[發(fā)明專利]數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換電路單粒子瞬態(tài)效應(yīng)檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410188432.X | 申請(qǐng)日: | 2014-05-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104009758B | 公開(公告)日: | 2017-04-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭宏超;岳素格;范隆;陳莉明;董攀;陳茂鑫;畢瀟;馬建華;王煌偉;文圣泉;杜守剛;于春青 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京時(shí)代民芯科技有限公司;北京微電子技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào): | H03M1/66 | 分類號(hào): | H03M1/66;H03M1/10 |
| 代理公司: | 中國(guó)航天科技專利中心11009 | 代理人: | 范曉毅 |
| 地址: | 100076 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 數(shù)字 模擬 轉(zhuǎn)換 電路 粒子 瞬態(tài) 效應(yīng) 檢測(cè) 裝置 及其 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換電路單粒子瞬態(tài)效應(yīng)檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法,屬于微電子器件抗單粒子能力試驗(yàn)驗(yàn)證技術(shù)領(lǐng)域。
技術(shù)背景
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的迅猛發(fā)展,器件的特征尺寸和工作電壓越來(lái)越小,相應(yīng)地,臨界電荷也越來(lái)越小,單粒子效應(yīng)的作用也越來(lái)越明顯。單粒子效應(yīng)的類型、效果也隨著微電子器件種類、功能的增加而呈現(xiàn)出復(fù)雜態(tài)勢(shì),由以往單一的單粒子閂鎖效應(yīng),演變?yōu)閺?fù)雜的多位單粒子翻轉(zhuǎn)、單粒子功能中斷和單粒子瞬態(tài)效應(yīng)。
數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換電路廣泛應(yīng)用在空間計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中,用于將多位數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬電平信號(hào),是計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中重要的轉(zhuǎn)換型元器件。在空間輻射環(huán)境中,數(shù)模混合電路中的基準(zhǔn)參考源和數(shù)據(jù)同步存儲(chǔ)電路,容易受到單粒子效應(yīng)的影響,從而導(dǎo)致電路的輸出電流源產(chǎn)生瞬態(tài)擾動(dòng),嚴(yán)重的可能導(dǎo)致功能失效,甚至出現(xiàn)電流突變?cè)龃蟀l(fā)生閂鎖,從而危及星載計(jì)算機(jī)的正常工作。因此,對(duì)于數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換電路的單粒子瞬態(tài)效應(yīng)測(cè)試工作,有利于分析電路抗單粒子效應(yīng)的性能,改進(jìn)電路的抗單粒子加固能力。
地面模擬空間單粒子效應(yīng)評(píng)估試驗(yàn)主要在重離子加速器上進(jìn)行,需要通過(guò)搭建單粒子效應(yīng)檢測(cè)裝置,對(duì)待測(cè)電路的單粒子效應(yīng)進(jìn)行測(cè)試,通過(guò)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行空間在軌錯(cuò)誤率估算,可以模擬待測(cè)電路在太空中的應(yīng)用狀態(tài)。由于在重離子加速器上進(jìn)行單粒子試驗(yàn)需要在真空、輻射等特殊環(huán)境下進(jìn)行,因此需要搭建專門的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)裝置來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的上述不足,提供數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換電路單粒子瞬態(tài)效應(yīng)檢測(cè)裝置,該檢測(cè)裝置實(shí)現(xiàn)了單粒子瞬態(tài)效應(yīng)信號(hào)的連續(xù)自動(dòng)檢測(cè)、捕獲和數(shù)據(jù)分析,解決了目前單粒子瞬態(tài)效應(yīng)試驗(yàn)裝置人工記錄導(dǎo)致試驗(yàn)暫停造成的人為誤差,以及后續(xù)統(tǒng)計(jì)分析效率低下的問(wèn)題,大大提高了試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性,提高了測(cè)試效率并節(jié)約了人工成本,可以有效地考核評(píng)估器件抗單粒子瞬態(tài)效應(yīng)能力。
本發(fā)明的另外一個(gè)目的在于提供數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換電路單粒子瞬態(tài)效應(yīng)檢測(cè)裝置的檢測(cè)方法。
本發(fā)明的上述目的主要是通過(guò)如下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn)的:
數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換電路單粒子瞬態(tài)效應(yīng)檢測(cè)裝置,包括控制計(jì)算機(jī)、數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議模塊、程控電源、可編程邏輯門陣列、信號(hào)發(fā)生器和示波器,其中:
控制計(jì)算機(jī):通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議模塊向可編程邏輯門陣列、信號(hào)發(fā)生器和程控電源設(shè)置檢測(cè)工作模式,同時(shí)設(shè)置需要捕獲的單粒子瞬態(tài)效應(yīng)參數(shù),并通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議模塊發(fā)送給示波器,通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議模塊接收程控電源輸出的工作電流;同時(shí)通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議接收示波器發(fā)回的單粒子瞬態(tài)測(cè)試數(shù)據(jù),進(jìn)行數(shù)據(jù)處理分析,得到待測(cè)數(shù)模電路空間在軌單粒子瞬態(tài)效應(yīng)的錯(cuò)誤率η、最大瞬態(tài)脈沖高度PHmax和寬度PWmax、平均瞬態(tài)脈沖高度PHave和寬度PWave;
數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議模塊:建立控制計(jì)算機(jī)與程控電源、可編程邏輯門陣列、信號(hào)發(fā)生器、示波器之間的數(shù)據(jù)傳輸通道,以數(shù)據(jù)包形式進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸;
可編程邏輯門陣列:提供數(shù)據(jù)位信號(hào)DB給待測(cè)數(shù)模電路,所述數(shù)據(jù)位信號(hào)DB設(shè)置為典型輸出電流、滿量程最大輸出電流、最小輸出電流三種模式;
程控電源:給待測(cè)數(shù)模電路供電,同時(shí)給待測(cè)數(shù)模電路提供輸入基準(zhǔn)電壓信號(hào)VFS,并且將測(cè)量的待測(cè)數(shù)模電路工作電流進(jìn)行實(shí)時(shí)采集,通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議模塊發(fā)回給控制計(jì)算機(jī);
信號(hào)發(fā)生器:提供差分時(shí)鐘信號(hào)CLK+-給待測(cè)數(shù)模電路,所述差分時(shí)鐘信號(hào)CLK+-設(shè)置為典型工作頻率、最高工作頻率、最低工作頻率三種模式;
示波器:采集待測(cè)數(shù)模電路輸出的參考電壓Vref和輸出電壓信號(hào)Vout,通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議模塊發(fā)送給控制計(jì)算機(jī)。
在上述數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換電路單粒子瞬態(tài)效應(yīng)檢測(cè)裝置中,控制計(jì)算機(jī)設(shè)置的需要捕獲的單粒子瞬態(tài)效應(yīng)參數(shù)包括:?jiǎn)瘟W铀矐B(tài)脈沖的觸發(fā)電壓上限Vtrig+和觸發(fā)電壓下限Vtrig-,用以觸發(fā)示波器捕獲發(fā)生的單粒子瞬態(tài)脈沖;單粒子瞬態(tài)脈沖的采樣點(diǎn)數(shù)M,用以設(shè)置示波器采集單次單粒子瞬態(tài)脈沖的數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù);單粒子瞬態(tài)脈沖的采樣率σ,用以設(shè)置示波器采樣數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的間隔時(shí)間;單粒子瞬態(tài)脈沖的采樣個(gè)數(shù)N,用以設(shè)置示波器采樣緩存數(shù)量,即采集多少個(gè)脈沖后發(fā)回控制計(jì)算機(jī)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京時(shí)代民芯科技有限公司;北京微電子技術(shù)研究所,未經(jīng)北京時(shí)代民芯科技有限公司;北京微電子技術(shù)研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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