[發明專利]優化深度信息的方法與裝置

有效

• 申請號: 201410182522.8
• 申請日: 2014-04-30
• 公開（公告）號: CN105025285B
• 公開（公告）日: 2017-09-29
• 發明（設計）人: 鍾育佳;張文彥;曾家俊;李運錦
• 申請（專利權）人: 聚晶半導體股份有限公司
• 主分類號: H04N13/00
• 分類號: H04N13/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司11205
• 代理人: 臧建明

1.一種優化深度信息的方法，適用于一電子裝置，其特征在于，一左圖像與一右圖像通過一立體成像系統的拍攝而產生，所述方法包括：

將該左圖像與該右圖像其中之一劃分成多個相關區塊，以獲取至少一區塊分布圖；

獲取一待修復深度圖，并依據多個主深度值與相機參數將該待修復深度圖區分成多個深度平面，其中該待修復深度圖記錄所述主深度值且具有多個破洞，其中各所述深度平面具有一切割精細度，而所述相關區塊為依據所述切割精細度將關聯于該待修復深度圖的該左圖像與該右圖像其中之一所劃分，以獲取分別對應至各所述深度平面的所述區塊分布圖；以及

利用所述區塊分布圖來分別對各所述深度平面中的所述破洞產生多個優化深度值，并將所述優化深度值填補至各所述深度平面而獲取結合各所述深度平面的一優化深度圖。

2.根據權利要求1所述的優化深度信息的方法，其特征在于，獲取該待修復深度圖，并依據所述主深度值與該相機參數將該修復深度圖區分成所述深度平面的步驟包括：

依據所述主深度值與該相機參數決定各所述主深度值的一物距信息；以及

各所述主深度值的該物距信息，將該待修復深度圖劃分成對應至相互相異的多個景深范圍的所述深度平面，且各所述深度平面包括至少一相似物距區域。

3.根據權利要求1所述的優化深度信息的方法，其特征在于，所述深度平面分別對應至相互相異的多個景深范圍，而各所述深度平面的該切割精細度基于各所述深度平面所對應的所述景深范圍而定。

4.根據權利要求1所述的優化深度信息的方法，其特征在于，被劃分成所述相關區塊的該左圖像或該右圖像具有多個第一像素，而依據所述切割精細度將關聯于該待修復深度圖的該左圖像與該右圖像其中之一劃分成所述相關區塊的步驟包括：

比對所述第一像素中相互相鄰的一第一相鄰像素與一第二相鄰像素而獲取一像素值差；以及

依據該像素值差是否小于一差異門檻值而決定是否連結該第一相鄰像素與該第二相鄰像素，從而將各所述第一像素區分至對應的所述相關區塊，其中所述區塊分布圖的該切割精細度依據該差異門檻值而定。

5.根據權利要求4所述的優化深度信息的方法，其特征在于，依據所述切割精細度將關聯于該待修復深度圖的該左圖像與該右圖像其中之一劃分成所述相關區塊的步驟還包括：

依據一尺寸門檻值來限定各所述相關區塊的區塊尺寸而獲取所述區塊分布圖，其中各所述相關區塊的區塊尺寸不大于該尺寸門檻值，而所述區塊分布圖的該切割精細度依據該尺寸門檻值而定。

6.根據權利要求1所述的優化深度信息的方法，其特征在于，利用所述區塊分布圖來分別對各所述深度平面中的所述破洞產生所述優化深度值，并將所述優化深度值填補至各所述深度平面而獲取結合各所述深度平面的該優化深度圖的步驟包括：

將各所述深度平面的至少一相似物距區域依據各自對應的所述區塊分布圖而分割成多個第一深度區塊，并依據各所述第一深度區塊中的所述破洞的數目而獲取一第一有效密度值；以及

依據該第一有效密度值而決定是否計算各所述第一深度區塊的一第一深度統計值，并將該第一深度統計值作為所述優化深度值之一而填補部分的所述破洞。

7.根據權利要求6所述的優化深度信息的方法，其特征在于，依據該第一有效密度值而決定是否計算各所述第一深度區塊的該第一深度統計值的步驟包括：

依據各所述第一深度區塊的該第一有效密度值而獲取各所述第一深度區塊的一處理順序，以及依據該處理順序是否為一高優先順序而決定是否填補各所述第一深度區塊中的所述破洞。

8.根據權利要求1所述的優化深度信息的方法，其特征在于，在獲取該待修復深度圖的步驟之前，還包括：

對該左圖像與該右圖像進行一三維深度估測，以獲取關聯于該左圖像與該右圖像之一且對應至多個第一像素的一主深度圖，其中該主深度圖記錄分別對應至所述第一像素的該些主深度值；以及

利用所述區塊分布圖來判斷所述第一像素所對應的所述主深度值是否符合一可信賴條件，并將所述主深度值中不符合該可信賴條件的多個無效深度值從該主深度圖中移除，從而產生包括所述破洞的該待修復深度圖。