[發明專利]檢眼鏡中的改進以及與檢眼鏡相關的改進

有效

• 申請號: 201410185233.3
• 申請日: 2014-05-04
• 公開（公告）號: CN104127167B
• 公開（公告）日: 2018-05-01
• 發明（設計）人: G·穆約;D·斯旺
• 申請（專利權）人: 光電子有限公司
• 主分類號: A61B3/12
• 分類號: A61B3/12
• 代理公司: 余姚德盛專利代理事務所(普通合伙)33239
• 代理人: 鄭洪成

1.一種用于掃描眼睛的視網膜的掃描激光檢眼鏡，包括：

發射光束的光源，

掃描中繼元件，

其中光源和掃描中繼元件提供從眼睛的瞳孔點處的表面點源傳遞至眼睛的視網膜的光束的二維掃描，以及

靜態偏差校正元件，靜態偏差校正元件的形狀被限定為提供對掃描中繼元件中的至少一些的偏差的校正，靜態偏差校正元件在檢眼鏡中的位置被選擇為提供對掃描中繼元件中的至少一些的偏差的校正，該位置保持了光束的從眼睛的瞳孔點處的表面點源至眼睛的視網膜的傳遞,

其中靜態偏差校正元件的位置與所述掃描中繼元件的掃描補償元件分開，而且介于掃描中繼元件的掃描補償元件和第一掃描元件之間。

2.根據權利要求1所述的掃描激光檢眼鏡，其中靜態偏差校正元件的形狀被限定為具有沿所述靜態偏差校正元件的主軸和次軸空間變化的深度。

3.根據權利要求2所述的掃描激光檢眼鏡，其中靜態偏差校正元件的深度由至少一個預定數學函數限定。

4.根據權利要求3所述的掃描激光檢眼鏡，其中預定數學函數包括至少一個多項式函數。

5.根據權利要求4所述的掃描激光檢眼鏡，其中預定數學函數包括：

S(x,y)=ΣiNaipi(x,y)]]>

其中N是級中的多項式系數的數量，a_i是多項式項p_i的系數第i個，多項式是x和y中的冪級數，而且第一項是x，第二項是y，第三項是x*x，第四項是x*y，第五項是y*y。

6.根據任一前述權利要求所述的掃描激光檢眼鏡，其中靜態偏差校正元件在檢眼鏡中的位置被選擇成使得靜態偏差校正元件的主軸實質上平行于掃描中繼元件的掃描補償元件的主軸。

7.根據權利要求1所述的掃描激光檢眼鏡，其中靜態偏差校正元件附接至或者代替了布置在第一掃描元件上的窗口。

8.根據權利要求1至5之一所述的掃描激光檢眼鏡，其中靜態偏差校正元件修改光束的相位以提供對掃描中繼元件中的至少一些的偏差的校正。

9.根據權利要求8所述的掃描激光檢眼鏡，其中靜態偏差校正元件將所述靜態偏差校正元件的一個或多個相位特征強加在光束的相位上以提供偏差校正。

10.根據權利要求9所述的掃描激光檢眼鏡，其中靜態偏差校正元件利用作為所述靜態偏差校正元件的沿所述靜態偏差校正元件的主軸和次軸空間變化的深度的結果的一個或多個相位特征，以提供偏差校正。

11.根據權利要求8所述的掃描激光檢眼鏡，其中靜態偏差校正元件包括透射式相位掩模，其通過光束的折射修改光束的相位。

12.根據權利要求1至5之一所述的掃描激光檢眼鏡，其中所述靜態偏差校正元件的形狀被限定為提供對掃描中繼元件中的至少一些的偏差的校正以及對眼睛的偏差的校正。

13.一種用于根據權利要求1至12中任意一項所述的掃描激光檢眼鏡的靜態偏差校正元件，所述靜態偏差校正元件的形狀被限定為提供對掃描中繼元件中的至少一些的偏差的校正，靜態偏差校正元件在檢眼鏡中的位置被選擇為提供對掃描中繼元件中的至少一些的偏差的校正，該位置保持了光束的從眼睛的瞳孔點處的表面點源至眼睛的視網膜的傳遞。

14.一種限定根據權利要求13所述的靜態偏差校正元件的形狀的方法，所述方法包括：

(i)構建對包括檢眼鏡的系統的光學描述，

(ii)使得多個射線通過系統，

(iii)確定射線通過系統的路徑，

(iv)利用射線的路徑來將檢眼鏡的掃描中繼元件中的至少一些的偏差測量為角度的函數，以及

(v)利用偏差測量來確定限定了所述靜態偏差校正元件的形狀的數學函數。