[發(fā)明專(zhuān)利]雙熱熔兩面承插封口套、連接結(jié)構(gòu)及連接方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410188076.1 | 申請(qǐng)日: | 2014-05-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103968178A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 屠興章;王澤宇 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 屠興章;王澤宇 |
| 主分類(lèi)號(hào): | F16L47/03 | 分類(lèi)號(hào): | F16L47/03;B29C65/18 |
| 代理公司: | 浙江翔隆專(zhuān)利事務(wù)所(普通合伙) 33206 | 代理人: | 胡龍祥 |
| 地址: | 312400 浙江省*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 雙熱熔 兩面 封口 連接 結(jié)構(gòu) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種復(fù)合管的連接技術(shù),具體的說(shuō)是一種對(duì)可用于給排水、供氣、化工、熱力等系統(tǒng)的復(fù)合管進(jìn)行熱熔連接的封口套。
背景技術(shù)
復(fù)合管在熔接時(shí)若不封口,其中間的金屬層易接觸流體介質(zhì)而被腐蝕,降低管道的使用質(zhì)量和使用壽命。因此,凡是復(fù)合管,為了避免金屬層被腐蝕,達(dá)到使用要求,就需要進(jìn)行封口處理。專(zhuān)利號(hào)為200420090369.8、授權(quán)公告號(hào)為CN2736629Y的中國(guó)專(zhuān)利文獻(xiàn)公開(kāi)了一種“復(fù)合管熔接封口套”的技術(shù)方案。經(jīng)實(shí)際推廣應(yīng)用,發(fā)現(xiàn)尚存在以下缺陷:
1.熔接后,對(duì)復(fù)合管的端口位于關(guān)鍵內(nèi),其端口是否熔接了封口套難以實(shí)施檢驗(yàn),如此可能為施工方偷工減料提供可乘之機(jī),或者因?yàn)槭韬龆诓糠謴?fù)合管的端口遺漏熔接封口套,該兩種情形均會(huì)造成未熔接封口套的復(fù)合管快速腐爛,累及整個(gè)管道。
2. 熔接后在管件端口會(huì)堆積一些熔融的塑料形成“熔瘤”,外觀上破壞熔接部位的整體、美觀,而且不規(guī)則的形狀易沉積腐蝕屋,損壞熔接部位的密封性能;
3.封口套的封口臺(tái)階的外圓面與復(fù)合管的外壁可能存在制造誤差,受熱熔融后與管件熔接時(shí)可能會(huì)在熔接面上存在間隙造成熔接不良,因此造成泄漏。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題和提出的技術(shù)任務(wù)是克服現(xiàn)有技術(shù)在管路熔接后難以檢驗(yàn)是否在復(fù)合管的端口熔接有封口套的缺陷,提供一種雙熱熔兩面承插封口套、連接結(jié)構(gòu)及連接方法。
為達(dá)到本發(fā)明的目的,本發(fā)明的雙熱熔兩面承插封口套,其由塑料制成一體并設(shè)有軸向延伸的熔接段和設(shè)于所述熔接段一端的向徑向擴(kuò)展的封口臺(tái)階,所述熔接段內(nèi)沿軸向設(shè)有流通孔,所述熔接段的外表面為圓柱面,其特征是:所述封口臺(tái)階的周緣經(jīng)薄弱連接部連接有從該薄弱連接部向徑向擴(kuò)展的環(huán)形蓋。
作為本發(fā)明雙熱熔兩面承插封口套的優(yōu)選技術(shù)措施,所述薄弱連接部從所述封口臺(tái)階的周緣向所述熔接段方向軸向延伸。
作為本發(fā)明雙熱熔兩面承插封口套的優(yōu)選技術(shù)措施,所述薄弱連接部從所述封口臺(tái)階的周緣向徑向延伸。
作為本發(fā)明雙熱熔兩面承插封口套的優(yōu)選技術(shù)措施,所述薄弱連接部上分布有通孔,相鄰?fù)字g形成牽連部。
作為本發(fā)明雙熱熔兩面承插封口套的優(yōu)選技術(shù)措施,所述薄弱連接部位于所述封口臺(tái)階的臨近所述熔接段一端的周緣。
作為本發(fā)明雙熱熔兩面承插封口套的優(yōu)選技術(shù)措施,所述封口臺(tái)階的圓周面為圓錐面且端口部直徑較小。
作為本發(fā)明雙熱熔兩面承插封口套的優(yōu)選技術(shù)措施,所述環(huán)形蓋從所述薄弱連接部向所述熔接段方向軸向延伸出延伸部且該延伸部與所述熔接段之間形成縫隙。進(jìn)一步的,所述延伸部具有斜度且所述斜度使所述縫隙由內(nèi)向外變大。
作為本發(fā)明雙熱熔兩面承插封口套的優(yōu)選技術(shù)措施,所述環(huán)形蓋背向所述熔接段的一側(cè)設(shè)有環(huán)槽狀容納部。尤其是,所述環(huán)槽狀容納部的外端緣高于其內(nèi)端緣。
作為本發(fā)明雙熱熔兩面承插封口套的優(yōu)選技術(shù)措施,所述流通孔的孔壁上設(shè)有內(nèi)螺紋。
為達(dá)到本發(fā)明的目的,本發(fā)明的雙熱熔兩面承插連接結(jié)構(gòu),包括管件、封口套、復(fù)合管,其特征是:所述的封口套為本發(fā)明要求保護(hù)的封口套,所述熔接段的外壁與所述復(fù)合管的內(nèi)壁熔接,所述封口臺(tái)階將所述復(fù)合管的端口封堵,所述復(fù)合管的外壁、封口臺(tái)階的圓周面與所述管件的內(nèi)壁熔接,所述的薄弱連接部斷裂,所述的環(huán)形蓋與封口臺(tái)階分離并封堵在所述管件的端口。
作為本發(fā)明雙熱熔兩面承插連接結(jié)構(gòu)的優(yōu)選技術(shù)措施,所述環(huán)形蓋背向所述熔接段的一側(cè)設(shè)有環(huán)槽狀容納部,所述的環(huán)槽狀容納部容納熔接產(chǎn)生的熔瘤。
作為本發(fā)明雙熱熔兩面承插連接結(jié)構(gòu)的優(yōu)選技術(shù)措施,所述封口臺(tái)階圓周面的直徑較復(fù)合管的外徑大0.1-2mm。
為達(dá)到本發(fā)明的目的,本發(fā)明的雙熱熔兩面承插連接方法,其特征是包括以下步驟:
A)將本發(fā)明要求保護(hù)的封口套的外壁插入A加熱模套內(nèi)加熱熔融;
B)將封口套的熔接段插入復(fù)合管內(nèi),令熔接段的外壁與復(fù)合管的內(nèi)壁熔接,封口套的封口臺(tái)階將復(fù)合管的端口封堵;
C)將管件的內(nèi)壁套在B加熱模頭上加熱熔融;將復(fù)合管的外壁和封口臺(tái)階的圓周面插入B加熱模套內(nèi)加熱熔融,插入過(guò)程中封口套的薄弱連接部斷裂,環(huán)形蓋與封口臺(tái)階分離,環(huán)形蓋沿著復(fù)合管被B加熱模套推著移動(dòng);
D)將復(fù)合管的外壁和封口臺(tái)階的圓周面插入管件的內(nèi)壁熔接,環(huán)形蓋封堵在所述管件的端口。
作為本發(fā)明雙熱熔兩面承插連接方法的優(yōu)選技術(shù)措施,實(shí)施步驟A)時(shí)將復(fù)合管的內(nèi)壁套在A加熱模頭上加熱熔融。
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