[發明專利]光纖檢測的顯示方法、系統及光時域反射儀

有效

• 申請號: 201410187354.1
• 申請日: 2014-05-06
• 公開（公告）號: CN104052541A
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發明（設計）人: 單俊濤
• 申請（專利權）人: 上海溫光自動化技術有限公司
• 主分類號: H04B10/071
• 分類號: H04B10/071
• 代理公司: 上海金盛協力知識產權代理有限公司 31242
• 代理人: 段迎春

技術領域

本發明涉及一種光纖檢測的顯示方法，特別是涉及一種光纖檢測的顯示方法、系統及光時域反射儀。

背景技術

光時域反射儀是通過對測量曲線的分析，了解光纖的均勻性、缺陷、斷裂、接頭耦合等若干性能的儀器。它根據光的后向散射與菲涅耳反射原理制作，利用光在光纖中傳播時產生的后向散射光來獲取衰減的信息，可用于測量光纖衰減、接頭損耗、光纖故障點定位以及了解光纖沿長度的損耗分布情況等，是光纜施工、維護及檢測中必不可少的工具。光時域反射儀通過顯示光纖所反饋的檢測數據，來為技術人員提供光纖的檢測情況。在顯示過程中，為了提高顯示速度，通常對所反饋的檢測數據進行處理。在處理過程中對故障點(事件盲區)的準確顯示能夠幫助技術人員準確定位故障點的位置及尺寸。目前，常用的兩種方式包括：

1)均值法：即將所采集的M個檢測數據均勻分成N組，對每組數據求算術平均值，將求得的均值作為該組數據的表征值；然后再顯示屏上依序并列的顯示個數據組的表征值。該方法雖然在一定程度上解決了曲線顯示時窄反射峰會丟失的問題，但是在反射事件處取均值，不可避免的會出現誤差，特別是在不同縮放比例的情況下，曲線的差異性就比較明顯。而且取均值會帶來盲區變寬的問題，特別是盲區較小時，會更明顯。

2)最值法：該方法與均值法的區別在于所取的特征值不同，在每組數據中取兩個數據作為特征值。具體取特征值的方法如下：對每組數據進行一次遍歷，查找每組數據中的最大值和最小值；同時，計算該組數據的極值斜率k_ext、平均斜率k_ave和斜率方差k_var根據極值斜率k_ext、平均斜率k_ave以及斜率方差k_var進行判斷，選取該組數據中的哪兩個數據作為兩個特征值點。

其中，極值斜率k_ext是指最大值與最小值兩點所在直線的斜率；平均斜率k_ave是指該組數據中各相鄰數據所在直線的斜率取和求平均所得的值；而斜率方差k_var就是該組數據中指各相鄰數據所在直線的斜率的均方差。

當極值斜率k_ext與平均斜率k_ave的誤差較大時，取最大值與最小值為該組數據的兩個特征值點；當極值斜率k_ext與平均斜率k_ave誤差較小且斜率方差k_var也較小時，取該組數據中光纖位置距離1/3和2/3處的兩個數據為該組數據的兩個特征值點。然后依次用直線連接這些特征值點。

該方法對于窄反射事件的顯示有了很大的改善，解決了窄反射事件在不同縮放比例下的顯示誤差問題。但是在信噪比較差時，斜率方差就會特別大，這時取該組數據的極值作為特征值，就會導致曲線上下波動很厲害，抑制噪聲的效果較差。另外也需要預先給定兩個閾值，進行度量極值斜率k_ext與平均斜率k_ave的誤差以及斜率方差k_var的大小，閾值的設置也會影響曲線的顯示。

因此，如何能夠避免上述兩種方式的缺點，將事件高精度的反映在圖像上，是本發明所要解決的問題。

發明內容

鑒于以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在于提供一種光纖檢測的顯示方法、系統及光時域反射儀，用于解決現有技術中光纖檢測時所顯示的事件的準確性不高的問題。

為實現上述目的及其他相關目的，本發明提供一種光纖檢測的顯示方法，其包括：基于向測試光纖所發射的測試信號來接收和采集所述測試光纖的反射信號，以得到對應所述反射信號的檢測數據，并預設所述測試光纖中事件的盲區寬度；將所采集的檢測數據進行小波域的變換，并從高頻系數中確定極值點；從所述極值點所對應的檢測數據之后的至少一個所述盲區寬度內中確定具有峰值及谷值的檢測數據，并將所述極值點和峰值及谷值各自所對應的檢測數據作為關鍵點；將所確定的關鍵點所間隔開的其他檢測數據進行分區間的平均計算，并將從每個區間的檢測數據中選取一個檢測數據作為對應相應區間平均值的關鍵點；將所確定的各關鍵點按時序連線并予以顯示。

優選地，若確定所述測試光纖中無所述極值點，則將所采集的檢測數據分區間的計算平均值，再從各區間中選取一個檢測數據作為關鍵點，將相應區間的平均值作為所選取的關鍵點所對應的數值。