[發明專利]構件檢查裝置及方法

有效

• 申請號: 201410183957.4
• 申請日: 2014-04-30
• 公開（公告）號: CN104132994B
• 公開（公告）日: 2017-01-04
• 發明（設計）人: C.尤德爾;V.穆尼科蒂;D.特斯查恩科;R.施米德;D.T.克拉克
• 申請（專利權）人: 通用電器技術有限公司
• 主分類號: G01N29/04
• 分類號: G01N29/04
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 肖日松,嚴志軍

1.?一種用于構件(C)的超聲波檢查的構件檢查裝置，所述構件(C)包括低壓末級蒸汽渦輪葉片，所述裝置(100)包括：

具有第一表面和在所述第一表面遠側的第二表面的引導部件，其中所述第一表面構造成反映所述構件的部分的形狀，使得所述引導部件能夠可適應地改變成所述構件的部分的形狀，且所述第二表面具有在遠端之間的長度；

引導適應部件，其適于在所述第二表面的長度上可釋放地附接到所述引導部件的所述第二表面上；以及

掃描探測器，其以一種方式定位于所述引導適應部件上，構造成能夠沿所述引導部件的所述第二表面移動以生成和接收用于檢查所述構件的超聲波，以便在測試期間，所述引導適應部件和所述引導部件不會相對于彼此移動。

2.?根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括構造和布置成至少可視化和處理由所述掃描探測器接收到的所述超聲波的處理單元。

3.?根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述引導適應部件為撓性鋼軌道布置，其能夠彎曲以采用所述引導部件的所述第二表面的形狀，以可釋放地附接所述引導部件。

4.?根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述引導部件的所述第二表面的形狀能夠適應所述構件的部分的表面形狀，以給予所述掃描探測器的定位，以允許所述超聲波適當地接近所述構件。

5.?根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述掃描探測器定位成使得來自所述掃描探測器的所述超聲波沿徑向接近所述構件的部分。

6.?根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述引導部件為由橡膠、塑料或金屬選擇的一種制成的水切割掩模。

7.?一種用于構件的超聲波檢查的方法，所述構件包括低壓末級蒸汽渦輪葉片，所述方法包括：

按照待檢查的所述構件的部分的形狀選擇引導部件，所述部件具有第一表面和遠側的第二表面，其中所述第一表面構造成反映所述構件的部分的形狀，且所述第二表面具有在遠端之間的長度；

在所述引導部件的所述第二表面的長度上將所述引導部件可釋放地附接到引導適應部件上；

將可釋放地附接到所述引導適應部件上的所述引導部件指引到所述構件的表面上；以及

基于所述構件，由以一種方式定位于所述引導適應部件上的構造成能夠沿所述引導部件的所述第二表面移動的掃描探測器來生成和接收超聲波。

8.?根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法還包括至少可視化和處理從所述掃描探測器接收到的超聲波。

9.?根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述引導適應部件可釋放地、撓性地且可彎曲地附接到所述引導部件的所述第二表面上。

10.?根據權利要求7所述的方法，其特征在于，生成和接收超聲波包括使所述引導部件的所述第二表面的形狀適應所述構件的部分的表面形狀，以給予所述掃描探測器的定位，以允許所述超聲波適當地接近所述構件。

11.?根據權利要求10所述的方法，其特征在于，所述方法包括布置所述掃描探測器，使得來自所述掃描探測器的超聲波沿徑向接近所述構件的表面。