀積Ti/Al/Ni/Au多層金屬,并進(jìn)行800~870℃退火30~60s,形成源、漏歐姆接觸電極。
2.根據(jù)權(quán)利要求書1中所述的方法,其中所述步驟(1)中的對(duì)AlGaN/GaN材料進(jìn)行清洗,按如下步驟進(jìn)行:
先將AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)材料放置于1:5的HF溶液中浸泡30s,去除表面氧化層;
再將AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)材料放置于丙酮、乙醇有機(jī)溶劑中超聲清洗,去除表面沾污,并用去離子水沖洗5分鐘。
3.根據(jù)權(quán)利要求書1中所述的方法,其中所述步驟(3)中的干法刻蝕,工藝條件如下:
采用RIE反應(yīng)離子刻蝕,反應(yīng)氣體為Cl2,其流量40sccm,
反應(yīng)室壓強(qiáng)為10mT,
電極功率為50W,
刻蝕速率為0.5nm/s。
4.根據(jù)權(quán)利要求書1中所述的方法,其中所述步驟(4)中的多層金屬淀積,是通過電子束蒸發(fā)設(shè)備進(jìn)行的,工藝條件如下:
蒸發(fā)前真空度達(dá)到10-7Tor以下,金屬蒸發(fā)速率為0.3nm/s。
5.根據(jù)權(quán)利要求書1中所述的方法,其中所述步驟(4)中淀積Ti/Al/Ni/Au多層金屬,其厚度分別是:Ti為20~30nm,Al為150~250nm,Ni為40~60nm,Au為60~100nm。
6.根據(jù)權(quán)利要求書1中所述方法,其中所述步驟(4)中的退火,使用設(shè)備為RTP快速熱退火爐,按如下步驟進(jìn)行:
首先,向退火爐中通入10min的N2來排除空氣;
然后,20℃/s的速率升溫至所設(shè)定的溫度;
最后,以3L/s的速率向退火爐中通入N2,按所設(shè)定的退火時(shí)間進(jìn)行退火。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于西安電子科技大學(xué),未經(jīng)西安電子科技大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410193498.8/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種粉料裝袋粉塵吸收裝置
- 下一篇:一種高稱量精度的電子包裝秤
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 用于測(cè)試異質(zhì)結(jié)太陽能電池的IV測(cè)試儀
- 異質(zhì)結(jié)遂穿場(chǎng)效應(yīng)晶體管及其制備方法
- 基于天線直接匹配的鍺硅異質(zhì)結(jié)雙極晶體管探測(cè)器
- 一種具有鈣鈦礦能級(jí)修飾層的雙體異質(zhì)結(jié)有機(jī)太陽能電池及其制備方法
- 一種硫化鉬-石墨烯異質(zhì)結(jié)光電導(dǎo)探測(cè)器及其制備方法
- 一種異質(zhì)結(jié)電池制備方法
- 一種微管式三維異質(zhì)結(jié)器件結(jié)構(gòu)及其制備方法和應(yīng)用
- 半導(dǎo)體器件制備方法及半導(dǎo)體器件
- 高效異質(zhì)結(jié)光伏組件
- 異質(zhì)結(jié)太陽能電池片的制造方法及異質(zhì)結(jié)太陽能電池片





