[發明專利]可校正譜線彎曲的成像光譜儀系統及其校正方法有效
| 申請號: | 201410187178.1 | 申請日: | 2014-05-05 |
| 公開(公告)號: | CN104034419B | 公開(公告)日: | 2017-04-05 |
| 發明(設計)人: | 鞏巖;陳洪福;劉壯 | 申請(專利權)人: | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號: | G01J3/28 | 分類號: | G01J3/28;G01J3/12;G01J3/02 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標代理事務所(普通合伙)22210 | 代理人: | 南小平 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 校正 彎曲 成像 光譜儀 系統 及其 方法 | ||
1.可校正譜線彎曲的成像光譜儀系統,其特征是,由狹縫(1)、準直物鏡(2)、分光元件(3)、成像物鏡(4)以及CCD(5)組成,從狹縫(1)出射的光經過準直物鏡(2)后形成平行光,平行光經過分光元件(3)分光,分光后的各光束經過成像物鏡(4)成像在CCD(5)上;其中分光元件(3)由棱鏡和透射光柵組成。
2.根據權利要求1所述的可校正譜線彎曲的成像光譜儀系統,其特征在于,所述透射光柵為透射式相位體全息光柵。
3.根據權利要求1所述的可校正譜線彎曲的成像光譜儀系統,其特征在于,透射光柵中心波長的入、出射角滿足Bragg條件;分光元件(3)的入射光軸和出射光軸A-A’不在同一條直線上,其偏轉角由中心波長的偏轉角決定。
4.根據權利要求1所述的可校正譜線彎曲的成像光譜儀系統,其特征在于,分光元件(3)也可由光柵-棱鏡-光柵的形式組成,實現中心波長譜線彎曲的校正。
5.實現成像光譜儀系統譜線彎曲校正的方法,其特征是,包括以下步驟:
步驟一,根據譜帶范圍及成像光譜儀的分辨率要求選擇合適的相位體全息光柵;為使光柵的衍射效率達到最大,光柵的入、出射角滿足Bragg條件,從而確定光柵在整個分光元件中的入射角;利用光柵和棱鏡在色散時譜線彎曲方向相反的特性,使棱鏡和光柵組合元件補償校正中心波長的譜線彎曲,計算出棱鏡的頂角及各面相對于光軸的傾角;從而完成對組合型分光元件(3)的設計;
步驟二,通過分光元件(3)的設計校正中心波長譜線彎曲后,其它波長的剩余譜線彎曲近似關于中心波長的譜線對稱分布;通過成像光譜儀系統的設計和調節,利用準直物鏡(2)和成像物鏡(4)產生的畸變以及像面傾斜進行補償校正剩余譜線彎曲;從而實現全工作譜段譜線彎曲的校正。
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